HN11C高壓開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試儀高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀 HN11C系列 高壓開(kāi)關(guān)操作電源 生產(chǎn)廠家
一、功能特點(diǎn) 

測(cè)試指標(biāo)：可測(cè)試國(guó)產(chǎn)（進(jìn)口）真空、六氟化硫、油高壓斷路器，負(fù)荷開(kāi)關(guān)、GIS接地刀閘開(kāi)關(guān)、接觸器、繼電器、空氣開(kāi)關(guān)等。合、分閘時(shí)間、同期、彈跳時(shí)間、次數(shù)、自動(dòng)重合閘、行程、速度、電流、動(dòng)作電壓等各項(xiàng)數(shù)據(jù)、波形。

抗擾通道：可抵御550KV變電所現(xiàn)場(chǎng)靜電干擾！EMI診斷在實(shí)驗(yàn)室使用普通的測(cè)試儀器即完成，帶有FFT功能的中示波器，普通的頻譜儀，近場(chǎng)，手藝好的工程師還可以自己制作性能良好的近場(chǎng)，對(duì)于很多較強(qiáng)的EMI輻射，某些回路過(guò)大的開(kāi)關(guān)電源，甚至只需要一根裸露的導(dǎo)線即可探測(cè)到空間中的擾信號(hào)。這種定性主要針對(duì)的是硬件設(shè)計(jì)人員，目的是要快捷簡(jiǎn)便，成本低廉，重復(fù)性好。圖2使用頻譜儀和近場(chǎng)進(jìn)行EMI診斷?EMI預(yù)兼容測(cè)試（PreCompliancEMI預(yù)兼容測(cè)試在產(chǎn)品原型和試產(chǎn)階段，一般要在產(chǎn)品級(jí)或系統(tǒng)級(jí)進(jìn)行預(yù)兼容（PreComplianc測(cè)試，預(yù)兼容并沒(méi)有一個(gè)明確的參考標(biāo)準(zhǔn)，就是盡量低成本地模擬兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)EMI狀況進(jìn)行較正式的摸底，避免在正式的兼容測(cè)試中失敗。

位移通道：1路位移信號(hào)采集，適配耐用的精密電阻線性位移、角位移傳感器。亦可適配用戶傳統(tǒng)自配的滑線電阻傳感器。

同步觸發(fā)：可響應(yīng)電壓、電流、傳感器、斷口變化多種同步觸發(fā)方式。具有無(wú)電位接點(diǎn)操作控制模塊，無(wú)彈跳接點(diǎn)，接點(diǎn)開(kāi)斷容量： 30A，250V（AC/DC）

操作界面：5.7″黑白液晶屏，菜單式操作，并在面板上增加了快捷設(shè)置按鍵。配備高精度激光傳感器，傳感器安裝迅速、快捷、簡(jiǎn)單；同時(shí)也可配置滑線電阻傳感器和角度傳感器；并配備齊全相關(guān)傳感器、斷路器的測(cè)試支架；發(fā)動(dòng)機(jī)爆震傳感器的用途是通過(guò)監(jiān)控發(fā)動(dòng)機(jī)振動(dòng)來(lái)提高發(fā)動(dòng)機(jī)效率和性能。發(fā)動(dòng)機(jī)控制單元(ECU)使用該數(shù)據(jù)調(diào)整燃油空氣比，以減少“發(fā)動(dòng)機(jī)發(fā)出碰撞聲”并更正發(fā)動(dòng)機(jī)正時(shí)。TI的TPIC811可用作此類發(fā)動(dòng)機(jī)爆震傳感器的信號(hào)調(diào)節(jié)器。新型解決方案有時(shí)會(huì)將該功能集成到發(fā)動(dòng)機(jī)ECU的一個(gè)MCU中，不過(guò)，這意味著可能更多地以遠(yuǎn)程方式完成該處理過(guò)程（由于微控制器較低的溫度等級(jí)），這可能會(huì)導(dǎo)致信號(hào)劣化?？赏ㄟ^(guò)查看來(lái)自爆震傳感器的信號(hào)的提取情況（與系統(tǒng)的噪聲相比）來(lái)驗(yàn)證TPIC811的性能。

速度定義：提供了常用的開(kāi)關(guān)速度定義庫(kù)和可編輯速度定義庫(kù)兩種模式可供用戶自行選擇。

錄波功能：12路普通金屬觸頭通斷、線圈電流；行程、時(shí)間波形。具有斷路器型號(hào)庫(kù)功能，測(cè)試時(shí)可直接調(diào)用數(shù)據(jù)庫(kù)斷路器型號(hào)，無(wú)需特別設(shè)置

U盤存儲(chǔ)：可將數(shù)據(jù)及波形文件快速存儲(chǔ)到U盤，直接用上位機(jī)軟件打開(kāi)。

在線幫助：儀器內(nèi)置豐富的接線、安裝、測(cè)試操作幫助。無(wú)說(shuō)明書(shū)就能簡(jiǎn)單使用。OTA測(cè)試可以將產(chǎn)品內(nèi)部輻射干擾、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、天線的因素、射頻芯片收發(fā)算法等因素考慮進(jìn)去，是非常接近產(chǎn)品實(shí)際使用場(chǎng)景的測(cè)試手段。我們以早的3GUESISOOTA測(cè)試為例來(lái)了解OTA測(cè)試所需的基本環(huán)境：吸波暗室，轉(zhuǎn)盤（控制UE旋轉(zhuǎn)）天線（在某一固置接收UE輻射信號(hào)）用于提供天線虛擬信號(hào)的無(wú)線測(cè)試平臺(tái)（如KeysightUXM系列，圖中未顯示）測(cè)量過(guò)程中將通過(guò)旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺(tái)來(lái)控制并測(cè)量UE天線在不同方向的輻射特性。