HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定制定做 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。冷卻壁是高爐重要的冷卻設(shè)備,保護(hù)高爐外殼不受內(nèi)部高溫而損壞，但冷卻壁可能會(huì)因?yàn)樗湎到y(tǒng)的堵塞失去冷卻作用，直接影響高爐爐體的使用壽命和生產(chǎn)**。福祿克紅外熱像儀可以檢測(cè)高爐冷卻壁的表面溫度分布狀況和水冷系統(tǒng)進(jìn)出水溫度，從而保障生產(chǎn)**和提高高爐體的使用壽命。什么是高爐冷卻壁？冷卻壁又稱扁水箱，材質(zhì)有鑄銅、鑄鋼、鑄鐵和鋼板焊接件等，以上材質(zhì)的冷卻板在國(guó)內(nèi)高爐均有使用。冷卻板厚度7～11mm，內(nèi)部鑄有無縫鋼管，冷卻水進(jìn)出管與爐殼焊接，1塊冷卻板的面積大約在2平方米左右。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

只要一個(gè)簡(jiǎn)單的內(nèi)部AND或者OR門控就足以避免使用外部組件，或是改善CPU性能。所有四種方法都支持用定制邏輯門控輸入和輸出信號(hào)。這類方法可借助時(shí)鐘門控輸入，以便使用計(jì)數(shù)器測(cè)量外部時(shí)鐘頻率。這四類邏輯模塊均支持的一個(gè)簡(jiǎn)單例子是一種調(diào)制UART輸出，使之用于IR通信的方法。在此例中，不僅有所示的內(nèi)部AND門控，還能夠?qū)碜詴r(shí)鐘或計(jì)數(shù)器的信號(hào)及UARTTX輸出路由到AND門控。簡(jiǎn)單調(diào)制的UART[pagebreak]AtmelXMEGA定制邏輯（XCL）AtmelXCL模塊內(nèi)置兩個(gè)LUT（查找表）模塊，配套兩個(gè)8位定時(shí)器/計(jì)數(shù)器模塊。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定制定做PCIe是一個(gè)在很多領(lǐng)域中都有著廣泛且重要應(yīng)用的接口，經(jīng)過十幾年的發(fā)展，PCIe接口已經(jīng)從1.發(fā)展到現(xiàn)在的3.，4.也已即將開始應(yīng)用。PCIe技術(shù)的物理層基于串行SerDes技術(shù)，因此用極少的物理連線就可以實(shí)現(xiàn)高速的數(shù)據(jù)傳輸。筆者在前段時(shí)間碰上了兩個(gè)PCIe接口失效的問題，個(gè)經(jīng)過是PCIe的ESD防護(hù)沒有做好導(dǎo)致通訊中斷，個(gè)是電源負(fù)載過大導(dǎo)致PCIe供電異常，F(xiàn)PGAPCIeIPCORE邏輯時(shí)鐘失鎖。