HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路配電箱溫升試驗(yàn)裝置HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。定時(shí)采集和狀態(tài)采集主要數(shù)字采集技術(shù)有兩種。種技術(shù)是定時(shí)采集，其中MSO以MSO采樣率確定的距離相等的時(shí)間對(duì)數(shù)字信號(hào)采樣。在每個(gè)樣點(diǎn)上，MSO存儲(chǔ)信號(hào)的邏輯狀態(tài)，創(chuàng)建信號(hào)的時(shí)序圖。種數(shù)字采集技術(shù)是狀態(tài)采集。狀態(tài)采集規(guī)定了數(shù)字信號(hào)邏輯狀態(tài)有效穩(wěn)定的時(shí)間，這在同步和時(shí)鐘輸入數(shù)字電路中十分常見(jiàn)。時(shí)鐘信號(hào)規(guī)定了信號(hào)狀態(tài)有效的時(shí)間。，對(duì)采用上升沿時(shí)鐘的D觸發(fā)裝置來(lái)說(shuō)，輸入信號(hào)穩(wěn)定時(shí)間在時(shí)鐘上升沿周圍。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

由于近場(chǎng)的靈敏度較低，因此在使用時(shí)要與前置放大器配套使用。用電流卡鉗檢測(cè)共模電流設(shè)備產(chǎn)生輻射的主要原因之一是電纜上有共模電流。因此當(dāng)設(shè)備或系統(tǒng)有超標(biāo)發(fā)射時(shí)，應(yīng)該懷疑的就是設(shè)備上外拖的電纜。這些電纜包括電源線電纜和設(shè)備之間的互連電纜。泰仕將電流卡在電纜上，這時(shí)由于同時(shí)卡住了信號(hào)線和回流線，因此差模電流不會(huì)感應(yīng)出電壓，儀器上讀出的電壓僅代表共模電流。測(cè)量共模電流時(shí)，在室中進(jìn)行。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

三回路配電箱溫升試驗(yàn)裝置HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)由Eq.1可以看出，試件表面的溫度響應(yīng)與試件厚度L有關(guān)。當(dāng)脈沖線熱源激勵(lì)在薄板上時(shí)，由于盲孔缺陷處的L值減小，盲孔缺陷處表面溫度的幅值會(huì)增大，且根據(jù)matlab模擬得出結(jié)論，溫度的衰減也會(huì)慢于正常區(qū)域。進(jìn)行Abaqus模擬后，得出結(jié)論：當(dāng)線熱源掃描至缺陷位置時(shí)，在缺陷處溫度突然升高，高于無(wú)缺陷處的位置；當(dāng)線熱源掃描過(guò)缺陷后，在缺陷處的熱圖像上發(fā)生明顯高溫處的溫度拖拽現(xiàn)象。針對(duì)在粗掃檢測(cè)階段發(fā)現(xiàn)的排除噪音后溫度疑似缺陷的微區(qū)域，在細(xì)掃描階段的檢測(cè)原理中，在該微區(qū)域內(nèi)進(jìn)行提高功率的快速細(xì)掃描，將快速掃描的線激光近似看作為面激光脈沖加熱。