HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 定制定做 

聯(lián)系人車(chē)高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿(mǎn)足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求?？紤]到5G將分階段部署，第1階段非立組網(wǎng)（NSA），5G與現(xiàn)有的3G/4G業(yè)務(wù)之間存在互通的需求。前傳網(wǎng)絡(luò)需要支持采用通用公共無(wú)線(xiàn)電接口（CPRI）的2G/3G/4G業(yè)務(wù)和采用下一代前傳接口（eCPRI/NGFI）的5G業(yè)務(wù)。前傳的方案目前看還是以光層為主，可以采用光纖直驅(qū)、無(wú)源WDM、N×10Gbit/s、N×100Gbit/s波分等。ITU目前也在討論采用簡(jiǎn)化的OTN，增加25G/50GOTN接口用于前傳網(wǎng)絡(luò)，提供必要的性能監(jiān)測(cè)和保護(hù)等。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿(mǎn)足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

20世紀(jì)80年始，非制冷紅外焦平面陣列探測(cè)器在美國(guó)支持下發(fā)展起來(lái)的，在1992年研發(fā)完成后才對(duì)布。初期技術(shù)路線(xiàn)包括德州儀器研制的BST熱釋電探測(cè)器和霍尼韋爾研制的氧化釩（VOx）微測(cè)輻射熱計(jì)探測(cè)器。后來(lái)由于熱釋電技術(shù)本身的一些局限性，微測(cè)輻射熱計(jì)探測(cè)器逐漸勝出。2009年，L-3公司終宣布停止繼續(xù)生產(chǎn)熱釋電探測(cè)器。之后，法國(guó)的CEA/LETI以及德州儀器公司又分別研制了非晶硅（a-Si）微測(cè)輻射熱計(jì)探測(cè)器。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶(hù)具體需求配置）

三回路配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 定制定做兩類(lèi)方法適用于不同類(lèi)型的風(fēng)口，測(cè)量方法選擇不當(dāng)是造成結(jié)果差異大的可能原因。直接法測(cè)量，顧名思義，即通過(guò)風(fēng)量罩直接測(cè)得風(fēng)量值。適用性較廣，尤其是出風(fēng)口氣流分布不均勻（散流、旋流等）的場(chǎng)合。但須注意風(fēng)量罩對(duì)適合測(cè)量的風(fēng)口有尺寸限制（風(fēng)口尺寸較風(fēng)量罩尺寸不可過(guò)大或過(guò)?。?。間接法測(cè)量，通過(guò)風(fēng)速儀測(cè)得風(fēng)速值，再通過(guò)計(jì)算得出風(fēng)量值。間接法測(cè)量對(duì)出風(fēng)口氣流分布要求較嚴(yán)格（即氣流分布盡量均勻）。在風(fēng)口氣流分布較均勻的場(chǎng)合，直接法與間接法測(cè)量結(jié)果大致接近。