HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱多回路溫升試驗(yàn)裝置HNDL 交流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。測量工作使用的儀器設(shè)備很多，每種儀器設(shè)備在使用時(shí)都有許多不利因素影響其測量值的準(zhǔn)確性。本文僅對兩種常規(guī)儀器（洛氏硬度計(jì)、布氏硬度計(jì)）在使用時(shí)，容易被檢測人員忽略的一些較常見的影響因素進(jìn)行針對性，并提出了解決辦法。粗糙度的影響及解決辦法我們知道，用臺(tái)式硬度計(jì)測量布氏硬度時(shí)，硬度計(jì)的壓頭是鋼球壓頭，在一定的壓力下被測表面而得到一個(gè)圓形壓痕，再用讀數(shù)顯微鏡測量圓形壓痕的直徑，然后在布氏硬度表中查找相應(yīng)的硬度值，即被測試樣的硬度值，而被測表面的粗糙度直接影響硬度測量值的準(zhǔn)確性。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

LTE測試技術(shù)雖進(jìn)步顯著未來仍面臨三重關(guān)互操作測試任務(wù)仍艱巨三大運(yùn)營商3G網(wǎng)絡(luò)已完成大規(guī)模建設(shè)，新部署的LTE網(wǎng)絡(luò)在較長時(shí)期內(nèi)難以達(dá)到2G/3G網(wǎng)絡(luò)的覆蓋廣度和深度，且VoLTE技術(shù)目前還不夠成熟，因此LTE與2G/3G網(wǎng)絡(luò)不能孤立運(yùn)行，必須通過互操作來保證業(yè)務(wù)在網(wǎng)絡(luò)之間的連續(xù)性。LTE與2G/3G的互操作包括語音互操作和數(shù)據(jù)互操作。以移動(dòng)為例，對于數(shù)據(jù)互操作，不僅要求TD-LTE與TD-SCDMA之間實(shí)現(xiàn)空閑態(tài)的雙向重選、連接態(tài)的雙向重定向，還要求TD-LTE與GSM網(wǎng)間實(shí)現(xiàn)互操作以保證業(yè)務(wù)連續(xù)性，復(fù)雜的切換場景對測試工作而言是艱巨的挑戰(zhàn)。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱多回路溫升試驗(yàn)裝置HNDL 交流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)因?yàn)樵诖蠊β实膽?yīng)用中，需要配置散熱裝置，所以這將增大解決方案的尺寸。充電泵通過采用“快速”電容器(作為存儲(chǔ)組件)來提高/降低直流電壓或改變其極性，同時(shí)采用內(nèi)部開關(guān)來連接電容器，使其能夠進(jìn)行所需的DC/DC轉(zhuǎn)換。一般而言，充電泵要比感應(yīng)式轉(zhuǎn)換開關(guān)的成本低，而且不會(huì)產(chǎn)生電磁干擾。充電泵的輸出紋波通常比感應(yīng)式轉(zhuǎn)換開關(guān)大，充電泵在輸出功率方面也受到限制。同時(shí)，其瞬態(tài)響應(yīng)受到快速電容器充電速率的限制。另外，在輸入電壓和輸出電壓相當(dāng)?shù)膽?yīng)用中，充電泵的效率通常相當(dāng)?shù)汀?img alt="配電箱多回路溫升試驗(yàn)裝置HNDL 交流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)" src="https://y1.yzimgs.com/uploads//20210917-08565220.jpg">