HN8001A三相交直流指示儀表，電測(cè)儀表檢定裝置 多表位交流采樣變送器校驗(yàn)儀 電壓監(jiān)測(cè)儀校驗(yàn)儀 定制定做 多功能電測(cè)儀表校驗(yàn)臺(tái)

車高平 13608980122/15689901059

輸出交直流電壓、電流、相位和功率均為高精度、高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)源，軟件校準(zhǔn)。各項(xiàng)輸出均采用動(dòng)態(tài)負(fù)載自動(dòng)調(diào)整技術(shù),降低了負(fù)載調(diào)整率。采用高速交流采樣、高速數(shù)字信號(hào)處理器（DSP）、復(fù)雜可編程邏輯陣列（CPLD）、大功率集成功放、嵌入式計(jì)算機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)而成，將系統(tǒng)、測(cè)試和信號(hào)高度集成，體積小，重量輕，可靠性極高，功能性極強(qiáng)。用于檢測(cè)數(shù)字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數(shù)字測(cè)控裝置、變送器、交流采樣裝置

只要一個(gè)簡單的內(nèi)部AND或者OR門控就足以避免使用外部組件，或是改善CPU性能。所有四種方法都支持用定制邏輯門控輸入和輸出信號(hào)。這類方法可借助時(shí)鐘門控輸入，以便使用計(jì)數(shù)器測(cè)量外部時(shí)鐘頻率。這四類邏輯模塊均支持的一個(gè)簡單例子是一種調(diào)制UART輸出，使之用于IR通信的方法。在此例中，不僅有所示的內(nèi)部AND門控，還能夠?qū)碜詴r(shí)鐘或計(jì)數(shù)器的信號(hào)及UARTTX輸出路由到AND門控。簡單調(diào)制的UART[pagebreak]AtmelXMEGA定制邏輯（XCL）AtmelXCL模塊內(nèi)置兩個(gè)LUT（查找表）模塊，配套兩個(gè)8位定時(shí)器/計(jì)數(shù)器模塊。
 技術(shù)參數(shù)：

整機(jī)有效精度 0.05級(jí)

交直流電壓輸出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

調(diào)節(jié)范圍：(0～120)%RG RG為量限,下同

準(zhǔn)確度：0.05%RG

 交直流電流輸出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

調(diào)節(jié)范圍:  (0～120)%RG   RG為量限,下同；

準(zhǔn)確度： 0.05%RG

     多表位交流采樣變送器校驗(yàn)儀 電壓監(jiān)測(cè)儀校驗(yàn)儀 定制定做 多功能電測(cè)儀表校驗(yàn)臺(tái)對(duì)于故宮內(nèi)部的保護(hù)機(jī)構(gòu)，公也充滿了好奇。在揭牌儀式的當(dāng)日，故宮文保科技部對(duì)外展示了部分研究儀器。故宮文?？萍疾靠梢哉f是一個(gè)由“古法”和“今術(shù)”結(jié)合構(gòu)建起的“”，多在“醫(yī)生”的“”和“呵護(hù)”下得到重生?！搬t(yī)生”的業(yè)務(wù)分兩部分，一部分沿襲和繼承的傳統(tǒng)保護(hù)修復(fù)技術(shù)，另一部分主要利用現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)，探索現(xiàn)代科技手段在保護(hù)修復(fù)工作中的應(yīng)用及其與傳統(tǒng)修復(fù)技術(shù)的結(jié)合。頻率設(shè)置：在源關(guān)閉狀態(tài)可通過鼠標(biāo)選中液晶屏的頻率編輯框設(shè)置頻率。頻率設(shè)置范圍是40Hz～70Hz，分辨率為0.0001Hz 。超出范圍將會(huì)自動(dòng)按頻率的值或者值輸出頻率值。也可通過面板按鍵編輯器進(jìn)行頻率設(shè)置：對(duì)交流源的頻率信號(hào)進(jìn)行調(diào)節(jié)。按鍵編輯器顯示為F=××.××××Hz；若交流源處于關(guān)閉狀態(tài)，則打開并輸出交流源，源幅度為量限幅度。光標(biāo)指示當(dāng)前欲調(diào)節(jié)細(xì)度，按【←】鍵可左移光標(biāo)，按【→】鍵可右移光標(biāo)。確定好調(diào)節(jié)細(xì)度后旋轉(zhuǎn)編碼器可對(duì)頻率信號(hào)進(jìn)行升/降調(diào)節(jié)

在ISO882-5_27及ISO882-1_25的道路車輛熔斷器國標(biāo)中，對(duì)熔斷器的參數(shù)定義及測(cè)試指標(biāo)做了詳細(xì)的說明。完整的絲相關(guān)測(cè)試包含導(dǎo)通壓降測(cè)試，熔斷時(shí)間，級(jí)進(jìn)電流及分段能力測(cè)試。本文主要以SF3和SF51為待測(cè)對(duì)象，重點(diǎn)介紹熔斷時(shí)間測(cè)試。熔斷時(shí)間實(shí)驗(yàn)要求下圖摘自ISO882-1_27國標(biāo)中針對(duì)SF3和SF51的熔斷測(cè)試要求，熔斷時(shí)間需在過載電流從1.1IR~6.IR范圍內(nèi)測(cè)試，當(dāng)過載電流越大，熔斷時(shí)間越快。

直流標(biāo)準(zhǔn)源參數(shù)操作

當(dāng)用鼠標(biāo)選中標(biāo)準(zhǔn)源視窗中〖交直流〗單選按鈕的〖直流〗選項(xiàng)時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)源視窗將處于直流標(biāo)準(zhǔn)源狀態(tài)。此時(shí)所有交流源參數(shù)將處于變灰無效狀態(tài)。僅直流源參數(shù)可進(jìn)行操作。

在直流標(biāo)準(zhǔn)源輸出前可以對(duì)直流標(biāo)準(zhǔn)源的量限進(jìn)行設(shè)置；設(shè)置完畢，按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵，HN8005B將輸出所設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)直流信號(hào)。

對(duì)于直流參數(shù)的設(shè)置與修改可以通過兩種方式:

方式一：直接使用【百分比鍵】操作。直流源將按當(dāng)前選擇的量限百分比進(jìn)行輸出。若直流源處于關(guān)閉狀態(tài)，則打開并輸出直流源，若直流源已處于輸出狀態(tài)，則直接按量限百分比輸出相應(yīng)幅度。

應(yīng)用背景用頻裝備是現(xiàn)代化戰(zhàn)爭中的重要組成部分，在很多場(chǎng)合用頻裝備性能指標(biāo)的高低直接決定了戰(zhàn)爭全局的勝敗。然而，在的實(shí)際戰(zhàn)區(qū)的電磁環(huán)境中，充斥著種類繁多的復(fù)雜電磁信號(hào)，雷達(dá)、導(dǎo)航、通信、敵方干擾、自然噪聲等信號(hào)。同時(shí)由于電磁信號(hào)的傳播受到實(shí)際地理環(huán)境的顯著影響，導(dǎo)致戰(zhàn)區(qū)電磁環(huán)境異常復(fù)雜。用頻裝備在復(fù)雜電磁環(huán)境下的性能測(cè)試成為其研制過程中的重要內(nèi)容。概括來說，裝備的電磁性能測(cè)試按環(huán)境不同可分為三類。