安規(guī)測(cè)試儀檢定裝置有以下幾種 直流電阻測(cè)試儀檢定裝置 泄漏電流測(cè)試儀校驗(yàn)儀 HN系列 接地導(dǎo)通測(cè)試儀校驗(yàn)裝置 來(lái)電咨詢

HN8061A

依據(jù)JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》,用于檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T為糧庫(kù)提供有效地保障條件，保證糧食的**和長(zhǎng)期保存。倉(cāng)儲(chǔ)溫濕度監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，可確保糧食在儲(chǔ)存和運(yùn)輸過(guò)程中溫濕度的連續(xù)監(jiān)測(cè)和溫度超限報(bào)警，以及完整的溫濕度數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告。其工作原理是：可將無(wú)線分別布置在糧庫(kù)的墻壁、頂部、通風(fēng)口、回風(fēng)口、以及糧庫(kù)外墻；另外，采用分離式傳感器，采用延伸線的方式將傳感器預(yù)置在糧堆內(nèi)部或糧屯內(nèi)部，各個(gè)區(qū)域的通過(guò)無(wú)線的方式將監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)上傳到數(shù)采并上傳到計(jì)算機(jī)中，通過(guò)軟件即可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的可視化：曲線、表格以及可采用人性化的糧庫(kù)背景圖標(biāo)注，直接通過(guò)屏幕圖片就看到某一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的溫濕度情況。

HN8062A接地電阻表校驗(yàn)裝置

用于檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產(chǎn)的型號(hào)的模擬式、數(shù)字式接地電阻表以及進(jìn)口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調(diào)節(jié)范圍寬，使用方便，造型美觀等優(yōu)點(diǎn)。頻域必須與時(shí)域、數(shù)字信號(hào)或邏輯通道保持嚴(yán)密的同步。頻譜對(duì)調(diào)試工作的價(jià)值通常取決于速度(更新速度)，因此信號(hào)的捕捉和發(fā)現(xiàn)極富挑戰(zhàn)性。此外，儀器還必須具備足夠高的頻域和時(shí)域靈敏度，以便能夠捕捉到信號(hào)，如因電磁干擾或其它干擾所產(chǎn)生的頻域雜散信號(hào)等微小信號(hào)。為了獲得可以用來(lái)調(diào)試支持多種信號(hào)類型的復(fù)雜系統(tǒng)的有價(jià)值信息，必須基于時(shí)間事件、頻率事件或數(shù)字碼型實(shí)現(xiàn)觸發(fā)?？焖俑盗⑷~變換任何信號(hào)都是關(guān)于時(shí)間和幅值的函數(shù)。

HN8063A耐電壓測(cè)試儀校驗(yàn)裝置

1、測(cè)量準(zhǔn)度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準(zhǔn)度：1級(jí)  0.5級(jí)  0.2級(jí)LED研發(fā)一LED光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱利用熱像儀，工程師可以根據(jù)得到的光源半導(dǎo)體芯片發(fā)熱紅外熱圖，出其芯片在工作時(shí)的溫度，以及溫度的分布情況，在此基礎(chǔ)，達(dá)到提高LED產(chǎn)品壽命的目的。二LED模塊驅(qū)動(dòng)電路在LED產(chǎn)品研發(fā)中，需要工程師進(jìn)行一部分驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)，整流器電路模塊。利用紅外熱像儀，工程師可以迅速而便捷地發(fā)現(xiàn)電路上溫度異常之處，便于完善電路設(shè)計(jì)。三光衰試驗(yàn)LED產(chǎn)品的光衰就是光在傳輸中的信號(hào)減弱，而現(xiàn)階段的LED大廠們做出的LED產(chǎn)品光衰程度都不相同，大功率LED同樣存在光衰，這和溫度有著直接的關(guān)系，主要是由晶片、熒光粉和封裝技術(shù)決定的。

HN8065A型泄漏電流測(cè)試儀檢定裝置

一、性能特點(diǎn)

1、源、表測(cè)量范圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計(jì)：10-100HzUART轉(zhuǎn)CAN的應(yīng)用已廣泛應(yīng)用于各行各業(yè)，因此對(duì)于數(shù)據(jù)幀轉(zhuǎn)換的形式要求也逐漸增多，目前主流的轉(zhuǎn)換形式包括透明轉(zhuǎn)換、透明帶標(biāo)識(shí)轉(zhuǎn)換以及自定義轉(zhuǎn)換。具體是如何實(shí)現(xiàn)？本文將為大家介紹其中的透明帶標(biāo)識(shí)轉(zhuǎn)換。適用場(chǎng)景串口轉(zhuǎn)CAN模塊在什么時(shí)候需要用到呢？一是老產(chǎn)品面臨升級(jí)，需要用到CAN總線通信，但硬件平臺(tái)中的MCU沒(méi)有集成CAN總線的控制器。二是選用的MCU已經(jīng)包含CAN總線接口，但數(shù)量上不能滿足項(xiàng)目需求。

HN8066A型接地導(dǎo)通電阻測(cè)試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤(pán)連續(xù)帶電可調(diào)。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。后說(shuō)到的頻譜儀通常用在射頻領(lǐng)域，來(lái)觀察和被測(cè)信號(hào)的頻域特性，而我們常用其配合近場(chǎng)來(lái)掃描電磁干擾的功率峰值以及找到其對(duì)應(yīng)的頻點(diǎn)，初步判定輻射源屬性。眼看上去這三種儀器用途各不相同，但其實(shí)都可以用來(lái)測(cè)試晶體振蕩電路的頻率。如果使用示波器或者頻率計(jì)，配合無(wú)源電壓點(diǎn)測(cè)芯片的時(shí)鐘輸入引腳，就可以測(cè)量到頻率，如下是各部分的電路結(jié)構(gòu)：其中：CC2是晶體的負(fù)載電容，影響到頻率、負(fù)性阻抗等電路參數(shù)RC3是無(wú)源電壓的電路參數(shù)，R3是9Mohm，C3是幾個(gè)pF不等R是示波器或者頻率計(jì)輸入通道的等效阻抗和電容，R4是1Mohm，是幾十pF不等如果使用頻譜儀，配合近場(chǎng)靠近晶體封裝外殼就可以探測(cè)到輻射功率峰值的頻率，這個(gè)頻率也是晶體電路的振蕩頻率。

HN8068A型回路電阻測(cè)試儀，直流電阻測(cè)試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤(pán)0、1、2、3……20帶電可調(diào)。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。

直流電阻測(cè)試儀檢定裝置 泄漏電流測(cè)試儀校驗(yàn)儀 HN系列 接地導(dǎo)通測(cè)試儀校驗(yàn)裝置 來(lái)電咨詢當(dāng)我們用臺(tái)式硬度計(jì)測(cè)量洛氏硬度時(shí)，硬度計(jì)壓頭是金剛石錐體，壓頭（錐頂直徑為0.4毫米）與被測(cè)表面的接觸面積較小。加載時(shí)，壓頭很容易穿透擠壓層，因此硬度的測(cè)量偏差較小。試驗(yàn)證明，測(cè)量偏差一般在5HRC以內(nèi)。用臺(tái)式硬度計(jì)測(cè)量布氏硬度時(shí)，硬度計(jì)壓頭是鋼球壓頭，壓頭與被測(cè)表面的接觸面積較大。加載時(shí)，壓頭必須克服擠壓層的較大阻力才能被測(cè)表面，這就使硬度計(jì)壓頭的量不夠，所壓得的圓形壓痕也隨之變小，致使相應(yīng)的硬度值偏高于其真實(shí)值。