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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP柜溫升試驗設備HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。JP柜溫升試驗設備HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) JP柜溫升試驗設備HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗 

JP柜溫升試驗設備HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)柜進行試驗的要求。所以選擇示波器和帶寬時至少要選擇被測量方波信號的5次諧波頻率以上的帶寬。的選擇示波器是無法直接對信號進行測量的,必須通過一個物理連接將信號傳輸?shù)绞静ㄆ鲀?nèi)。這種物理連接就是。對高速信號測量來說至關(guān)重要。普通無源一般有1:1和10:1兩種。這兩種除了衰減比例不同外,還會對高速信號產(chǎn)生很大的差異。想要解釋這個問題,需要現(xiàn)討論一下的一個關(guān)鍵特性——負載效應。理想情況下,我們希望我們的測量設備的阻抗無窮大,這樣測試設備的接入就不會對被測系統(tǒng)產(chǎn)生任何影響,從而保證測量的真實性。

JP柜溫升試驗設備HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關(guān)柜及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求)

輸出波形:標準正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時間:大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù):三相  多路

另外,被測T/R組件置于箱內(nèi),相當于一個金鐘罩,不但可以保證操作人員的**,而且可以降低產(chǎn)線上不同測試系統(tǒng)之間的相互干擾。因測試的需要,箱殼體上需要開孔穿過電源、控制、射頻電纜和液冷管等。為保證性能,應盡量避免開細長孔,也不能有直接穿過箱的導體。增加端口駐波比告警電路保證T/R組件的**利用定向耦合器、檢波器和模數(shù)轉(zhuǎn)換電路等可以實現(xiàn)每個發(fā)射輸出端口駐波比的實時監(jiān)測。該電路的目的不是為了實現(xiàn)端口駐波比的測試,只要監(jiān)測到端口發(fā)生失配甚至開路,則小目標實現(xiàn)。JP柜溫升試驗設備HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP柜溫升試驗設備HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗目前主流的通信隔離方案為光耦、容耦及礠耦,隔離特點上光耦采用光的形式進行信號傳遞,容耦通過電場的形式進行傳輸,磁偶采用磁場形式進行傳輸。供電隔離采用微功率DC-DC隔離電源,使輸入與輸出之間沒有電氣連接,避免供電端對的影響。電源與通信雙隔離具體來講,隔離可以從兩個渠道實現(xiàn):采用分立元器件搭建或采用集成模塊。采用分立模塊搭建往往涉及到很多器件的選型及采購,實現(xiàn)起來較為麻煩且難保證該部分在產(chǎn)品上的一致性。JP柜溫升試驗設備HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗


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