HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) JP柜溫升試驗裝置HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)柜進行試驗的要求。CSP(ChipScalePACkage)：芯片級封裝，該方式相比BGA同等空間下可以將存儲容量提升三倍，是由日本三菱公司提出來的。DIP(DualIn-linePACkage)：雙列直插式封裝，插裝型封裝之一，指采用雙列直插形式封裝的集成電路芯片，體積比較大。MCM(MultiChipModel)：多芯片模塊封裝，可根據(jù)基板材料分為MCM-L，MCM-C和MCM-D三大類。QFP(QuadFlatPackage)：四側(cè)引腳扁平封裝，表面貼裝型封裝之一，引腳通常在100以上，適合高頻應(yīng)用，基材方面有陶瓷、金屬和塑料三種。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關(guān)柜及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

磁耦器件可提供5000Vrms/min及6000V/10sec的電壓隔離保護，多種型號的磁耦帶有±15KV的ESD保護。長壽命。采用芯片級變壓器技術(shù)傳輸信號，消除光耦傳輸時的器件損耗。器件內(nèi)部基本不存在損耗，正常工作條件下至少達到50年工作壽命。低功耗。磁耦基于芯片級變壓器傳輸原理，信號傳輸時幾乎不存在能量損耗，因此能以極低的功耗實現(xiàn)高度的數(shù)據(jù)隔離。相同速率下，其功耗僅為光耦的1/10~1/6。電源隔離信號通道做隔離后，建議電源通道也做隔離，可直接采用帶隔離的DC-DC隔離模塊實現(xiàn)，如下圖所示。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP柜溫升試驗裝置HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗征能ES31多功能四線接地電阻測試儀具有：4線法接地電阻、土壤電阻率、接地電壓測量。USB接口，數(shù)據(jù)上傳功能，報警功能，數(shù)據(jù)存儲3組，接地電阻量程：.Ω～3.KΩ，土壤電阻率量程：.ΩM～9999KΩM電壓量程：～1V、測試頻率：128Hz等。以下是測量變壓器接地電阻的一個實例。要測量的變壓器打開征能ES31多功能四線接地電阻測試儀儀表箱、工具袋準備接線按下圖接線。16年，全天科技將重點推介可編程直流電源在汽車電子測試領(lǐng)域、電動領(lǐng)域、自動測試領(lǐng)域以及科研機構(gòu)的應(yīng)用。全天科技可編程直流電源，內(nèi)置符合德國DIN4839標準的汽車電子引擎啟動測試波形，符合ISO1675-2標準的電壓中斷測試波形，為汽車電子行業(yè)提供解決方案。省去測試前繁瑣的編輯過程，同時，測試工程師可自行調(diào)整波形的設(shè)置參數(shù)，以便輸出不同測試等級下的波形。以下對內(nèi)置的4種測試波形做進一步說明。