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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。供熱管線一般鋪設(shè)在地下,受地面沉降和熱脹冷縮的因素影響,管道可能會發(fā)生破損導(dǎo)致熱水流失,直接影響到供熱效果,并且造成大量的能源浪費(fèi),本文主要介紹使用便攜式紅外熱像儀在供熱管線破損檢測中的應(yīng)用,為保障供熱提供新的檢測手段。門廳臺階處供熱管道滲漏(本文熱像圖及現(xiàn)場圖片由袁星輝提供)供熱管線破損檢測的重要性:近年來,由于供熱管網(wǎng)破損、漏水導(dǎo)致供熱效果降低甚至中斷供熱的事件日益增多,其原因主要有:管網(wǎng)老化、地面沉降、車輛超載重壓、周邊施工等。

JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時間:大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù):三相  多路

按相等時間間隔對信號采樣以重建波形,具體原理圖如圖1所示。適用場景:對波形捕獲模式無要求時使用。標(biāo)準(zhǔn)捕獲模式原理峰值捕獲模式在該模式下,示波器至少能顯示出來與采樣周期一樣寬的所有脈沖。原理:采集到采樣間隔信號的值和值,具體原理圖如圖2所示。適用場景:捕獲可能丟失的窄脈沖和高頻率的毛刺。注意事項(xiàng):雖然該模式可避免信號混淆,但顯示的噪聲較大。圖2峰值捕獲模式原理平均捕獲模式在該模式下,可先設(shè)置一個平均次數(shù)N,具體設(shè)置方法為:在示波器前面板上按下Acquire鍵,按下平均次數(shù)菜單軟鍵,通過調(diào)節(jié)A/B旋鈕設(shè)置平均次數(shù)的數(shù)值。JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)3672系列功能選件-矢量混頻/變頻器件測量應(yīng)用軟件的操作步驟說明:矢量混頻/變頻器件測試軟件是3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)儀測試功能選件之一,集變頻器件的變頻損耗或增益、端口輸入/輸出功率(正向及反向)、駐波、相位及群時延等參數(shù)測量于一體的測試軟件。其主要特點(diǎn)包括:1.測量過程需使用一個參考混頻器進(jìn)行表征。測試參數(shù),相比于標(biāo)量混頻器測試增加了相位及群時延等參數(shù)的測試功能。充分利用內(nèi)置雙激勵源配置,一個用于提供射頻測量激勵信號,另一個則被用于提供本振信號,無需額外信號源提供本振信號,節(jié)約了測試成本,同時,避免了不同儀器之間的同步配置。JP柜溫升試驗(yàn)裝置HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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