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產品詳情
  • 產品名稱:直流大電流發(fā)生器HNDL JP柜溫升試驗設備 容量大 30年經驗

  • 產品型號:HNDL
  • 產品廠商:華能
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。直流大電流發(fā)生器HNDL JP柜溫升試驗設備 容量大 30年經驗
詳情介紹:

HNDL20KA型直流開關試驗裝置 直流大電流發(fā)生器HNDL JP柜溫升試驗設備 容量大 30年經驗
直流大電流發(fā)生器HNDL JP柜溫升試驗設備 容量大 30年經驗利用計算機控制技術和現(xiàn)代電力電子技術研究設計的一種大電流低電壓直生裝置,主要用于直流開關的檢測試驗,如直流開關大電流脫扣定值的校驗、分流器及隔離放大器特性測試、開關動作時間測試等,并自動記錄測試的有關數(shù)據(jù)。晚上看書的時候電燈突然一閃一閃的?又是閃變在作怪了。那什么是閃變呢?為什么會產生閃變呢?下面我們先從理論的方面來理性的認識閃變,然后通過一個實際的案例來感性的感受一下閃變在現(xiàn)實生活中的存在。閃變的定義閃變是人眼對燈光亮度變化所引起刺激的不穩(wěn)定感。即人對亮度變化的不適感。IEC61000-4-15規(guī)定了“燈—眼—腦”模型來衡量,反映了大多數(shù)人如何受閃爍白熾燈的影響。閃變的影響閃變的產生多數(shù)是因為電網(wǎng)電壓變動導致照明亮度發(fā)生變化。

直流大電流發(fā)生器HNDL JP柜溫升試驗設備 容量大 30年經驗

應用:

    HNDL20KA型直流開關試驗裝置是專門設計用于對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關及其隔離放大器、保護裝置進行功能試驗的設備,通過模擬輸出故障電流或過負荷電流,測試直流開關的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性,測試隔離放大器特性和保護裝置特性。HIOKI冬季新產品,熱流數(shù)據(jù)采集儀LR8432。該款數(shù)采與以往的便攜式數(shù)采有著相似的外觀,但在功能上卻有著與不同的地方?!盁崃鳌睖y量功能,了解何為“熱流?!睙崃鳎杭础盁崃髁俊?,是一定面積的物體兩側存在溫差時,單位時間內由導熱、對流、輻射方式通過該物體所傳遞的熱量。通俗來講,溫度變化時,勢必包含熱能的移動。熱能是溫度變化所釋放的能量,與水和電相同由高到低的轉移。這種熱能移動的程度即用“熱流”來表示,單位時間單位面積流。

特點:

智能化及圖形顯示:HNDL20KA型直流開關試驗裝置由嵌入式微機系統(tǒng)控制,輸出電流的波形、幅值可通過人機界面準確控制。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示,可方便計算、顯示直流開關的動作時間,并能存儲、打印測量結果。

多種輸出波形選擇:理論上輸出波形可有任意多種。本試驗裝置標準波形配置為常用的指數(shù)曲線,該曲線的幅值、時間常數(shù)可設定。

輸出準確:按預先設定的波形參數(shù)輸出,綜合誤差只有2%。工業(yè)使用的儀器,使用一定時期后,將滿足產品老化,老化的試驗和環(huán)境試驗,它可以檢測早期文書的一個潛在故障,準備的解決方案和解決方案,尤其是可以發(fā)現(xiàn)的常見故障,所以相同的儀器設備早期通過修改電路和方法恢復,有助于提高耐久性和可靠性的工具。老化測試一般的老化測試時對部分儀器儀表進行長時間通電運行,并測量其平均無故障工作時間,總結這些儀器儀表的故障特點,找出它們的共性問題加以解決。環(huán)境試驗環(huán)境試驗一般根據(jù)儀器儀表的工作環(huán)境而確定具體的試驗內容,并按照規(guī)定的方法進行試驗。

測量及計時精度高:輸出電流、開關接點動作狀態(tài)通過測量回路測量并以圖形方式在顯示器上顯示,準確計算有關參數(shù),電流測量精度為2%,時間測量精度為1mS

保護電路完善:HNDL20KA型直流開關試驗裝置有完善的保護電路,如過流速斷保護、過流超時保護等。

接線方便:HNDL20KA型直流開關試驗裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關主觸頭端子相連,注意不得隨意采用其它電纜。直流大電流發(fā)生器HNDL JP柜溫升試驗設備 容量大 30年經驗

模塊化設計:HNDL20KA型直流開關試驗裝置采用模塊化設計,特別是2號柜的降壓整流輸出單元,每一個模塊的輸出電流為5000A,方便維護和使用。根據(jù)用戶需要,可定制10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開關試驗裝置(HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA HNDL40KA)無論是實驗室環(huán)境還是生產車間,都需要采用更的半導體測試方法。半導體測試是NI的戰(zhàn)略重點。我們正在擴展我們的軟件平臺和PXI功能,以幫助芯片制造商應對他們面臨的挑戰(zhàn),這一點通過NI的PXISMU可以完全體現(xiàn)出來?!庇捎谄涓咄掏铝?、高性價比和占地面積小,NI的半導體測試系統(tǒng)(STS)正在快速應用到芯片生產中。全新的PXIe-4163SMU則進一步增強了這些功能,它能提供更高的直流通道密度,使多站點應用具有更高的并行性,以及在生產中提供實驗室級別的測量質量。直流大電流發(fā)生器HNDL JP柜溫升試驗設備 容量大 30年經驗

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