HN300電纜故障測(cè)試儀 電纜故障綜合測(cè)試儀 HN300系列 電纜故障識(shí)別儀價(jià)格實(shí)惠

 用于35kV及以下不同等級(jí)、不同截面、不同介質(zhì)及材質(zhì)的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡(luò)性故障。可配合高壓設(shè)備實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測(cè)試的低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法。 全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實(shí)現(xiàn)人機(jī)互動(dòng)。另外，由于相位測(cè)量電路通常采用過零檢測(cè)法，而交流電零點(diǎn)附近不可避免會(huì)有一定的毛刺，相位測(cè)量精度較低。在低功率因數(shù)下的功率測(cè)量準(zhǔn)確度亦較低。模擬乘法器法采用模擬乘法器獲取電壓、電流的乘積，得到瞬時(shí)功率，再用固定的時(shí)間對(duì)瞬時(shí)功率進(jìn)行積分，即可獲得瞬時(shí)功率的平均值，也就是有功功率。該方法適用任意波形電量的有功功率測(cè)量。功率儀的測(cè)量基本原理以功率儀PA8000為例，測(cè)量的基本原理如下：功率儀采樣電流和電壓信號(hào)功率儀的每個(gè)測(cè)量通道，對(duì)輸入的電流或者電壓信號(hào)進(jìn)行采樣，對(duì)采樣得到的數(shù)據(jù)按照特定公式計(jì)算得到結(jié)果。

技術(shù)參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈沖法、沖擊閃絡(luò)法、速度測(cè)量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈沖寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設(shè)置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設(shè)定

5. 沖擊高壓：35kV及以下

6. 測(cè)試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測(cè)試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級(jí)10.4寸彩色觸摸液晶屏

數(shù)字處理部分包括數(shù)字上/下變頻，其NCO也可跨IC立編程。PeterDelos的文章《寬帶射頻接收器架構(gòu)的選項(xiàng)》對(duì)數(shù)字下變頻進(jìn)行了進(jìn)一步的描述。接下來，我們將展示一種方法，可以用于在多個(gè)上強(qiáng)制雜散去相關(guān)。，通過編程板載鎖相環(huán)(PLL)偏移LO的頻率。然后，設(shè)置NCO的頻率，以數(shù)字化補(bǔ)償施加的LO頻率偏移。通過調(diào)整IC內(nèi)部的兩個(gè)特性，進(jìn)出的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)不必在頻率上偏移，整個(gè)頻率轉(zhuǎn)換和寄生去相關(guān)功能都內(nèi)置在IC中。

 四、工作原理

       本產(chǎn)品采用的是時(shí)域反射（TDR）原理，即對(duì)電纜發(fā)射一電脈沖，電脈沖將在電纜中勻速傳輸，當(dāng)遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點(diǎn)），電脈沖將產(chǎn)生反射。測(cè)距主機(jī)將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時(shí)域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關(guān)按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機(jī)2分鐘無任何操作時(shí)，屏幕將變暗進(jìn)入屏保節(jié)能狀態(tài)。紅外熱像儀可簡(jiǎn)便、**、實(shí)時(shí)、直觀地檢測(cè)和診斷設(shè)備故障，確保設(shè)備**和長期運(yùn)行。外部接線板發(fā)熱是電流互感器常見的熱故障。這種情況下，由于銹蝕、壓接不緊密等原因?qū)е码娏骰ジ衅饕淮卫@組外部接線板的接觸電阻升高。熱像儀應(yīng)用時(shí)表現(xiàn)出來的具體熱特征是：電流互感器上部接線板與外部導(dǎo)線的連接部位溫度明顯升高。變比連接板過熱也是電流互感器常見的一種典型故障。這種情況下，導(dǎo)致異常發(fā)熱的主要原因是由于接線板上的零部件發(fā)生銹蝕、松脫等現(xiàn)象從而導(dǎo)致電阻升高。

② 充電端口：用于連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時(shí)針旋動(dòng)中值向上走動(dòng)；逆時(shí)針旋動(dòng)中值向下走動(dòng)。（需采樣刷新才有變化）大；逆時(shí)針旋動(dòng)幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用于連接采樣線。另外，TEMCELL的高度也不夠，這也是TEMCELL不能進(jìn)行定量測(cè)試的一個(gè)原因。根據(jù)天線輻射的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試，對(duì)于EGSM/DCS頻段的天線，被測(cè)與天線的距離至少大于1米；我們可以看幾乎所有的2D暗室都是遠(yuǎn)大于這個(gè)距離。而TEMCELL比這個(gè)距離小一些，所以這也是TEMCELL相對(duì)于微波暗室來講測(cè)量不準(zhǔn)的一個(gè)原因。所以，TEMCELL只能對(duì)天線做定性的而不能做定量的。在實(shí)驗(yàn)室可以定性幾種樣機(jī)的差異，比較其性能的優(yōu)劣，但不能作為準(zhǔn)確的標(biāo)準(zhǔn)值來衡量天線的性能，只能通過與其他的“金雞'(Goldensample)對(duì)比，大致來判斷天線的性能。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界面介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈沖”、“閃絡(luò)方法”和“速度測(cè)量”。儀器開機(jī)默認(rèn)“低壓脈沖”，根據(jù)測(cè)試需要，可選擇相應(yīng)的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個(gè)選項(xiàng)，分別為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測(cè)試距離選擇合適的脈寬，按對(duì)應(yīng)的子菜單鍵可以對(duì)脈沖寬度進(jìn)行選擇，儀器開機(jī)默認(rèn)0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項(xiàng)功能。注意：在高壓閃絡(luò)法測(cè)試中此項(xiàng)不做選擇。

測(cè)試原理地線漂移：利用電源不斷抬高DUT的GND，測(cè)試總線通訊正常時(shí)，DUT所允許的地線漂移。地線丟失：使DUT單掉地，測(cè)試1分鐘內(nèi)DUT是否仍然正常工作。電源丟失：使DUT單丟失電源，測(cè)試總線是否受到干擾，重接電源后DUT是否能恢復(fù)通訊。CAN線中斷：測(cè)試在CAN_H斷開1分鐘，重連后DUT是否能恢復(fù)通訊。CAN_L斷開1分鐘，重連后DUT是否能恢復(fù)通訊。CAN_H和CAN_L同時(shí)斷開1分鐘，重連后DUT是否能恢復(fù)通訊。