HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 交直流采樣校驗(yàn)儀 電壓監(jiān)測儀校驗(yàn)裝置 30年經(jīng)驗(yàn) 多功能電測儀表校驗(yàn)儀

車高平 13608980122/15689901059

輸出交直流電壓、電流、相位和功率均為高精度、高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)源，軟件校準(zhǔn)。各項(xiàng)輸出均采用動態(tài)負(fù)載自動調(diào)整技術(shù),降低了負(fù)載調(diào)整率。采用高速交流采樣、高速數(shù)字信號處理器（DSP）、復(fù)雜可編程邏輯陣列（CPLD）、大功率集成功放、嵌入式計算機(jī)系統(tǒng)設(shè)計而成，將系統(tǒng)、測試和信號高度集成，體積小，重量輕，可靠性極高，功能性極強(qiáng)。用于檢測數(shù)字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數(shù)字測控裝置、變送器、交流采樣裝置

燒錄器的功能很簡單、很專一，那就是把數(shù)據(jù)完完整整、重復(fù)地復(fù)制到每一顆芯片上，復(fù)制成功了就提示Pass，復(fù)制失敗了就提示Fail；SmartPRO6000F-Plus是一臺全心專注于高品質(zhì)、率的Flash燒錄編程器；目前為止，有廣泛的、的燒錄客戶群，軟件、硬件和算法都是客戶批量生產(chǎn)驗(yàn)證過的，非常成熟。那問題究竟出在哪里呢，讓我們繼續(xù)看吧。先友情提醒一下，我們的燒錄軟件做有一個監(jiān)控“電子眼”(操作日記)，時刻記錄著客戶對每顆芯片的燒錄情況；客戶有任何違規(guī)操作或者燒錄異?，F(xiàn)象，我們都可以迅速重返到“案發(fā)現(xiàn)場”，找到問題的根源；我們時間讓客戶把操作日記發(fā)過來，從操作日記上看，客戶反饋的現(xiàn)象確實(shí)存在，日志也幫助我們很快找到了這種異常：但是這種現(xiàn)象并不是因?yàn)闊浧髟斐?，而是芯片本身存在的工藝差異原因?qū)е碌?；可能有人就會馬上反駁，明顯地出現(xiàn)如此高的燒錄率，編程器原廠就沒有任何責(zé)任，而是一句話就把問題推到芯片原廠？不要著急，繼續(xù)往下看。
 技術(shù)參數(shù)：

整機(jī)有效精度 0.05級

交直流電壓輸出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

調(diào)節(jié)范圍：(0～120)%RG RG為量限,下同

準(zhǔn)確度：0.05%RG

 交直流電流輸出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

調(diào)節(jié)范圍:  (0～120)%RG   RG為量限,下同；

準(zhǔn)確度： 0.05%RG

     交直流采樣校驗(yàn)儀 電壓監(jiān)測儀校驗(yàn)裝置 30年經(jīng)驗(yàn) 多功能電測儀表校驗(yàn)儀此外，為了實(shí)現(xiàn)高波長分辨率，這個方法需要小區(qū)域探測器。較小的探測器區(qū)域能夠減少總體光采集，并因此降低了靈敏度。在種方法中，衍射光柵和聚焦目標(biāo)的位置是固定的，并且色散光聚焦在一個探測器的線性陣列上。由于這些波長在空間上被光柵隔離開來，探測器陣列中的每個探測器采集小波長范圍內(nèi)的光，而作為離散波長函數(shù)的功率的獲得方法與在數(shù)碼相機(jī)上進(jìn)行圖像采集的方法相類似。這就免除了對于機(jī)械系統(tǒng)和精密同步電子元器件的需要。頻率設(shè)置：在源關(guān)閉狀態(tài)可通過鼠標(biāo)選中液晶屏的頻率編輯框設(shè)置頻率。頻率設(shè)置范圍是40Hz～70Hz，分辨率為0.0001Hz 。超出范圍將會自動按頻率的值或者值輸出頻率值。也可通過面板按鍵編輯器進(jìn)行頻率設(shè)置：對交流源的頻率信號進(jìn)行調(diào)節(jié)。按鍵編輯器顯示為F=××.××××Hz；若交流源處于關(guān)閉狀態(tài)，則打開并輸出交流源，源幅度為量限幅度。光標(biāo)指示當(dāng)前欲調(diào)節(jié)細(xì)度，按【←】鍵可左移光標(biāo)，按【→】鍵可右移光標(biāo)。確定好調(diào)節(jié)細(xì)度后旋轉(zhuǎn)編碼器可對頻率信號進(jìn)行升/降調(diào)節(jié)

天下武功，唯快不破。在保證**的基礎(chǔ)上盡可能提高測試效率也是T/R組件測試領(lǐng)域不變的追求和目標(biāo)。當(dāng)然，提高測試效率的方法有很多，提高測試儀器儀表的性能（提高掃描速度和增加測試功能等）、簡化連接和校準(zhǔn)過程以及優(yōu)化測試程序和工藝等。還有沒有其它辦法呢？那就是并行測試，這也是當(dāng)今自動測試技術(shù)領(lǐng)域發(fā)展的重要趨勢和方向之一。所謂并行測試就是充分利用測試儀器和測試通道等資源，按照一定的調(diào)度規(guī)劃同時執(zhí)行多個測試任務(wù)，從而提高測試效率。

直流標(biāo)準(zhǔn)源參數(shù)操作

當(dāng)用鼠標(biāo)選中標(biāo)準(zhǔn)源視窗中〖交直流〗單選按鈕的〖直流〗選項(xiàng)時，標(biāo)準(zhǔn)源視窗將處于直流標(biāo)準(zhǔn)源狀態(tài)。此時所有交流源參數(shù)將處于變灰無效狀態(tài)。僅直流源參數(shù)可進(jìn)行操作。

在直流標(biāo)準(zhǔn)源輸出前可以對直流標(biāo)準(zhǔn)源的量限進(jìn)行設(shè)置；設(shè)置完畢，按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵，HN8005B將輸出所設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)直流信號。

對于直流參數(shù)的設(shè)置與修改可以通過兩種方式:

方式一：直接使用【百分比鍵】操作。直流源將按當(dāng)前選擇的量限百分比進(jìn)行輸出。若直流源處于關(guān)閉狀態(tài)，則打開并輸出直流源，若直流源已處于輸出狀態(tài)，則直接按量限百分比輸出相應(yīng)幅度。

當(dāng)被測表面粗糙度值大于Ra=0.8μm時，隨著粗糙度值的增大，被測表面對壓頭的抗力愈小，其塑性變形愈大，圓形壓痕就愈大，相應(yīng)的硬度值也就愈小，致使測量值偏低于其真實(shí)值。試驗(yàn)證明，測量偏差在10HB以上（注：用臺式硬度計測量洛氏硬度時，粗糙度的影響較小，本文就不進(jìn)行了）。當(dāng)我們用便攜式微電腦超聲硬度計測量硬度時，粗糙度的影響較用臺式硬度計就更大了。當(dāng)被測表面粗糙度值大于Ra=0.8μm時，隨著粗糙度值的增大，硬度計的金剛石角錐體壓頭與被測表面的接觸面積就會增大。