HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) JP柜多回路溫升試驗(yàn)裝置HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 定制定做 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。使用組合透鏡系統(tǒng)對(duì)物體成像，實(shí)現(xiàn)加電時(shí)液晶透鏡區(qū)域清晰，具有大視場(chǎng)、局部高分辨率的效果。本文通過實(shí)驗(yàn)測(cè)量模組光圈與液晶透鏡匹配、液晶透鏡位置等對(duì)于成像質(zhì)量的影響。研究方向：液晶透鏡成像系統(tǒng)測(cè)試目的：展示成像系統(tǒng)對(duì)于局部區(qū)域的清晰成像效果，測(cè)量不同位置、不同光圈下成像系統(tǒng)的MTF，其對(duì)于成像質(zhì)量的影響。測(cè)試設(shè)備:相機(jī)、鏡頭、函數(shù)發(fā)生器、功率放大器ATA-24組合透鏡系統(tǒng)放大器型號(hào):AigtekATA-242實(shí)驗(yàn)過程：1.實(shí)驗(yàn)室制備液晶透鏡，并通過干涉法獲取波前信息，得到zernike系數(shù)，得到液晶透鏡的性能參數(shù)，以選擇合適的驅(qū)動(dòng)電壓；組裝成像系統(tǒng)，對(duì)不同區(qū)域的物體進(jìn)行成像實(shí)驗(yàn)；使用ISO12233板對(duì)成像系統(tǒng)進(jìn)行對(duì)焦測(cè)試，測(cè)試不同光圈、不同液晶透鏡位置的MTF值。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

LabVIEW提供了一門編程語言所擁有的語能，只是它以圖形的方式提供。LabVIEW基本由一個(gè)個(gè)VI文件組成。每個(gè)VI由前面板和程序框圖組成?？梢詮膬蓚€(gè)角度來理解VI文件：從用戶交互來說，前面板負(fù)責(zé)設(shè)計(jì)用戶交互界面，類似UI設(shè)計(jì)工具，一般包括用戶操作控件和輸出結(jié)果控件，像文本框、按鈕、波形顯示控件等；而程序框圖負(fù)責(zé)將用戶的操作經(jīng)過一系列的處理，并終輸出結(jié)果，顯示在前面板上。從功能模塊來說，每個(gè)VI文件類似于C語言中的一個(gè)函數(shù)，前面板用來設(shè)計(jì)函數(shù)的參數(shù)(輸入)和返回值(輸出)，程序框圖類似函數(shù)體，實(shí)現(xiàn)具體邏輯。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP柜多回路溫升試驗(yàn)裝置HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 定制定做本文講述運(yùn)放的參數(shù)和選擇方面的知識(shí)，希望對(duì)有需要的讀者有幫助。偏置電壓和輸入偏置電流在精密電路設(shè)計(jì)中，偏置電壓是一個(gè)關(guān)鍵因素。對(duì)于那些經(jīng)常被忽視的參數(shù)，諸如隨溫度而變化的偏置電壓漂移和電壓噪聲等，也必須測(cè)定。的放大器要求偏置電壓的漂移小于200μV和輸入電壓噪聲低于6nV/√Hz。隨溫度變化的偏置電壓漂移要求小于1μV/℃。低偏置電壓的指標(biāo)在高增益電路設(shè)計(jì)中很重要，因?yàn)槠秒妷航?jīng)過放大可能引起大電壓輸出，并會(huì)占據(jù)輸出擺幅的一大部分。