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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP柜溫升試驗裝置HNDL 溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗及溫升試驗。JP柜溫升試驗裝置HNDL 溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) JP柜溫升試驗裝置HNDL 溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗 

JP柜溫升試驗裝置HNDL 溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)柜進行試驗的要求。所以,對于電力設(shè)備進行檢測才可以確保電力系統(tǒng)能夠平穩(wěn)的運行。冶金行業(yè)電氣設(shè)備狀態(tài)檢測技術(shù)的運用紅外檢測技術(shù)表面溫度判斷法此方法大都針對那些暴露于設(shè)備以外的觸頭與接頭等。實施較為的測量,以獲得溫度的點所在。經(jīng)過對電氣設(shè)施的表面溫度進行測量,經(jīng)過對比相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn),同時融合具體的電力設(shè)施的溫度負(fù)荷率與其所能承載機械應(yīng)力的多少,挖掘電氣設(shè)施的熱缺陷。同相比較判別法同相比較法所代表的是測量數(shù)據(jù)與之前所進行的測試及初的數(shù)據(jù)實施,后獲得測量結(jié)果的形式。

JP柜溫升試驗裝置HNDL 溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時間:大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù):三相  多路

MOSI-主設(shè)備數(shù)據(jù)輸出,從設(shè)備數(shù)據(jù)輸入;MISO–主設(shè)備數(shù)據(jù)輸入,從設(shè)備數(shù)據(jù)輸出;SCLK–時鐘信號,由主設(shè)備產(chǎn)生;SS–從設(shè)備使能信號,有主設(shè)備控制;SPI標(biāo)準(zhǔn)通訊接口SPI通訊接口的優(yōu)點是傳輸數(shù)據(jù)快,能達到幾兆到幾十兆,并且沒有系統(tǒng)開銷。SPI總線的缺點也比較明顯,主要是沒有的流控制,也沒有應(yīng)答機制確認(rèn)是否接收到數(shù)據(jù)。單線SPI接口還有一種另類的SPI通訊接口方式。JP柜溫升試驗裝置HNDL 溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP柜溫升試驗裝置HNDL 溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗光纖接續(xù)光纖接續(xù)。光纖接續(xù)應(yīng)遵循的原則是:芯數(shù)相等時,要同束管內(nèi)的對應(yīng)色光纖對接,芯數(shù)不同時,按順序先接芯數(shù)大的,再接芯數(shù)小的。光纖接續(xù)的方法有:熔接、活動連接、機械連接三種。在工程中大都采用熔接法。采用這種熔接方法的接點損耗小,反射損耗大,可靠性高。光纖接續(xù)的過程和步驟:開剝光纜,并將光纜固定到接續(xù)盒內(nèi)。注意不要傷到束管,開剝長度取1m左右,用衛(wèi)生紙將油膏擦拭干凈,將光纜穿入接續(xù)盒,固定鋼絲時一定要壓緊,不能有松動。JP柜溫升試驗裝置HNDL 溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗


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