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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:回路電阻測(cè)試儀檢定裝置 耐壓測(cè)試儀校驗(yàn)裝置 HN系列 絕緣電阻表校驗(yàn)裝置 大量供應(yīng)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
沖擊測(cè)試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試系依據(jù)相關(guān)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波(full)或截?cái)啵╟hopped) 的閃電突波(L.I)回路電阻測(cè)試儀檢定裝置 耐壓測(cè)試儀校驗(yàn)裝置 HN系列 絕緣電阻表校驗(yàn)裝置 大量供應(yīng)
詳情介紹:

安規(guī)測(cè)試儀檢定裝置有以下幾種 回路電阻測(cè)試儀檢定裝置 耐壓測(cè)試儀校驗(yàn)裝置 HN系列 絕緣電阻表校驗(yàn)裝置 大量供應(yīng)

回路電阻測(cè)試儀檢定裝置 耐壓測(cè)試儀校驗(yàn)裝置 HN系列 絕緣電阻表校驗(yàn)裝置 大量供應(yīng)HN8061A兆歐表檢定裝置


依據(jù)JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表(兆歐表)檢定規(guī)程》,用于檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔:0500V  05000V  -10000V
 短路電流:02mA    020mA
電阻0-200G-1T-10T測(cè)試LED光通量在CIE121:1966Clause6.CIE127-2007Clause6.2和IES-LM-79-08Clause9.0都有提到兩種測(cè)試方法:一種是采用積分球加光度計(jì)或光譜輻射計(jì)測(cè)試的積分法,這個(gè)是總光通量的相對(duì)測(cè)量方法(CIE121:1966Clause6.1.CIE127-2007Clause6.2.2和IES-LM-79-08Clause9.0);另外一種是采用分布光度計(jì)的光度法,這個(gè)是總光通量的測(cè)量方法。

HN8062A接地電阻表校驗(yàn)裝置

回路電阻測(cè)試儀檢定裝置 耐壓測(cè)試儀校驗(yàn)裝置 HN系列 絕緣電阻表校驗(yàn)裝置 大量供應(yīng)用于檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產(chǎn)的型號(hào)的模擬式、數(shù)字式接地電阻表以及進(jìn)口的同類儀表,也可做普通電阻箱使用,具有調(diào)節(jié)范圍寬,使用方便,造型美觀等優(yōu)點(diǎn)。在大多數(shù)流量表應(yīng)用中,主Arm-M4F應(yīng)用微控制器(MCU)可能僅需要每天傳輸兩三次測(cè)量結(jié)果。主MCU能在兩次傳輸之間保持待機(jī)模式,這顯著降低了系統(tǒng)的平均電流消耗。監(jiān)控水或燃?xì)饬髁渴冀K是必須要做的工作,因此您可以部署立的16位MCU超低功率協(xié)處理器,由該協(xié)處理器在主MCU待機(jī)時(shí)實(shí)施低功率測(cè)量。Simplelink?CC1312andCC1352R/P設(shè)備平臺(tái)(見(jiàn)圖1)及其超低功率傳感器控制器使您能夠獲得低功率并管理應(yīng)用、計(jì)量和無(wú)線射頻(RF)通信,所有這些功能均由單一芯片承載。


HN8063A耐電壓測(cè)試儀校驗(yàn)裝置

1、測(cè)量準(zhǔn)度: 

電壓:1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準(zhǔn)度:1級(jí)  0.5級(jí)  0.2級(jí)電氣隔離達(dá)到5V從CAN總線解耦電腦。使用簡(jiǎn)單并且它的緊湊塑料殼使該接口特別適用于隨身攜帶外出使用。新的CANFD標(biāo)準(zhǔn)(CANwithFlexibleDataRate)主要特點(diǎn)是更高的數(shù)據(jù)傳輸帶寬。64數(shù)據(jù)位每個(gè)CANFD幀(代替目前的8位)可以12Mbit/s比特率傳輸。CANFD向下兼容CAN2.A/B標(biāo)準(zhǔn),因此CANFD節(jié)點(diǎn)可用于現(xiàn)有的CAN網(wǎng)絡(luò)。在這種情況下,CANFD擴(kuò)展不適用。


