HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 三相標(biāo)準(zhǔn)源 多表位電壓監(jiān)測儀校驗(yàn)裝置 價(jià)格 多功能儀表校驗(yàn)臺(tái)

車高平 13608980122/15689901059

輸出交直流電壓、電流、相位和功率均為高精度、高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)源，軟件校準(zhǔn)。各項(xiàng)輸出均采用動(dòng)態(tài)負(fù)載自動(dòng)調(diào)整技術(shù),降低了負(fù)載調(diào)整率。采用高速交流采樣、高速數(shù)字信號(hào)處理器（DSP）、復(fù)雜可編程邏輯陣列（CPLD）、大功率集成功放、嵌入式計(jì)算機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)而成，將系統(tǒng)、測試和信號(hào)高度集成，體積小，重量輕，可靠性極高，功能性極強(qiáng)。用于檢測數(shù)字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數(shù)字測控裝置、變送器、交流采樣裝置

根據(jù)與不同的工作狀態(tài)有關(guān)的模式數(shù)量，耗電量會(huì)立即從幾百納安躍升到幾百毫安。傳統(tǒng)儀器可能會(huì)滿足低端需求(如皮安表)或需求(如電流)，但其一般不能涵蓋整個(gè)電流范圍。重新配置儀器設(shè)置，甚至測試設(shè)置不僅容易出錯(cuò)，而且在實(shí)踐中并不可行。對大多數(shù)物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用來說，處理這么寬的動(dòng)態(tài)范圍，的方法是使用數(shù)字萬用表(DMM)的自動(dòng)量程功能。在理想情況下，能使用單一的配置設(shè)置，捕獲很寬的電壓和電流動(dòng)態(tài)測量范圍()。
 技術(shù)參數(shù)：

整機(jī)有效精度 0.05級

交直流電壓輸出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

調(diào)節(jié)范圍：(0～120)%RG RG為量限,下同

準(zhǔn)確度：0.05%RG

 交直流電流輸出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

調(diào)節(jié)范圍:  (0～120)%RG   RG為量限,下同；

準(zhǔn)確度： 0.05%RG

     三相標(biāo)準(zhǔn)源 多表位電壓監(jiān)測儀校驗(yàn)裝置 價(jià)格 多功能儀表校驗(yàn)臺(tái)探傷儀器USIP40（GE）；探傷標(biāo)準(zhǔn)按AMS2631DclassA1，標(biāo)準(zhǔn)人工傷φ1.2-9dB檢測，對報(bào)警處標(biāo)記位置進(jìn)行標(biāo)識(shí)。該缺陷截面距離邊部38mm（離棒材幾何中心2mm）。見圖。圖自動(dòng)探傷截圖低倍解剖。發(fā)現(xiàn)距中心處2mm有明顯亮斑點(diǎn)顯示圖低倍解剖觀察距中心2mm處有明顯亮斑點(diǎn)。圖放大200倍高倍發(fā)現(xiàn)缺陷部位有明顯亮斑在放大200倍觀察，解剖報(bào)警處發(fā)現(xiàn)亮斑痕跡，亮斑組織和正常組織有明顯差異。頻率設(shè)置：在源關(guān)閉狀態(tài)可通過鼠標(biāo)選中液晶屏的頻率編輯框設(shè)置頻率。頻率設(shè)置范圍是40Hz～70Hz，分辨率為0.0001Hz 。超出范圍將會(huì)自動(dòng)按頻率的值或者值輸出頻率值。也可通過面板按鍵編輯器進(jìn)行頻率設(shè)置：對交流源的頻率信號(hào)進(jìn)行調(diào)節(jié)。按鍵編輯器顯示為F=××.××××Hz；若交流源處于關(guān)閉狀態(tài)，則打開并輸出交流源，源幅度為量限幅度。光標(biāo)指示當(dāng)前欲調(diào)節(jié)細(xì)度，按【←】鍵可左移光標(biāo)，按【→】鍵可右移光標(biāo)。確定好調(diào)節(jié)細(xì)度后旋轉(zhuǎn)編碼器可對頻率信號(hào)進(jìn)行升/降調(diào)節(jié)

在這個(gè)追求極薄極輕的時(shí)代，如何在小體積內(nèi)塞進(jìn)一塊功率很大的電池來保證續(xù)航已成為行業(yè)內(nèi)需克服的重點(diǎn)。對于電池的模擬測試也越來越被行業(yè)重視。相比較于去使用一個(gè)真實(shí)的電池進(jìn)行測試，通過模擬電池特性去測試電池有著非常多的好處。，仿真電池能夠非常有效地減少測試時(shí)間，提供重復(fù)性的測試結(jié)果并且創(chuàng)造一個(gè)**的測試環(huán)境。另外，通過測試電池溫度和老化測試，也可以減少準(zhǔn)備時(shí)間，避免操作者的失誤以及結(jié)果的偏差等因素。

直流標(biāo)準(zhǔn)源參數(shù)操作

當(dāng)用鼠標(biāo)選中標(biāo)準(zhǔn)源視窗中〖交直流〗單選按鈕的〖直流〗選項(xiàng)時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)源視窗將處于直流標(biāo)準(zhǔn)源狀態(tài)。此時(shí)所有交流源參數(shù)將處于變灰無效狀態(tài)。僅直流源參數(shù)可進(jìn)行操作。

在直流標(biāo)準(zhǔn)源輸出前可以對直流標(biāo)準(zhǔn)源的量限進(jìn)行設(shè)置；設(shè)置完畢，按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵，HN8005B將輸出所設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)直流信號(hào)。

對于直流參數(shù)的設(shè)置與修改可以通過兩種方式:

方式一：直接使用【百分比鍵】操作。直流源將按當(dāng)前選擇的量限百分比進(jìn)行輸出。若直流源處于關(guān)閉狀態(tài)，則打開并輸出直流源，若直流源已處于輸出狀態(tài)，則直接按量限百分比輸出相應(yīng)幅度。

簡介40多年來，數(shù)字功能測試一直是測試領(lǐng)域的一部分。早的測試系統(tǒng)采用簡單的靜態(tài)數(shù)字測試功能。然而，隨著這些數(shù)字設(shè)備，模塊和系統(tǒng)的性能、復(fù)雜性的發(fā)展，數(shù)字測試儀器也在不斷發(fā)展。特別是，器件切換速率相關(guān)技術(shù)的持續(xù)進(jìn)步已經(jīng)對測試儀器和系統(tǒng)提供了相對更高的性能要求，而今天的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)提供了具有高功耗的數(shù)GHz測試功能。在**-航天應(yīng)用，數(shù)字功能測試要求不斷的提出一系列特的要求和挑戰(zhàn)。與設(shè)備測試相關(guān)的測試要求不同，M-A應(yīng)用主要側(cè)重于支持模塊和系統(tǒng)級測試。