HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) 配電箱溫升試驗系統(tǒng)HNDL 直流溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)柜進(jìn)行試驗的要求。先測試出可控硅的峰值電壓，將電線正負(fù)極連接至K兩極，接地線接至室內(nèi)主接地上，逐漸升壓，測試其漏電流數(shù)值。進(jìn)行漏電測試后，逐漸升壓，觀測漏電流，當(dāng)數(shù)值超過其額定峰值電壓后，可控硅被擊穿，但采用此方法可能會破壞其PN結(jié)，并且只能測試其是否導(dǎo)通，而不能測試其導(dǎo)通是否良好，故不再采用此法進(jìn)行測試。搖表測試法用搖表對可控硅進(jìn)行測量，參照之前使用的漏電檢測法。為防止搖表法測試過程中擊穿或損壞可控硅，改變搖表操作方法，即要對搖表電壓和轉(zhuǎn)速進(jìn)行控制，兩筆端鏈接K極對其進(jìn)行測試。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

模擬偏置模擬偏置，也稱為DC偏置，是一個非常有用的功能，大多數(shù)示波器都具有該功能。如果運用得當(dāng)，可以避免小信號測試時垂直分辨率的丟失的問題。模擬偏置給輸入的信號加上一個直流偏置電壓，如果輸入信號超出了示波器ADC的測量范圍，加上偏置電壓之后，能將信號調(diào)節(jié)到示波器的范圍內(nèi)。超出范圍的信號通過模擬偏置將信號調(diào)節(jié)至示波器的測量范圍內(nèi)典型應(yīng)用：LVDS1）LVDS信號特征LVDS（低壓差分信號），如所示，兩組相位相反的差分信號，信號特征如下：峰峰值：350mV共模電壓偏置：1.2V高壓：1.2V+0.5*350mV=1.375V低壓：1.2V+0.5*350mV=1.025V該測的是PicoScope6404B示波器，4通道，500MHz，8位分辨率，信號是仿真的LVDS信號。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱溫升試驗系統(tǒng)HNDL 直流溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修矢量網(wǎng)絡(luò)儀作為射頻微波元器件性能評價的一個基本工具，有著廣泛的應(yīng)用，下面我們通過一個濾波器的測試過程來看一看矢量網(wǎng)絡(luò)儀E5063A是如何測試一個射頻微波元器件的。Step1設(shè)置矢量網(wǎng)絡(luò)儀E5063A的測試參數(shù)：起始和截至頻率，中頻帶寬和測試點數(shù)，然后執(zhí)行校準(zhǔn)移除系統(tǒng)誤差，這里我們使用了既快又準(zhǔn)的E-cal校準(zhǔn)。在校準(zhǔn)前請觀察E-Cal的LED指示燈是否已經(jīng)變?yōu)榫G色，綠色代表ECal已經(jīng)準(zhǔn)備完畢可以開始校準(zhǔn)(如果您使用的是N755x系列電子校準(zhǔn)件，它啟動后即可開始校準(zhǔn)，無需等待)。