HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。本文針對(duì)IEC61850標(biāo)準(zhǔn)體系的特點(diǎn)，通過(guò)對(duì)于智能變電站測(cè)試技術(shù)特征的研究，提出“非侵入式”測(cè)試的技術(shù)思路：即現(xiàn)場(chǎng)不變更接線，不改變保護(hù)整定值設(shè)置，完成繼電保護(hù)系統(tǒng)運(yùn)維測(cè)試。這樣，可地提升智能變電站運(yùn)維測(cè)試的便利性和效率，并可實(shí)現(xiàn)保護(hù)系統(tǒng)測(cè)試的全生命周期管理。智能變電站技術(shù)特征網(wǎng)絡(luò)化信息共享基于IEC61850架構(gòu)體系的智能變電站二次系統(tǒng)呈現(xiàn)為網(wǎng)絡(luò)化信息共享的特征，信號(hào)之間的傳遞媒介由光纜代替了電纜，以往常規(guī)綜自系統(tǒng)IED裝置基于端子二次聯(lián)接關(guān)系，演變?yōu)榛贕OOSE數(shù)據(jù)包的虛端子/虛回路對(duì)應(yīng)關(guān)系，見(jiàn)下圖。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

所以在實(shí)際的工作中，更多的工程師會(huì)去選擇多通道的電子負(fù)載來(lái)進(jìn)行測(cè)試，這樣不但工作效率大為提高，測(cè)試數(shù)據(jù)也更為。艾德克斯的IT87系列多通道電子負(fù)載采用了抽換式模塊設(shè)計(jì)，該系列電子負(fù)載共有8種型號(hào)的模組，從2W到6W，工程師可以自由搭配模塊。單個(gè)機(jī)框可達(dá)8通道，擴(kuò)展機(jī)框可達(dá)16通道，負(fù)載模組之間由系統(tǒng)同步控制，即可同步執(zhí)行多16路電源輸出的測(cè)試。因此IT87系列電子負(fù)載能夠滿足多路輸出電源的測(cè)試需求，節(jié)省空間，提高測(cè)試效率。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)一般信號(hào)發(fā)生器的輸出信號(hào)地與機(jī)殼大地為共地，MFG-2系列信號(hào)發(fā)生器的通道輸出、同步和調(diào)變輸入、輸出的連接器大地都是浮動(dòng)的，與儀器的機(jī)殼隔離。這些連接器對(duì)大地的承受隔離電壓可至±42Vpk(直流+交流峰值)，適用在浮動(dòng)電路的測(cè)試，可以多臺(tái)儀器并行輸出使用而無(wú)需考慮接地參考的問(wèn)題。MFG-2系列信號(hào)源的隔離通道設(shè)計(jì)在實(shí)驗(yàn)教學(xué)中有很多應(yīng)用，下面以橋式整理實(shí)驗(yàn)為例作簡(jiǎn)要介紹。橋式整流的電路如圖所示：根據(jù)二極管的單向?qū)щ娦?，?dāng)電路加載一個(gè)弦波信號(hào)后，經(jīng)過(guò)電路的整流，弦波信號(hào)的負(fù)半周期的波形將被反轉(zhuǎn)到正半周期。