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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。移動(dòng)機(jī)器人避障常用的傳感器激光傳感器激光測距傳感器利用激光來測量到被測物體的距離或者被測物體的位移等參數(shù)。比較常用的測距方法是由脈沖激光器發(fā)出持續(xù)時(shí)間極短的脈沖激光,經(jīng)過待測距離后射到被測目標(biāo),回波返回,由光電探測器接收。根據(jù)主波信號(hào)和回波信號(hào)之間的間隔,即激光脈沖從激光器到被測目標(biāo)之間的往返時(shí)間,就可以算出待測目標(biāo)的距離。由于光速很快,使得在測小距離時(shí)光束往返時(shí)間極短,因此這種方法不適合測量精度要求很高的(亞毫米級(jí)別)距離,一般若要求精度非常高,常用三角法、相位法等方法測量。

三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

此外,一些重點(diǎn)場所也開始布置毫米波安檢儀,如大使館、機(jī)關(guān)、大型會(huì)場和體育場館等。在前兩代產(chǎn)品獲得巨大成功的基礎(chǔ)上,羅德與施瓦茨推出的RSQPS201快速安檢儀,進(jìn)一步優(yōu)化了硬件設(shè)計(jì)、檢測算法、處理時(shí)間、安檢通道設(shè)計(jì)等等多種要素,提升了安檢儀的精度、效率、可靠性,契合各地機(jī)場的多樣化需求。目前已經(jīng)通過上述三大機(jī)構(gòu)的認(rèn)證許可,并在各大機(jī)場大量投入使用,以其高掃描速度,高分辨率和高檢出率廣受客戶的好評(píng)。三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)很多人對(duì)直角走線都有這樣的理解,認(rèn)為容易發(fā)射或接收電磁波,產(chǎn)生EMI,這也成為許多人認(rèn)為不能直角走線的理由之一。然而很多實(shí)際測試的結(jié)果顯示,直角走線并不會(huì)比直線產(chǎn)生很明顯的EMI。也許目前的儀器性能,測試水平制約了測試的性,但至少說明了一個(gè)問題,直角走線的輻射已經(jīng)小于儀器本身的測量誤差??偟恼f來,直角走線并不是想象中的那么可怕。至少在GHz以下的應(yīng)用中,其產(chǎn)生的任何諸如電容,反射,EMI等效應(yīng)在TDR測試中幾乎體現(xiàn)不出來,高速PCB設(shè)計(jì)工程師的重點(diǎn)還是應(yīng)該放在布局,電源/地設(shè)計(jì),走線設(shè)計(jì),過孔等其他方面。三回路JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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