HNDL系列全自動大電流發(fā)生器測試系統(tǒng)溫升大電流發(fā)生器 溫升試驗(yàn)設(shè)備 配電箱溫升試驗(yàn)裝置 定制定做

是青島華能遠(yuǎn)見有限公司自主研制開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用于母線槽、頻率50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負(fù)載速斷試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。則有效的保證了測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機(jī)測試單元包括：高精度毫秒計(jì)、真有效值電流表、電流傳感器（進(jìn)口件）、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控制器等部分。自動調(diào)壓輸出電流。一電動汽車感應(yīng)式無線充電原理感應(yīng)式無線充電技術(shù)是目前已經(jīng)被成功地應(yīng)用到一些電動汽車充電系統(tǒng)當(dāng)中，發(fā)射系統(tǒng)埋在地面以下，接收的線圈一般位于汽車底盤，發(fā)射線圈與接收線圈發(fā)生感應(yīng)耦合，相當(dāng)于一個可分離變壓器，通過線圈間的高頻電磁場對電能進(jìn)行無線傳輸，其基本結(jié)構(gòu)如所示。可以看到，來自于電網(wǎng)的工頻交流電經(jīng)過整流和逆變轉(zhuǎn)化為高頻交流電，這個頻率一般是幾十到幾百KHz，電流通過補(bǔ)償電路到達(dá)原邊發(fā)射線圈，并在線圈中產(chǎn)生高頻電磁場，電動汽車上的副邊接收線圈通過電磁場吸收來自原邊的電能，之后再經(jīng)過高頻整流、BMS電路等環(huán)節(jié)，終提供給負(fù)載電池充電。

特點(diǎn)

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設(shè)備，全自動控制，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩(wěn)流系統(tǒng)，工控機(jī)可實(shí)現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù)，抗干擾能力強(qiáng)，輸出精度高，紋波系數(shù)小于0.2％，準(zhǔn)確度高于0.5%；。

4、 自動試驗(yàn)只需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測試電流，省去手動調(diào)壓，減小勞動強(qiáng)度，提高工作效率。運(yùn)行時間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 實(shí)踐表明，諸如FLIRX6900sc的高性能的熱像儀比FLIRE40的經(jīng)濟(jì)型熱像儀的精度效果要好，我們?nèi)孕枰鲂┕ぷ鱽砀玫亟忉屵@一觀察結(jié)果。實(shí)驗(yàn)室測量值和±1?C或1%精度我們發(fā)現(xiàn)在觀察已知發(fā)射率和溫度的物體時，熱像儀實(shí)際產(chǎn)生的溫度測量值。此類物體一般指代為“黑體”。在引用已知發(fā)射率和溫度的物體的理論概念前，你可能聽說過這個術(shù)語。黑體的這一概念也用來指代一些實(shí)驗(yàn)室設(shè)備。.位于美國佛羅里達(dá)州尼斯維爾的FLIR溫度記錄校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運(yùn)行時段可自行設(shè)定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào)，精度高于0.5級.電流電壓表顯示為真有效數(shù)值，精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于國標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護(hù)設(shè)置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。并可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點(diǎn)自動判別。測時范圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.而對于支撐端到端傳輸?shù)幕A(chǔ)網(wǎng)絡(luò)而言，低延時（微秒級）、無損（lossless）則是重要的指標(biāo)。低延時網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)發(fā)延時主要產(chǎn)生在設(shè)備節(jié)點(diǎn)（這里忽略了光電傳輸延時和數(shù)據(jù)串行延時），設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)延時包括以下三部分：存儲轉(zhuǎn)發(fā)延時：芯片轉(zhuǎn)發(fā)線處理延遲，每個hop會產(chǎn)生1微秒左右的芯片處理延時（業(yè)界也有嘗試使用cut-through模式，單跳延遲可以降低到0.3微秒左右）；Buffer緩存延時：當(dāng)網(wǎng)絡(luò)擁塞時，報文會被緩存起來等待轉(zhuǎn)發(fā)。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器后面電流輸出端子與被測品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。面板上的常閉觸點(diǎn)要接到被測品的輔助常閉觸點(diǎn)上。

2、打開儀器側(cè)面空氣開關(guān)，等待幾秒進(jìn)入試驗(yàn)選擇界面如下圖：

電流輸出線與常閉觸點(diǎn)接入后，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點(diǎn)擊觸控屏升降按鈕來調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗(yàn)結(jié)束后，都要按下面板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進(jìn)入“自動試驗(yàn)”界面如下圖：

自動試驗(yàn)時，每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來設(shè)置輸出電流大小。做長時間運(yùn)行可自由設(shè)定運(yùn)行時間。如下圖：此方法運(yùn)行成本低、靈活便捷，通常用于裝備的前期開發(fā)過程中，偏重于對軟件算法的測試。然而由于逼真度低，與實(shí)際環(huán)境差異過大，對于正式裝備的性能測試僅具有參考作用，大多數(shù)場合無法作為終驗(yàn)證手段。種測試方法是半實(shí)物模擬測試，此方法是在前兩種方法有機(jī)結(jié)合的基礎(chǔ)上發(fā)展而來的。它利用數(shù)據(jù)采集或數(shù)學(xué)建模的方法組建數(shù)字化復(fù)雜電磁環(huán)境信息數(shù)據(jù)庫，根據(jù)實(shí)際測試場景需求，計(jì)算波形數(shù)據(jù)，基于復(fù)雜信號發(fā)生技術(shù)，通過波形發(fā)生的方式產(chǎn)生實(shí)際電磁信號，人為構(gòu)建高逼真度的復(fù)雜電磁環(huán)境，用于裝備性能測試。

1.在連接儀器測試線前，應(yīng)先檢查各項(xiàng)調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗(yàn)時間≤300s。工程師用四通道在線編程器P8-ISP對客戶樣機(jī)編程時，發(fā)現(xiàn)現(xiàn)象確如客戶所說的一致。憑著豐富的編程調(diào)試經(jīng)驗(yàn)，我們的工程師將問題為芯片被誤操作，導(dǎo)致被加密，查閱芯片技術(shù)手冊后將根源鎖定到2個寄存器上。為了解決這個問題，工程師將P8-ISP的時序代碼作相應(yīng)的修改，在執(zhí)行擦除、編程操作之前，將2個寄存器的置位順序做了調(diào)整，使MCU處于解密狀態(tài)，確保芯片在編程過程中不會被誤加密。采用更新好時序的P8-ISP來燒寫MCU后，客戶的汽車電子標(biāo)簽(OBU)燒片效率和良品率都有了明顯提高，百萬套OBU量產(chǎn)也不再是難事。