HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 單相交流標準源交流采樣檢定裝置 電壓監(jiān)測儀校驗裝置 HN系列 儀表校驗裝置

車高平 13608980122/15689901059

輸出交直流電壓、電流、相位和功率均為高精度、高穩(wěn)定度標準源，軟件校準。各項輸出均采用動態(tài)負載自動調整技術,降低了負載調整率。采用高速交流采樣、高速數(shù)字信號處理器（DSP）、復雜可編程邏輯陣列（CPLD）、大功率集成功放、嵌入式計算機系統(tǒng)設計而成，將系統(tǒng)、測試和信號高度集成，體積小，重量輕，可靠性極高，功能性極強。用于檢測數(shù)字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數(shù)字測控裝置、變送器、交流采樣裝置

同時整個過程中CPU過多參與，大量消耗CPU性能，影響正常的數(shù)據(jù)計算。在RDMA模式下，應用數(shù)據(jù)可以繞過Kernel協(xié)議棧直接向網(wǎng)卡寫數(shù)據(jù)，帶來的顯著好處有：處理延時由數(shù)十微秒降低到1微秒內；整個過程幾乎不需要CPU參與，節(jié)省性能；傳輸帶寬更高。RDMA對于網(wǎng)絡的訴求RDMA在高性能計算、大數(shù)據(jù)、IO高并發(fā)等場景中應用越來越廣泛。諸如iSICI,SAN,Ceph,MPI,Hadoop,Spark,Tensorflow等應用軟件都開始部署RDMA技術。
 技術參數(shù)：

整機有效精度 0.05級

交直流電壓輸出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

調節(jié)范圍：(0～120)%RG RG為量限,下同

準確度：0.05%RG

 交直流電流輸出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

調節(jié)范圍:  (0～120)%RG   RG為量限,下同；

準確度： 0.05%RG

     單相交流標準源交流采樣檢定裝置 電壓監(jiān)測儀校驗裝置 HN系列 儀表校驗裝置缺相運行是電機的頭號殺手，然而，電機堵轉對電機造成的危害卻也不容忽視。對于線，一旦電機長時間堵轉，將燒壞電機乃至損壞設備，造成不可挽回的損失。電機的堵轉保護很有必要，而保護的整定則要從電機的堵轉測試開始。電機堵轉即電機在零轉速時依然輸出扭矩的一種狀態(tài)，一般都是異物，機械損傷或者人為造成的。當電機負載過大、異物卡死、拖動設備機械故障、軸承損傷等，都會造成電機無法啟動或者停止轉動。電機正常轉動時，定子產生的旋轉磁場帶動著轉子跟隨磁場旋轉方向轉動，轉子轉動過程中，切割磁感線而產生感應電流，感應電生的磁場隨著轉子轉動，也在定子中產生反向的感應電流，從而定子繞組的電流。頻率設置：在源關閉狀態(tài)可通過鼠標選中液晶屏的頻率編輯框設置頻率。頻率設置范圍是40Hz～70Hz，分辨率為0.0001Hz 。超出范圍將會自動按頻率的值或者值輸出頻率值。也可通過面板按鍵編輯器進行頻率設置：對交流源的頻率信號進行調節(jié)。按鍵編輯器顯示為F=××.××××Hz；若交流源處于關閉狀態(tài)，則打開并輸出交流源，源幅度為量限幅度。光標指示當前欲調節(jié)細度，按【←】鍵可左移光標，按【→】鍵可右移光標。確定好調節(jié)細度后旋轉編碼器可對頻率信號進行升/降調節(jié)

GB/T12325-2008《V錐流量計》中規(guī)定：電能質量儀的35kV及以上供電電壓正、負偏差值之和不超過標稱電壓的10%；20kV及以下三相供電電壓允許偏差為標稱電壓的土7%；220V單相供電電壓允許偏差為標稱電壓的+7%，－10%。三相電壓不平衡GB/T15543-2008《電能質量三相電壓不平衡》中規(guī)定：電力系統(tǒng)公共連接點電壓不平衡度限值為：電網(wǎng)正常運行時，負序電壓不平衡度不超過2%，短時不得超過4%；低壓系統(tǒng)零序電壓限值暫不做規(guī)定，但各相電壓必須滿足GB/T12325的要求。

直流標準源參數(shù)操作

當用鼠標選中標準源視窗中〖交直流〗單選按鈕的〖直流〗選項時，標準源視窗將處于直流標準源狀態(tài)。此時所有交流源參數(shù)將處于變灰無效狀態(tài)。僅直流源參數(shù)可進行操作。

在直流標準源輸出前可以對直流標準源的量限進行設置；設置完畢，按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵，HN8005B將輸出所設定的標準直流信號。

對于直流參數(shù)的設置與修改可以通過兩種方式:

方式一：直接使用【百分比鍵】操作。直流源將按當前選擇的量限百分比進行輸出。若直流源處于關閉狀態(tài)，則打開并輸出直流源，若直流源已處于輸出狀態(tài)，則直接按量限百分比輸出相應幅度。

相位噪聲指標對于當前的射頻微波系統(tǒng)、移動通信系統(tǒng)、雷達系統(tǒng)等電子系統(tǒng)影響非常明顯，將直接影響系統(tǒng)指標的優(yōu)劣。該項指標對于系統(tǒng)的研發(fā)、設計均具有指導意義。相位噪聲指標的測試手段很多，如何能夠的測量該指標是射頻微波領域的一項重要任務。隨著當前接收機相位噪聲指標越來越高，相應的測試技術和測試手段也有了很大的進步。同時，與相位噪聲測試相關的其他測試需求也越來越多，如何準確的進行這些指標的測試也愈發(fā)重要。