HN8065A型泄漏電流測(cè)試儀檢定裝置

一、性能特點(diǎn)

1、源、表測(cè)量范圍:

       電壓源(AC,DC):電壓:250V50V、5V

       電流源(ACDC):20mA、2mA

       頻率計(jì):10-100HzDTF實(shí)際應(yīng)用有哪些?,利用DTF可以檢測(cè)線纜的質(zhì)量好壞,電纜在生產(chǎn)制造過(guò)程中由于電纜長(zhǎng)度、電纜類型、材質(zhì)的差異或者其他因素的影響可能造成電纜某些部分存在凹坑或裂紋的現(xiàn)象,而這些問(wèn)題很難通過(guò)眼睛去觀察檢驗(yàn),但是利用DTF即可以快速的檢測(cè)出線纜的缺陷之處。如下,我們使用鼎陽(yáng)科技SVA1015X測(cè)試出的傳輸線纜中的故障點(diǎn)情況:SVA1015X在經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)之后,使用前我們需要設(shè)置測(cè)量的基本參數(shù)以及要測(cè)量的數(shù)據(jù)類型包括:顯示類型:包括回波損耗、電壓駐波比、反射系數(shù)三者皆反映了整條線纜的匹配狀況。

HN8066A型接地導(dǎo)通電阻測(cè)試儀檢定裝置

2、一次額定電流:25A、2.5A。(30A3A)

3、電阻四盤連續(xù)帶電可調(diào)。

4、直接指示一次電流值,可做交直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。為了同時(shí)實(shí)現(xiàn)多通道和高速采集,橫河SMARTDAC+系列采集器采用了各模塊立A/D的硬件設(shè)計(jì),各模塊間的數(shù)據(jù)采集并行處理,而主機(jī)CPU負(fù)責(zé)所有通道的數(shù)據(jù)保存和上位通信,從而可以保證5ms*1ch的系統(tǒng)性能。靈活的信號(hào)輸入在研究和設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)領(lǐng)域使用的記錄儀,需要根據(jù)實(shí)驗(yàn)?zāi)康挠涗洀膫鞲衅骰蛘邚碾妷?電流源得到的信號(hào)。因此需要對(duì)應(yīng)溫度傳感器和電壓量程??刹鹦抖俗恿硗?,多點(diǎn)測(cè)試有大量接線的工作,為了提高接線的作業(yè)效率,可以選擇端子可拆卸的產(chǎn)品。

HN8068A型回路電阻測(cè)試儀,直流電阻測(cè)試儀檢定裝置

一次額定電流:

1A、10A、100A200A、300A600A


電阻盤0、12、3……20帶電可調(diào)。

直接指示一次電流值,可做直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。

回路電阻測(cè)試儀檢定裝置 耐壓測(cè)試儀校驗(yàn)裝置 HN系列 絕緣電阻表校驗(yàn)裝置 大量供應(yīng)檢測(cè)時(shí)只需要一臺(tái)電子天平對(duì)翡翠進(jìn)行稱重,經(jīng)過(guò)計(jì)算得到實(shí)際的密度,與相對(duì)密度進(jìn)行比較。翡翠的相對(duì)密度為3.30-3.36,與其他礦物可以進(jìn)行區(qū)分。折射儀那么翡翠的透明度又要如何進(jìn)行科學(xué)測(cè)定呢?一般翡翠都是呈現(xiàn)半透明至不透明的狀態(tài),極少數(shù)是透明的,通過(guò)肉眼就可以觀察到這些。根據(jù)《翡翠透明度測(cè)量和分級(jí)》,可以通過(guò)檢測(cè)透過(guò)率對(duì)翡翠的透明度進(jìn)行分級(jí)。在沒(méi)有寶石顯微鏡的情況下,鑒定人員可使用聚光手電、放大鏡觀察到翡翠的透明度。回路電阻測(cè)試儀檢定裝置 耐壓測(cè)試儀校驗(yàn)裝置 HN系列 絕緣電阻表校驗(yàn)裝置 大量供應(yīng)

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