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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:配電箱溫升試驗設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗及溫升試驗。配電箱溫升試驗設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) 配電箱溫升試驗設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修 

配電箱溫升試驗設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)柜進(jìn)行試驗的要求。ChipMcClelland的計數(shù)器這些計數(shù)器由電子設(shè)備構(gòu)建并利用其蜂窩連接來遠(yuǎn)程發(fā)送數(shù)據(jù)。這使他們能夠通過蜂窩網(wǎng)絡(luò)將數(shù)據(jù)發(fā)送到他們的儀表板,這意味著他們不必再離開辦公室。經(jīng)過大約三年的訪客統(tǒng)計,公園管理人員看到了Chip的工作取得的成功。Umstead州立公園已經(jīng)將芯片的設(shè)備部署了兩年多,每個入口都有一個設(shè)備。附近的Crabtree公園正在測試Chip的設(shè)備來統(tǒng)計他們的訪問者。現(xiàn)在他正在大規(guī)模生產(chǎn)這些設(shè)備,以部署與美國各地的公園。

配電箱溫升試驗設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時間:大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù):三相  多路

,任何一種光源的發(fā)光都與其物質(zhì)內(nèi)部粒子的運動狀態(tài)有關(guān),當(dāng)處于低能級上的粒子(原子、分子或離子)吸收了適當(dāng)頻率外來能量(光)被激發(fā)而躍遷到相應(yīng)的高能級上(受激吸收)后,總是力圖躍遷到較低的能級去,同時將多余的能量以光子形式釋放出來。如果光是在沒有外來光子作用下自發(fā)地釋放出來的(自發(fā)輻射),此時被釋放的光即為普通的光(如電燈、霓虹燈等),其特點是光的頻率大小、方向和步調(diào)都很不一致。但如果是在外來光子直接作用下,由高能級向低能級躍遷時將多余的能量以光子形式釋放出來(受激輻射),被釋放的光子則與外來的入射光子在頻率、位相、傳播方向等方面完全一致,這就意味著外來光得到了加強(qiáng),我們把它稱之為“光放大”。配電箱溫升試驗設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

配電箱溫升試驗設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修3672系列功能選件-矢量混頻/變頻器件測量應(yīng)用軟件的操作步驟說明:矢量混頻/變頻器件測試軟件是3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)儀測試功能選件之一,集變頻器件的變頻損耗或增益、端口輸入/輸出功率(正向及反向)、駐波、相位及群時延等參數(shù)測量于一體的測試軟件。其主要特點包括:1.測量過程需使用一個參考混頻器進(jìn)行表征。測試參數(shù),相比于標(biāo)量混頻器測試增加了相位及群時延等參數(shù)的測試功能。充分利用內(nèi)置雙激勵源配置,一個用于提供射頻測量激勵信號,另一個則被用于提供本振信號,無需額外信號源提供本振信號,節(jié)約了測試成本,同時,避免了不同儀器之間的同步配置。配電箱溫升試驗設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修


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