HN8001A三相交直流指示儀表，電測(cè)儀表檢定裝置 三相交直流采樣變送器校驗(yàn)儀 電壓監(jiān)測(cè)儀校驗(yàn)裝置 生產(chǎn)廠家 三相電測(cè)儀表檢定裝置

車高平 13608980122/15689901059

輸出交直流電壓、電流、相位和功率均為高精度、高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)源，軟件校準(zhǔn)。各項(xiàng)輸出均采用動(dòng)態(tài)負(fù)載自動(dòng)調(diào)整技術(shù),降低了負(fù)載調(diào)整率。采用高速交流采樣、高速數(shù)字信號(hào)處理器（DSP）、復(fù)雜可編程邏輯陣列（CPLD）、大功率集成功放、嵌入式計(jì)算機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)而成，將系統(tǒng)、測(cè)試和信號(hào)高度集成，體積小，重量輕，可靠性極高，功能性極強(qiáng)。用于檢測(cè)數(shù)字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數(shù)字測(cè)控裝置、變送器、交流采樣裝置

示波記錄儀隔離測(cè)試示波記錄儀從儀器板卡著手，各輸入通道之間相互絕緣隔離，可程度確保在強(qiáng)干擾、多參考電壓等復(fù)雜環(huán)境下的測(cè)試，同時(shí)隔離板卡精度能夠達(dá)到，同時(shí)隔離板卡精度可以達(dá)到.3%，.3%，遠(yuǎn)高于市面上較為普遍的八位ADC示波器2%的精度。多通道測(cè)試在測(cè)試中，通道數(shù)往往非常重要，比如三相輸入，三相輸出的變頻器，六相電壓電流就需要十二個(gè)通道，一般的示波器通常只有4個(gè)通道，無法滿足需求，目前主流的應(yīng)對(duì)方法是，使用4通道示波器，電壓差分和電流各兩個(gè)，每次測(cè)量?jī)上嚯娏麟妷海笤贉y(cè)試其他相，如此一來，就不能保證測(cè)試的同步性，從而造成了很大的誤差，示波記錄儀可選配8個(gè)卡槽，可根據(jù)需求選配不同卡槽，輕松變?yōu)榘送ǖ?，十六通道的高精度隔離示波器，保證測(cè)試的同步性，**性，準(zhǔn)確性，為電源測(cè)試領(lǐng)域提供強(qiáng)有力的保障。
 技術(shù)參數(shù)：

整機(jī)有效精度 0.05級(jí)

交直流電壓輸出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

調(diào)節(jié)范圍：(0～120)%RG RG為量限,下同

準(zhǔn)確度：0.05%RG

 交直流電流輸出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

調(diào)節(jié)范圍:  (0～120)%RG   RG為量限,下同；

準(zhǔn)確度： 0.05%RG

     三相交直流采樣變送器校驗(yàn)儀 電壓監(jiān)測(cè)儀校驗(yàn)裝置 生產(chǎn)廠家 三相電測(cè)儀表檢定裝置一般來說，時(shí)鐘頻率跑的越快，則CPU每秒所能完成的運(yùn)算次數(shù)就越多，性能自然更好，隨著時(shí)鐘頻率的增加，CPU就會(huì)變得越來越熱，這是CPU內(nèi)部CMOS管耗散功率加大的體現(xiàn)，過高的溫度會(huì)影響系統(tǒng)的運(yùn)行，所以有必要采取措施來“監(jiān)控”CPU的溫度，把它限制在一定溫度范圍內(nèi)，以確保CPU的可靠運(yùn)行。由于二極管制造工藝的性，我們可以利用二極管的伏安特性來測(cè)量CPU的溫度，它的伏安特性如下圖：，將PN結(jié)用外殼封裝起來，并加上電極引線就構(gòu)成了半導(dǎo)體二極管，簡(jiǎn)稱為二極管。頻率設(shè)置：在源關(guān)閉狀態(tài)可通過鼠標(biāo)選中液晶屏的頻率編輯框設(shè)置頻率。頻率設(shè)置范圍是40Hz～70Hz，分辨率為0.0001Hz 。超出范圍將會(huì)自動(dòng)按頻率的值或者值輸出頻率值。也可通過面板按鍵編輯器進(jìn)行頻率設(shè)置：對(duì)交流源的頻率信號(hào)進(jìn)行調(diào)節(jié)。按鍵編輯器顯示為F=××.××××Hz；若交流源處于關(guān)閉狀態(tài)，則打開并輸出交流源，源幅度為量限幅度。光標(biāo)指示當(dāng)前欲調(diào)節(jié)細(xì)度，按【←】鍵可左移光標(biāo)，按【→】鍵可右移光標(biāo)。確定好調(diào)節(jié)細(xì)度后旋轉(zhuǎn)編碼器可對(duì)頻率信號(hào)進(jìn)行升/降調(diào)節(jié)

半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。

直流標(biāo)準(zhǔn)源參數(shù)操作

當(dāng)用鼠標(biāo)選中標(biāo)準(zhǔn)源視窗中〖交直流〗單選按鈕的〖直流〗選項(xiàng)時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)源視窗將處于直流標(biāo)準(zhǔn)源狀態(tài)。此時(shí)所有交流源參數(shù)將處于變灰無效狀態(tài)。僅直流源參數(shù)可進(jìn)行操作。

在直流標(biāo)準(zhǔn)源輸出前可以對(duì)直流標(biāo)準(zhǔn)源的量限進(jìn)行設(shè)置；設(shè)置完畢，按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵，HN8005B將輸出所設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)直流信號(hào)。

對(duì)于直流參數(shù)的設(shè)置與修改可以通過兩種方式:

方式一：直接使用【百分比鍵】操作。直流源將按當(dāng)前選擇的量限百分比進(jìn)行輸出。若直流源處于關(guān)閉狀態(tài)，則打開并輸出直流源，若直流源已處于輸出狀態(tài)，則直接按量限百分比輸出相應(yīng)幅度。

下面我們就來了解一下這兩個(gè)電路的基本知識(shí)。模擬電路與數(shù)字電路的定義及特點(diǎn)：模擬電路(電子電路)模擬信號(hào)處理模擬信號(hào)的電子電路。“模擬”二字主要指電壓(或電流)對(duì)于真實(shí)信號(hào)成比例的再現(xiàn)。其主要特點(diǎn)是：函數(shù)的取值為無限多個(gè);當(dāng)圖像信息和聲音信息改變時(shí)，信號(hào)的波形也改變，即模擬信號(hào)待傳播的信息包含在它的波形之中(信息變化規(guī)律直接反映在模擬信號(hào)的幅度、頻率和相位的變化上)。初級(jí)模擬電路主要解決兩個(gè)大的方面：1放大、2信號(hào)源。