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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:三相交直流采樣變送器校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗裝置 定制定做 三相交直流儀表校驗儀

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
可自動或手動檢驗電力系統(tǒng)中工頻電表(電壓表、電流表、功率表、頻率表、功率因數(shù)表、相位表)、單相交流電能表(選項)、三相交流電能表(選項)以及直流電壓、電流表的基本誤差。三相交直流采樣變送器校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗裝置 定制定做 三相交直流儀表校驗儀
詳情介紹:

HN8001A三相交直流指示儀表,電測儀表檢定裝置 三相交直流采樣變送器校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗裝置 定制定做 三相交直流儀表校驗儀

三相交直流采樣變送器校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗裝置 定制定做 三相交直流儀表校驗儀車高平 13608980122/15689901059

輸出交直流電壓、電流、相位和功率均為高精度、高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)源,軟件校準(zhǔn)。各項輸出均采用動態(tài)負(fù)載自動調(diào)整技術(shù),降低了負(fù)載調(diào)整率。采用高速交流采樣、高速數(shù)字信號處理器(DSP)、復(fù)雜可編程邏輯陣列(CPLD)、大功率集成功放、嵌入式計算機系統(tǒng)設(shè)計而成,將系統(tǒng)、測試和信號高度集成,體積小,重量輕,可靠性極高,功能性極強。用于檢測數(shù)字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數(shù)字測控裝置、變送器、交流采樣裝置

對于CAN總線間的電抗,我們希望并聯(lián)容抗越大越好,串聯(lián)感抗越小越好,因為當(dāng)信號線路寄生電容和寄生電感存在時,會導(dǎo)致信號的上升/下降沿跳變時間變長,同時也會導(dǎo)致信號幅值變小從而可能導(dǎo)致CAN信號通信過程中顯隱性誤判。測量方法阻抗測量有多種可選擇的方法,每種方法都有優(yōu)缺點,為了達(dá)到的測量效果需要考慮測量過程中的頻率覆蓋范圍、測量量程、測量精度和操作的方便性。而在這里,我們選擇普遍使用的電流-電壓直接測量法作為例子。
 三相交直流采樣變送器校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗裝置 定制定做 三相交直流儀表校驗儀技術(shù)參數(shù):

整機有效精度 0.05級

交直流電壓輸出

量限:660V、380V、220V、100V、57.735V  

調(diào)節(jié)范圍:(0~120)%RG RG為量限,下同

準(zhǔn)確度:0.05%RG

 交直流電流輸出

量限: 20A、5A、1A、0.2A

調(diào)節(jié)范圍:  (0~120)%RG   RG為量限,下同;

準(zhǔn)確度: 0.05%RG

     三相交直流采樣變送器校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗裝置 定制定做 三相交直流儀表校驗儀半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測試,芯片封裝和封裝后測試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容,主要集中在WAT,CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對Wafer劃片槽(ScribeLine)測試鍵(TestKey)的測試,通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù),測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上,由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容,測完某條TestKey后,ProbeCard會自動移到下一條TestKey,直到整片Wafer測試完成。三相交直流采樣變送器校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗裝置 定制定做 三相交直流儀表校驗儀頻率設(shè)置:在源關(guān)閉狀態(tài)可通過鼠標(biāo)選中液晶屏的頻率編輯框設(shè)置頻率。頻率設(shè)置范圍是40Hz~70Hz,分辨率為0.0001Hz 。超出范圍將會自動按頻率的值或者值輸出頻率值。也可通過面板按鍵編輯器進行頻率設(shè)置:對交流源的頻率信號進行調(diào)節(jié)。按鍵編輯器顯示為F=××.××××Hz;若交流源處于關(guān)閉狀態(tài),則打開并輸出交流源,源幅度為量限幅度。光標(biāo)指示當(dāng)前欲調(diào)節(jié)細(xì)度,按【←】鍵可左移光標(biāo),按【→】鍵可右移光標(biāo)。確定好調(diào)節(jié)細(xì)度后旋轉(zhuǎn)編碼器可對頻率信號進行升/降調(diào)節(jié)

內(nèi)置DSP使用戶能夠?qū)C器學(xué)習(xí)推向應(yīng)用的前沿。Yole的Malquin補充表示,在一個組件中集成DSP、MCU和,帶來了更低的互連損耗,以及更快的處理速度。TI毫米波雷達(dá)中使用的DSP是一款6MHz用戶可編程的C674xDSP,以及一顆2MHz用戶可編程的ARMCortex-R4F處理器。AWR1642毫米波雷達(dá)芯片的架構(gòu)框圖毫米波雷達(dá)探尋更廣泛的汽車應(yīng)用盲點監(jiān)測和自適應(yīng)巡航等基礎(chǔ)ADAS(先進駕駛輔助系統(tǒng))功能已經(jīng)很常見了,利用24GHz側(cè)方雷達(dá)和77GHz前方雷達(dá)就可以輕松實現(xiàn)。三相交直流采樣變送器校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗裝置 定制定做 三相交直流儀表校驗儀

直流標(biāo)準(zhǔn)源參數(shù)操作

當(dāng)用鼠標(biāo)選中標(biāo)準(zhǔn)源視窗中〖交直流〗單選按鈕的〖直流〗選項時,標(biāo)準(zhǔn)源視窗將處于直流標(biāo)準(zhǔn)源狀態(tài)。此時所有交流源參數(shù)將處于變灰無效狀態(tài)。僅直流源參數(shù)可進行操作。

在直流標(biāo)準(zhǔn)源輸出前可以對直流標(biāo)準(zhǔn)源的量限進行設(shè)置;設(shè)置完畢,按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵,HN8005B將輸出所設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)直流信號。

對于直流參數(shù)的設(shè)置與修改可以通過兩種方式:

方式一:直接使用【百分比鍵】操作。直流源將按當(dāng)前選擇的量限百分比進行輸出。若直流源處于關(guān)閉狀態(tài),則打開并輸出直流源,若直流源已處于輸出狀態(tài),則直接按量限百分比輸出相應(yīng)幅度。

紅外測距的常用方法和原理時間差法測距原理時間差法測距原理是將紅外測距傳感器的紅外發(fā)射端發(fā)送信號與接收端接受信號的時間差t寫入單片機中,通過光傳播距離公式來計算出傳播距離L。L=C*t式中c是光的傳播速度為3X108m/s。反射能量法測距原理反射能量法是由發(fā)射控制電路控制發(fā)光元件發(fā)出信號(通常為紅外線)射向目標(biāo)物體,經(jīng)物體反射后傳回系統(tǒng)的接收端,通過光電轉(zhuǎn)換器接收的光能量大小進而計算出目標(biāo)物體的距離L。三相交直流采樣變送器校驗儀 多表位電壓監(jiān)測儀校驗裝置 定制定做 三相交直流儀表校驗儀

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