HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) 三回路配電箱溫升試驗裝置HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 5年保修 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關柜進行試驗的要求。所以，非制冷紅外焦平面探測器是CMOS-MEMS單體集成的大陣列器件。非晶硅紅外探測器結構應用領域非制冷紅外探測器在**和商用領域具有非常廣泛的應用：**領域**領域應用包括熱觀瞄（TWS）、便攜式視覺增強、車載視覺增強（DVE）、遠程站（RWS）、無人機（U）、無人駕駛地面車輛、觀察指揮車、火控和制導等，如所示。非制冷紅外探測器在**領域的主要應用熱像測溫領域熱像測溫用于預防性檢測，對電力輸電線路、發(fā)電設備、機械設備等通過紅外熱像儀檢測異常發(fā)熱區(qū)域，可以預防重大停機以及事故的發(fā)生。

1.2 技術參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關柜及相關標準規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調

工作時間：大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

而對于支撐端到端傳輸?shù)幕A網(wǎng)絡而言，低延時（微秒級）、無損（lossless）則是重要的指標。低延時網(wǎng)絡轉發(fā)延時主要產(chǎn)生在設備節(jié)點（這里忽略了光電傳輸延時和數(shù)據(jù)串行延時），設備轉發(fā)延時包括以下三部分：存儲轉發(fā)延時：芯片轉發(fā)線處理延遲，每個hop會產(chǎn)生1微秒左右的芯片處理延時（業(yè)界也有嘗試使用cut-through模式，單跳延遲可以降低到0.3微秒左右）；Buffer緩存延時：當網(wǎng)絡擁塞時，報文會被緩存起來等待轉發(fā)。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）