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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:三回路配電箱溫升測試儀HNDL 母線槽溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗及溫升試驗。三回路配電箱溫升測試儀HNDL 母線槽溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) 三回路配電箱溫升測試儀HNDL 母線槽溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修 

三回路配電箱溫升測試儀HNDL 母線槽溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)柜進行試驗的要求。整流電路測試是教育課程及相關(guān)電子行業(yè)不可缺少的環(huán)節(jié)。以下波形由非隔離信號源產(chǎn)生。當(dāng)使用非隔離信號源時,D1二極管的每一端分別與信號源和示波器的相應(yīng)地線連接。這種方式會出現(xiàn)等電位短路,因此不能顯示負(fù)半周整流波形。以下波形由隔離通道信號源產(chǎn)生。隔離信號源的輸出信號地線不與示波器共同接地,因此可以模擬整流波形輸出。只有隔離的信號源才能顯示橋式整流電路的正確波形。為了實現(xiàn)上述實驗?zāi)繕?biāo),一些非隔離信號源的用戶傾向于斷開電源線的接地,從而導(dǎo)致儀器浮地。

三回路配電箱溫升測試儀HNDL 母線槽溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時間:大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù):三相  多路

電源完整性(PI)是電子行業(yè)中廣泛使用的一個術(shù)語,可系統(tǒng)內(nèi)部電源從源端向負(fù)載轉(zhuǎn)換和傳輸?shù)男?。隨著數(shù)字信號速率的不斷提升,特別是提升到10Gbps以上數(shù)量級后,電源完整性的測量成為關(guān)鍵測試項目之一。測量內(nèi)容PARD—周期和隨機偏差,描述了在其他所有參數(shù)均為常數(shù)時直流輸出與直流平均值的偏差,用來衡量直流輸出經(jīng)過電壓調(diào)整和濾波電路之后所殘留的多余的交流和噪聲分量。負(fù)載響應(yīng)—指一個靜態(tài)或瞬態(tài)負(fù)載,根據(jù)預(yù)先確定的負(fù)載可以衡量電源維持在輸出電壓范圍內(nèi)的能力。三回路配電箱溫升測試儀HNDL 母線槽溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

三回路配電箱溫升測試儀HNDL 母線槽溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修磁耦器件可提供5000Vrms/min及6000V/10sec的電壓隔離保護,多種型號的磁耦帶有±15KV的ESD保護。長壽命。采用芯片級變壓器技術(shù)傳輸信號,消除光耦傳輸時的器件損耗。器件內(nèi)部基本不存在損耗,正常工作條件下至少達到50年工作壽命。低功耗。磁耦基于芯片級變壓器傳輸原理,信號傳輸時幾乎不存在能量損耗,因此能以極低的功耗實現(xiàn)高度的數(shù)據(jù)隔離。相同速率下,其功耗僅為光耦的1/10~1/6。電源隔離信號通道做隔離后,建議電源通道也做隔離,可直接采用帶隔離的DC-DC隔離模塊實現(xiàn),如下圖所示。三回路配電箱溫升測試儀HNDL 母線槽溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修


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