HNDL系列全自動大電流發(fā)生器測試系統(tǒng)大電流直流電源 母線槽溫升試驗(yàn)設(shè)備 JP柜溫升試驗(yàn)裝置 30年經(jīng)驗(yàn)

是青島華能遠(yuǎn)見有限公司自主研制開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用于母線槽、頻率50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負(fù)載速斷試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。則有效的保證了測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機(jī)測試單元包括：高精度毫秒計(jì)、真有效值電流表、電流傳感器（進(jìn)口件）、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控制器等部分。自動調(diào)壓輸出電流。靈敏度與準(zhǔn)確度測量輸出變化與標(biāo)準(zhǔn)值變化之間的關(guān)系稱為靈敏度。理想情況下這種關(guān)系呈現(xiàn)為線性，但在實(shí)際操作中所有測量均會存在某些瑕疵或不確定性。被測值與與標(biāo)準(zhǔn)值的一致性通常簡單地稱為“準(zhǔn)確度”，但這是一個(gè)略微模糊的術(shù)語。嚴(yán)格定義的準(zhǔn)確度通常包括重復(fù)性。重復(fù)性指在測量條件不變的情況下，儀器在重復(fù)測量時(shí)能夠達(dá)到相似測量結(jié)果的能力(見)。但是其可能包含也可能不包含濕滯、溫度依賴性、非線性和長期穩(wěn)定性。重復(fù)性本身通常是測量不確定性的次要來源，如果精度規(guī)范不包含其它不確定性，則其可能會造成對實(shí)際測量性能的錯(cuò)誤印象。

特點(diǎn)

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設(shè)備，全自動控制，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩(wěn)流系統(tǒng)，工控機(jī)可實(shí)現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù)，抗干擾能力強(qiáng)，輸出精度高，紋波系數(shù)小于0.2％，準(zhǔn)確度高于0.5%；。

4、 自動試驗(yàn)只需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測試電流，省去手動調(diào)壓，減小勞動強(qiáng)度，提高工作效率。運(yùn)行時(shí)間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 在自動駕駛行人橫穿緊急制動測試中，測試工程師會根據(jù)自動駕駛車輛行駛的速度，準(zhǔn)確的讓行人以一定速度橫穿測試道路，同時(shí)時(shí)刻關(guān)注并記錄車輛運(yùn)動過程中的速度、加速度、橫縱向相對距離、以及判斷觸發(fā)AEB時(shí)刻起到后剎停時(shí)自動駕駛車輛的加速度，剎停時(shí)相對于假人的相對距離等高精度數(shù)據(jù)是否滿足《重慶市自動駕駛道路測試準(zhǔn)入測試規(guī)范》中的測試要求。在整個(gè)測試過程中測試駕駛員不得踩踏制動踏板或轉(zhuǎn)動方向盤，且自動駕駛車輛不得與前方車輛及行人發(fā)生碰撞。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運(yùn)行時(shí)段可自行設(shè)定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào)，精度高于0.5級.電流電壓表顯示為真有效數(shù)值，精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于國標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護(hù)設(shè)置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時(shí)間。并可同步記錄鎖定動作時(shí)間。常開、常閉觸點(diǎn)自動判別。測時(shí)范圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.在耐壓測試前，因?yàn)檫M(jìn)行了接線的檢測，即使只花了很少的時(shí)間，還是增加了接觸時(shí)間，這是該方法的欠缺。監(jiān)測電壓外加部分的電壓耐壓測試儀所顯示的電壓，是發(fā)生端的電壓，并不是被測物電壓外加部分的電壓。所以如果接線正常，發(fā)生端電壓和電壓外加部分電壓應(yīng)該是相同的。如果斷線或接觸，電壓外加部的電壓會小于發(fā)生端的電壓，這時(shí)即可判斷為接線有異常。因?yàn)槟軌驒z測出耐壓測試中接線的異常，且對于生產(chǎn)線的接觸時(shí)間又沒什么影響，這一點(diǎn)是比較便利的。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器后面電流輸出端子與被測品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。面板上的常閉觸點(diǎn)要接到被測品的輔助常閉觸點(diǎn)上。

2、打開儀器側(cè)面空氣開關(guān)，等待幾秒進(jìn)入試驗(yàn)選擇界面如下圖：

電流輸出線與常閉觸點(diǎn)接入后，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點(diǎn)擊觸控屏升降按鈕來調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗(yàn)結(jié)束后，都要按下面板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進(jìn)入“自動試驗(yàn)”界面如下圖：

自動試驗(yàn)時(shí)，每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來設(shè)置輸出電流大小。做長時(shí)間運(yùn)行可自由設(shè)定運(yùn)行時(shí)間。如下圖：半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機(jī)臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

1.在連接儀器測試線前，應(yīng)先檢查各項(xiàng)調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時(shí)，電流輸出線一定要緊固。試驗(yàn)時(shí)間≤300s。接收氣室用幾微米厚的金屬薄膜分隔為兩半部，室內(nèi)封有濃度較大的被測組分氣體，在吸收波長范圍內(nèi)能將射入的紅外線吸收，從而使脈動的光通量變?yōu)闇囟鹊闹芷谧兓?，再可根?jù)氣態(tài)方程使溫度的變化轉(zhuǎn)換為壓力的變化，然后用電容式傳感器來檢測，經(jīng)過放大處理后指示出被測氣體濃度。除用電容式傳感器外，也可用直接檢測紅外線的量子式紅外線傳感器，并采用紅外干涉濾光片進(jìn)行波長選擇和配以可調(diào)激光器作光源，形成一種嶄新的全固體式紅外氣體檢測儀。