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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP柜溫升試驗設備HNDL 全自動溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。JP柜溫升試驗設備HNDL 全自動溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) JP柜溫升試驗設備HNDL 全自動溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗 

JP柜溫升試驗設備HNDL 全自動溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關柜進行試驗的要求。但一般有哪些行之有效的降低紋波噪聲的對策呢?下面我們拋磚引玉,簡單討論常用的八個方法。電源PCB走線和布局反饋線路應避開磁性元件、開關管及功率二極管。輸出濾波電容放置及走線對紋波噪聲至關重要,如所示,傳統(tǒng)設計中由于到達每個電容的阻抗不一樣,所以高頻電流在三個電容中分配不均勻,改進設計中可以看出每個回路長度相當即高頻電流會均勻分配到每個電容中。如果PCB是多層板,可以選擇和主電流回路層近一層覆地,覆地可以有效的解決噪聲問題,注意,盡量保證覆地的完整性。

JP柜溫升試驗設備HNDL 全自動溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗1.2 技術參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調, 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關柜及相關標準規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求)

輸出波形:標準正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調

工作時間:大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù):三相  多路

ISO17025明確要求校準結果要報告測量(校準)不確定度,校準實驗室或測試實驗室做所有校準測量時,應該擁有并使用固定的程序來評估測量不確定度。實驗室認可委員會CNAS-CL07:2011《測量不確定度的要求》,要求切實執(zhí)行ISO17025,在校準結果中逐點正確報告校準不確定度。報告不確定度就是要說明在各項校準工作中,實驗室的校準能力是否達到要求,保證校準質量。福祿克55XX系列校準器,包括5500A,5502A,5520A,5522A等多產(chǎn)品校準器,在國內已有近兩千臺,服務于各級計量校準實驗室以及研究機構。JP柜溫升試驗設備HNDL 全自動溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調節(jié)器

1

JP柜溫升試驗設備HNDL 全自動溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗如果放電速度過慢,就會出現(xiàn)通信問題。解決方法:增加終端電阻。CAN結構示意圖2.組網(wǎng)節(jié)點數(shù)少,通信正常,增加節(jié)點后,通信異常。可能原因:總線電容過大。總線電容過大會影響CAN差分波形上升下降速度,如。解決方法:a.檢查CAN節(jié)點接口的外圍電路,是否有外加電容、TVS管等器件,適當去除,以降低電容;降低工作波特率。波特率降低可以延長位時間,減小電容的影響,但若電容過大,則不一定有效??偩€電容影響波形圖3.應用中易損壞,更換模塊后正常。JP柜溫升試驗設備HNDL 全自動溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗


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