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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:交流采樣校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗儀 使用方法 儀表校驗臺

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
可自動或手動檢驗電力系統(tǒng)中工頻電表(電壓表、電流表、功率表、頻率表、功率因數(shù)表、相位表)、單相交流電能表(選項)、三相交流電能表(選項)以及直流電壓、電流表的基本誤差。交流采樣校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗儀 使用方法 儀表校驗臺
詳情介紹:

HN8001A三相交直流指示儀表,電測儀表檢定裝置 交流采樣校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗儀 使用方法 儀表校驗臺

交流采樣校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗儀 使用方法 儀表校驗臺車高平 13608980122/15689901059

輸出交直流電壓、電流、相位和功率均為高精度、高穩(wěn)定度標準源,軟件校準。各項輸出均采用動態(tài)負載自動調(diào)整技術(shù),降低了負載調(diào)整率。采用高速交流采樣、高速數(shù)字信號處理器(DSP)、復(fù)雜可編程邏輯陣列(CPLD)、大功率集成功放、嵌入式計算機系統(tǒng)設(shè)計而成,將系統(tǒng)、測試和信號高度集成,體積小,重量輕,可靠性極高,功能性極強。用于檢測數(shù)字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數(shù)字測控裝置、變送器、交流采樣裝置

老化測試是產(chǎn)品生產(chǎn)中的環(huán)節(jié),對于CAN通信設(shè)備如何進行批量的老化測試呢?本文將從成本及方案優(yōu)化兩方面簡述測試方法。什么是老化測試老化測試是將產(chǎn)品置于實際使用環(huán)境中評測其使用壽命、穩(wěn)定性等指標的一種測試方式。比如對塑膠材料制品,常使用光照老化、濕熱老化、熱風(fēng)老化。對于電子設(shè)備的老化測試,除了以上材料老化測試還經(jīng)常需要上電測試,以此來考驗產(chǎn)品的穩(wěn)定性。老化測試通常在的老化室中進行。老化室CAN通訊設(shè)備老化測試對于CAN通信設(shè)備的老化測試,主要是功能性老化測試。
 交流采樣校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗儀 使用方法 儀表校驗臺技術(shù)參數(shù):

整機有效精度 0.05級

交直流電壓輸出

量限:660V、380V、220V、100V、57.735V  

調(diào)節(jié)范圍:(0~120)%RG RG為量限,下同

準確度:0.05%RG

 交直流電流輸出

量限: 20A、5A、1A、0.2A

調(diào)節(jié)范圍:  (0~120)%RG   RG為量限,下同;

準確度: 0.05%RG

     交流采樣校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗儀 使用方法 儀表校驗臺數(shù)字子系統(tǒng)架構(gòu)從以往的設(shè)計來講,數(shù)字子系統(tǒng)的引腳電子設(shè)備依賴于定制設(shè)計—離散設(shè)計,混合設(shè)備和完全定制設(shè)計。然而,今天有商業(yè)供應(yīng)商為半導(dǎo)體和板級測試應(yīng)用生產(chǎn)一系列針式電子產(chǎn)品,提供高水平的集成和通道密度。這些器件是實現(xiàn)更高通道密度的關(guān)鍵因素,同時也帶來了管理功耗和功耗的持續(xù)挑戰(zhàn)。今天的數(shù)字子系統(tǒng)多基于開放式架構(gòu),卡模塊化平臺,如VXI和PXI標準,PXI是主導(dǎo)平臺。為了適應(yīng)與支持M-A應(yīng)用相關(guān)的許多必要特性和功能,PXI的6U外形在標準PXI電源之外提供了額外的PCB空間和靈活性,可以使用額外的電源。交流采樣校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗儀 使用方法 儀表校驗臺頻率設(shè)置:在源關(guān)閉狀態(tài)可通過鼠標選中液晶屏的頻率編輯框設(shè)置頻率。頻率設(shè)置范圍是40Hz~70Hz,分辨率為0.0001Hz 。超出范圍將會自動按頻率的值或者值輸出頻率值。也可通過面板按鍵編輯器進行頻率設(shè)置:對交流源的頻率信號進行調(diào)節(jié)。按鍵編輯器顯示為F=××.××××Hz;若交流源處于關(guān)閉狀態(tài),則打開并輸出交流源,源幅度為量限幅度。光標指示當前欲調(diào)節(jié)細度,按【←】鍵可左移光標,按【→】鍵可右移光標。確定好調(diào)節(jié)細度后旋轉(zhuǎn)編碼器可對頻率信號進行升/降調(diào)節(jié)

對于需要經(jīng)常進行數(shù)據(jù)流傳輸?shù)南到y(tǒng)數(shù)據(jù),SPI是,因為它擁有較快的時鐘速率,速率可從幾兆赫茲到幾十兆赫茲。然而,對于系統(tǒng)管理活動,如讀取溫度傳感器的讀數(shù)和查詢多個從器件的狀態(tài),或者需要多個主器件共存于同一系統(tǒng)總線上(系統(tǒng)冗余常會要求這一點),或者面向低功耗應(yīng)用,這時I2C或SMBus將是接口。:數(shù)字溫度傳感器簡化框圖下面幾部分將介紹每種串行總線及其優(yōu)缺點。SPISPI是一種四線制串行總線接口,為主/從結(jié)構(gòu),四條導(dǎo)線分別為串行時鐘(SCLK)、主出從入(MOSI)、主入從出(MISO)和從選(SS)信號。交流采樣校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗儀 使用方法 儀表校驗臺

直流標準源參數(shù)操作

當用鼠標選中標準源視窗中〖交直流〗單選按鈕的〖直流〗選項時,標準源視窗將處于直流標準源狀態(tài)。此時所有交流源參數(shù)將處于變灰無效狀態(tài)。僅直流源參數(shù)可進行操作。

在直流標準源輸出前可以對直流標準源的量限進行設(shè)置;設(shè)置完畢,按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵,HN8005B將輸出所設(shè)定的標準直流信號。

對于直流參數(shù)的設(shè)置與修改可以通過兩種方式:

方式一:直接使用【百分比鍵】操作。直流源將按當前選擇的量限百分比進行輸出。若直流源處于關(guān)閉狀態(tài),則打開并輸出直流源,若直流源已處于輸出狀態(tài),則直接按量限百分比輸出相應(yīng)幅度。

環(huán)境試驗一般只對小部分產(chǎn)品進行,常見的環(huán)境試驗內(nèi)容和方法如下:溫度試驗用以檢查溫度環(huán)境對儀器儀表的影響,確定儀器儀表在高溫和低溫條件下工作和儲存的適應(yīng)性,它包括高溫和低溫負荷試驗、高溫和低溫儲存試驗。高溫試驗用以檢查高溫環(huán)境對儀器儀表的影響,確定儀器儀表在高溫條件下工作和儲存的適應(yīng)性。它包括高溫負荷試驗和高溫儲存試驗。低溫試驗用以檢查低溫環(huán)境對儀器儀表的影響,確定儀器儀表在高溫條件下工作和儲存的適應(yīng)性。交流采樣校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗儀 使用方法 儀表校驗臺

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