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HN1015A蓄電池充放電,活化測試儀 單體蓄電池放電測試儀 HN1016B 直流接地故障查找儀試驗方法
本儀器是針對整組蓄電池系列測試,不同規(guī)格型號對整組要求不同,具體根據(jù)儀表為準。單體電池電壓為2V\12V(根據(jù)具體指標定)的鉛酸蓄電池組進行測試的儀器。
測試步驟介紹半導體生產流程由晶圓制造,晶圓測試,芯片封裝和封裝后測試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測試環(huán)節(jié)的相關知識經常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內容,主要集中在WAT,CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對Wafer劃片槽(ScribeLine)測試鍵(TestKey)的測試,通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù),測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上,由WATRecipe自動控制測試位置和內容,測完某條TestKey后,ProbeCard會自動移到下一條TestKey,直到整片Wafer測試完成。
1.4.1在線監(jiān)測測試:
步:連接單體電壓采集器。(詳見章節(jié)2.4)
步:把整組電壓測試線連接到電池組兩端。(詳見章節(jié)2.5)
步:插入電源,主機開機。
第四步:進入在線監(jiān)測參數(shù)設置。(詳見章節(jié)3.1)
第五步:“確定”開始測試。
1.4.2 放電測試:同時,還需要解決相關的測試效率選優(yōu)算法和評價體系等問題。系統(tǒng)建模問題并行測試系統(tǒng)具有復雜的網(wǎng)狀特征,系統(tǒng)建模除了要描述包含哪些UUT、哪些測試任務、測試任務和儀器之間的耦合關系等之外,更重要的是要描述清楚并行測試任務之間的控制相關性和時序相關性。信號鏈路動態(tài)建立問題再好的車也得跑在平坦舒適的路上方能彰顯其性能的和不凡。并行測試不但要提供“路”,而且需要提供“多車道路”,更需要根據(jù)車型提供“個性化道路”。
步:連接單體電壓采集器(詳見章節(jié)2.4)。純負載不具此功能
步:放電開關,撥到分的位置(防止放電電纜反接,損壞儀器;反接告警提示)。
步:把放電線一端連到主機,另一端連到電池組兩端。(注意紅正黑負)。接反會告警提示。(詳見章節(jié)2.5)
第四步:把整組電壓測試線連接到電池組2端。
第五步:插入電源(電池組供電不用接AC220V電源,直接將放電開關撥到合的位置),主機開機。
第六步:進入放電參數(shù)設置。(詳見章節(jié)3.2)
第七步:將放電開關撥到合的位置(電池組供電省略此步驟)。
第八步:“確定”開始測試。
1.4.3容量快測(選配功能)因為使用了以低電阻、高速開關為特點的SiC和GaN等新型功率元件的PWM變頻器和AC/DC轉換器、DC/DC轉換器,其應用系統(tǒng)的普及正在不斷加速。構成這些系統(tǒng)的變頻器轉換器馬達等裝置的開發(fā)與測試則需要相較以前有著更高精度、更寬頻帶、更高穩(wěn)定性的能夠迅速測量損耗和效率的測量系統(tǒng)。各裝置的損耗和效率與裝置的輸入功率和輸出功率同時測量,利用它們的差和比計算。功率通過電壓和電流測量,機械輸出通過扭矩和轉速測量并計算。
步:連接單體電壓采集器(詳見章節(jié)2.4)。
步:放電開關,撥到分的位置(防止放電電纜反接,損壞儀器;反接告警提示)。
步:把放電線一端連到主機,另一端連到電池組兩端。(注意紅正黑負)。接反會告警提示。(詳見章節(jié)2.5)
第四步:把整組電壓測試線連接到電池組2端。
第五步:插入電源,主機開機。
第六步:進入容量快測參數(shù)設置。(詳見章節(jié)3.3)
第七步:將放電開關撥到合的位置。
第八步:“確定”開始測試。精度誤差可以稱為靈敏度錯誤。分辨率就是測得值的表示或顯示精細度。即使系統(tǒng)的分辨率為12位,也并不意味著它能測量精度為12位的值。,假設一塊萬用表可以用6位數(shù)來表示測量值。則該萬用表的分辨率為6位,如果后一位或兩位數(shù)似乎在測量值之間擺動,則分辨率會受到影響,測量精度同樣會受到影響。系統(tǒng)或信號鏈里的誤差會一直累積,使原始測量值失真。了解系統(tǒng)的動態(tài)范圍也很關鍵,以便衡量要設計的信號鏈的精度和分辨率。單體蓄電池放電測試儀 HN1016B 直流接地故障查找儀試驗方法