HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) 配電箱溫升試驗系統(tǒng)HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 5年保修 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)柜進行試驗的要求。可以說是一種小的動物通過簡捷的方式實現(xiàn)“無線”的溝通。人們借此稱呼一種專注于低功耗、低成本、低復雜度、低速率的近程無線網(wǎng)絡通信技術(shù)，亦包含此寓意。它是基于IEEE802.15.4協(xié)議發(fā)展起來的一種短距離無線通信技術(shù)，功耗低，被業(yè)界認為是有可能應用在工控場合的無線方式。Zigbee是一個由可多到65000個無線數(shù)傳模塊組成的一個無線數(shù)傳網(wǎng)絡平臺，在整個網(wǎng)絡范圍內(nèi)，每一個Zigbee網(wǎng)絡數(shù)傳模塊之間可以相互通信，每個網(wǎng)絡節(jié)點間的距離可以從標準的75m無限擴展。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關(guān)柜及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

環(huán)境試驗一般只對小部分產(chǎn)品進行，常見的環(huán)境試驗內(nèi)容和方法如下：溫度試驗用以檢查溫度環(huán)境對儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫和低溫條件下工作和儲存的適應性，它包括高溫和低溫負荷試驗、高溫和低溫儲存試驗。高溫試驗用以檢查高溫環(huán)境對儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫條件下工作和儲存的適應性。它包括高溫負荷試驗和高溫儲存試驗。低溫試驗用以檢查低溫環(huán)境對儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫條件下工作和儲存的適應性。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱溫升試驗系統(tǒng)HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 5年保修數(shù)字子系統(tǒng)架構(gòu)從以往的設計來講，數(shù)字子系統(tǒng)的引腳電子設備依賴于定制設計—離散設計，混合設備和完全定制設計。然而，今天有商業(yè)供應商為半導體和板級測試應用生產(chǎn)一系列針式電子產(chǎn)品，提供高水平的集成和通道密度。這些器件是實現(xiàn)更高通道密度的關(guān)鍵因素，同時也帶來了管理功耗和功耗的持續(xù)挑戰(zhàn)。今天的數(shù)字子系統(tǒng)多基于開放式架構(gòu)，卡模塊化平臺，如VXI和PXI標準，PXI是主導平臺。為了適應與支持M-A應用相關(guān)的許多必要特性和功能，PXI的6U外形在標準PXI電源之外提供了額外的PCB空間和靈活性，可以使用額外的電源。