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HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) 三回路JP柜溫升測試儀HNDL 交流溫升試驗設備 容量大 5年保修
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)柜進行試驗的要求。為了解決這個問題,必須制定一系列的內(nèi)部接口標準,否則行業(yè)將成為碎片化的產(chǎn)業(yè)。2003年,由ARM,Nokia,ST,TI等公司聯(lián)合成立了一個聯(lián)盟——MIPI是,目的就是是把內(nèi)部的接口如攝像頭、顯示屏接口、射頻/基帶接口等標準化,從而減少設計的復雜程度和增加設計靈活性。MIPI聯(lián)盟下面有不同的WorkGroup,分別定義了一系列的內(nèi)部接口標準,比如攝像頭接口CS顯示接口DS射頻接口DigR麥克風/喇叭接口SLIMbus等。
1.2 技術(shù)參數(shù)要求
恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關(guān)柜及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求)
輸出波形:標準正弦波
輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)
輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)
工作時間:大電流輸出不少于24小時
輸出相數(shù):三相 多路
無論是實驗室環(huán)境還是生產(chǎn)車間,都需要采用更的半導體測試方法。半導體測試是NI的戰(zhàn)略重點。我們正在擴展我們的軟件平臺和PXI功能,以幫助芯片制造商應對他們面臨的挑戰(zhàn),這一點通過NI的PXISMU可以完全體現(xiàn)出來?!庇捎谄涓咄掏铝?、高性價比和占地面積小,NI的半導體測試系統(tǒng)(STS)正在快速應用到芯片生產(chǎn)中。全新的PXIe-4163SMU則進一步增強了這些功能,它能提供更高的直流通道密度,使多站點應用具有更高的并行性,以及在生產(chǎn)中提供實驗室級別的測量質(zhì)量。
1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)
序號 |
名稱 |
數(shù)量 |
1 |
3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器 |
1 |
2 |
3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器 |
1 |
3 |
3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器 |
1 |
4 |
3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器 |
1 |
