HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱多回路溫升測(cè)試儀HNDL 斷路器溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。測(cè)試目的就是檢查DUT的CAN_H與CAN_L的隱性/顯性輸出電壓是否遵守ISO11898-2的定義。ISO11898-2輸出電壓標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試原理負(fù)載條件下，選擇被測(cè)DUT的適應(yīng)條件，如所示，Rtest為網(wǎng)絡(luò)負(fù)載電阻，正常為60Ω，高負(fù)載時(shí)為45Ω。測(cè)量和差分電壓等級(jí)和CANLCANH線電壓：VCAN_H，VCAN_L，然后計(jì)算差分電壓Vdiff和共模電壓VCM。其中Vdiff和VCM的計(jì)算方法如下：如果測(cè)試結(jié)果符合表1所示，則通過(guò)測(cè)試。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

常用的工業(yè)紅外熱像儀，其工作波段通常在8-14μm的長(zhǎng)波波段，溫度范圍一般在-20-600℃以內(nèi)。紅外熱像儀是一種新型的光電探測(cè)設(shè)備，可將被測(cè)目標(biāo)表面的熱信息瞬間可視化，快速故障，并且在專業(yè)的軟件的幫助下，可進(jìn)行，完成空調(diào)設(shè)備的供電設(shè)備、壓縮機(jī)、管道、出風(fēng)口等檢測(cè)工作，保證空調(diào)能夠，持續(xù)的運(yùn)行。熱像儀由兩個(gè)基本部分組成：光學(xué)器件和探測(cè)器。光學(xué)器件將物體發(fā)出的紅外輻射聚集到探測(cè)器上，探測(cè)器把入射的輻射轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，進(jìn)而被處理成可見圖像，即熱圖。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱多回路溫升測(cè)試儀HNDL 斷路器溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)LED研發(fā)一LED光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱利用熱像儀，工程師可以根據(jù)得到的光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱紅外熱圖，出其芯片在工作時(shí)的溫度，以及溫度的分布情況，在此基礎(chǔ)，達(dá)到提高LED產(chǎn)品壽命的目的。二LED模塊驅(qū)動(dòng)電路在LED產(chǎn)品研發(fā)中，需要工程師進(jìn)行一部分驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)，整流器電路模塊。利用紅外熱像儀，工程師可以迅速而便捷地發(fā)現(xiàn)電路上溫度異常之處，便于完善電路設(shè)計(jì)。三光衰試驗(yàn)LED產(chǎn)品的光衰就是光在傳輸中的信號(hào)減弱，而現(xiàn)階段的LED大廠們做出的LED產(chǎn)品光衰程度都不相同，大功率LED同樣存在光衰，這和溫度有著直接的關(guān)系，主要是由晶片、熒光粉和封裝技術(shù)決定的。