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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。就以上的難點(diǎn),ITECH依托于強(qiáng)大的硬件韌體功能,均已一一突破,并為國(guó)內(nèi)熔斷器制造商實(shí)驗(yàn)室完成了3A熔斷時(shí)間的系統(tǒng)方案。熔斷時(shí)間方案優(yōu)勢(shì)使用IT89A/E系列負(fù)載自帶Measure功能量測(cè)熔斷時(shí)間在熔斷器熔斷時(shí)間測(cè)試應(yīng)用中,熔斷時(shí)間對(duì)應(yīng)下圖中從C點(diǎn)下降到E點(diǎn)的時(shí)間(正脈寬時(shí)間),且時(shí)間量測(cè)精度可媲美示波器.量測(cè)時(shí)間的測(cè)定通過上位機(jī)軟件發(fā)送指令,,測(cè)試電源電壓從1V到8V,電流從1A到5A的上升和下降時(shí)間,可以發(fā)送如下指令:在熔斷器測(cè)試方案中,主要應(yīng)用到IT89A/E系列大功率負(fù)載和IT6系列大功率電源。

三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

由于聽到的只是信號(hào)的聲音成分,而此類診斷的結(jié)果將非常嚴(yán)重。因?yàn)椴荒芨杏X到超聲波范圍內(nèi)的細(xì)小變化,因此很容易被忽略。當(dāng)感覺到軸承在可聽音范圍內(nèi)狀況,就必須立即更換。超聲波提供了可的診斷能力,當(dāng)在超聲波范圍內(nèi)開始出現(xiàn)變化時(shí),仍有時(shí)間準(zhǔn)備適當(dāng)?shù)木S修。在泄漏探測(cè)領(lǐng)域,超聲波提供了一個(gè)快速、準(zhǔn)確地確定微小及大致泄漏的方法。由于超聲波是一種短波信號(hào),因此在泄漏部位感覺到的泄漏超聲波聲音也清晰。在聲音噪雜的工廠環(huán)境里,超聲波的特性將使其更為有用。三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)老化測(cè)試一般的老化測(cè)試時(shí)對(duì)部分儀器儀表進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間通電運(yùn)行,并測(cè)量其平均無故障工作時(shí)間,總結(jié)這些儀器儀表的故障特點(diǎn),找出它們的共性問題加以解決。環(huán)境試驗(yàn)環(huán)境試驗(yàn)一般根據(jù)儀器儀表的工作環(huán)境而確定具體的試驗(yàn)內(nèi)容,并按照規(guī)定的方法進(jìn)行試驗(yàn)。環(huán)境試驗(yàn)一般只對(duì)小部分產(chǎn)品進(jìn)行,常見的環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容和方法如下:。溫度試驗(yàn)用以檢查溫度環(huán)境對(duì)儀器儀表的影響,確定儀器儀表在高溫和低溫條件下工作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性,它包括高溫和低溫負(fù)荷試驗(yàn)、高溫和低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)。三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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