HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱多回路溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定制定做 

聯(lián)系人車(chē)高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿(mǎn)足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。對(duì)TBC試件進(jìn)行早期無(wú)損檢測(cè)具有重大意義。實(shí)驗(yàn)原理根據(jù)Grzegorz采用盲孔缺陷代替脫粘缺陷進(jìn)行的方法，在對(duì)TBC脫粘缺陷的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)中，通常在TBC試件的金屬基底上制作盲孔缺陷來(lái)模擬真實(shí)的脫粘缺陷。本文的線激光掃描熱成像方法分為粗掃描階段和細(xì)掃描階段。在粗掃描階段的檢測(cè)原理中，LLFST系統(tǒng)能夠在TBC試件表面匯聚出激光點(diǎn)，控制激光點(diǎn)以直線方向高速移動(dòng)。當(dāng)掃描速度足夠快且做線狀移動(dòng)時(shí)，激光點(diǎn)可以看作是線激光。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿(mǎn)足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

海量應(yīng)用磁傳感器無(wú)所不在、尺寸小巧且價(jià)格合理，可以輕松地和其他電路一同集成到芯片上，磁傳感器被人們廣泛用于應(yīng)用。(如需了解更多關(guān)于磁傳感器的信息，敬請(qǐng)閱讀白皮書(shū))。磁傳感技術(shù)在機(jī)器人和工廠自動(dòng)化中的優(yōu)勢(shì)尤其明顯。由于磁傳感器在零件位置和速度檢測(cè)方面具有更高的可靠性和精密度，它對(duì)運(yùn)動(dòng)控制而言至關(guān)重要。這一優(yōu)勢(shì)也讓機(jī)器手臂和其它部件能夠平穩(wěn)而準(zhǔn)確地移動(dòng)，從而確保高質(zhì)量和高**性的制造過(guò)程。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶(hù)具體需求配置）

配電箱多回路溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定制定做1×、10×這些名稱(chēng)的由來(lái)，是因?yàn)橹暗氖静ㄆ鳑](méi)有自動(dòng)識(shí)別衰減系數(shù)和自動(dòng)調(diào)節(jié)的能力，所以需要通過(guò)1×、10×這些名稱(chēng)來(lái)提醒測(cè)試者記得要把測(cè)量出來(lái)的結(jié)果乘以相應(yīng)的倍數(shù)。帶寬帶寬也同樣是一個(gè)必備的參數(shù)，指的是導(dǎo)致信號(hào)衰減-3dB情況下的頻率點(diǎn)。如下圖所示：如100MHz就有100MHz帶寬，500MHz就有500MHz帶寬。一些，還會(huì)有一個(gè)低頻的帶寬頻率，比如一些AC，不能傳遞DC信號(hào)，它在低頻段會(huì)有一個(gè)帶寬參數(shù)。