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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:配電箱多回路溫升試驗設(shè)備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 定制定做

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗及溫升試驗。配電箱多回路溫升試驗設(shè)備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 定制定做
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) 配電箱多回路溫升試驗設(shè)備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 定制定做 

配電箱多回路溫升試驗設(shè)備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 定制定做
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)柜進(jìn)行試驗的要求。對于速度的渴求始終在增長,傳輸速率每隔幾年就會加倍。這一趨勢在諸如計算、SAS和SATA存儲方面的PCIe以及云計算中的千兆以太網(wǎng)等很多現(xiàn)代通信系統(tǒng)中很普遍。信息對通過傳輸介質(zhì)傳送數(shù)據(jù)提出了巨大挑戰(zhàn)。目前的傳輸介質(zhì)仍然依賴于銅線,數(shù)據(jù)鏈路中的信號速率可以達(dá)到大于25Gbps,并且端口吞吐量可以大于100Gbps。這些串行數(shù)據(jù)傳輸設(shè)計使用差分信號的方式,通過被稱為差分對的一對銅線來傳送數(shù)據(jù)。A線路和B線路內(nèi)的信號是等振幅、反相位高速脈沖。

配電箱多回路溫升試驗設(shè)備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 定制定做1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時間:大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù):三相  多路

拉曼散射是由光纖中非傳播的局域密度不均勻和成分不均勻所致,這種不均勻性是在拉纖階段,化硅由熔融態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)槟虘B(tài)的過程中形成的。激光脈沖在光纖中所走過的路程為:2L=vt。其中,t為入射光經(jīng)后向散射返回到光纖入射端所需時間;v為光在光纖中的傳播速度,v=c/n,c為真空中的光速,n為光纖的折射率;L為光纖某處到光纖入射端的距離。在t時刻測量距光纖入射端距離為L處局域的后向拉曼散射光,OTDR為分布式測量提供可靠的理論依據(jù)。配電箱多回路溫升試驗設(shè)備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 定制定做


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

配電箱多回路溫升試驗設(shè)備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 定制定做電池充放電過程中,電池容量越大,對應(yīng)電池開路電壓越高,電池內(nèi)阻越低;反之,當(dāng)容量下降,電池開路電壓隨之下降,內(nèi)阻隨之上升。電池容量、開路電壓與電池內(nèi)阻之間的關(guān)系可有下圖表示:測試實例IT6431(±15V,±1A,15W)的simulator功能,主要適用于模擬電池的電壓和容量,用IT6431來代替實體的電池,提供一個電壓信號,同時也需要可以驅(qū)動開機(jī)。這樣檢測到了電壓用適配器才能給充電。配電箱多回路溫升試驗設(shè)備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 定制定做


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