安規(guī)測試儀檢定裝置有以下幾種 接地電阻測試儀校驗儀 模擬交直流標準電阻器 HN系列 絕緣電阻測試儀校驗儀 5年保修

HN8061A

依據JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》,用于檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T相較于手持式體溫檢測設備，它更方便，也更**。但劉建國解釋，國內已有紅外無感測試產品目前存在兩大技術痛點，其一是復雜環(huán)境適應性較差，存在篩查測量不準確問題，其二是在人員走動戴口罩條件下，人臉識別難度大。此次，研究團隊利用在光電集成光電子工程方面積累的經驗，提出了自標校算法，突破了室外復雜環(huán)境下溫度監(jiān)測不準確的難題，使溫度篩查不再局限于溫度測量，大幅度提升了在人群中對發(fā)熱個體篩查的概率。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用于檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產的型號的模擬式、數字式接地電阻表以及進口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調節(jié)范圍寬，使用方便，造型美觀等優(yōu)點。消防領域為什么要用紅外熱像儀紅外熱像儀以溫度場紅外成像測溫為基礎，是目前預知性維護的高技術領域，也是消防災害的有效、高速手段。是各行各業(yè)在應對危險品火災、燃爆的重要手段。消防用的紅外熱像儀，它的主要作用是幫助我們的消防員，在濃煙或者漆黑的環(huán)境下，能夠看清火場中的環(huán)境，對火勢做出迅速的判斷，營救遇險人員。在火場中由于有濃煙的存在，我們用人眼是看不到很多東西的。濃煙可以說比霧霾更濃重幾十倍、幾百倍。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準度：1級  0.5級  0.2級很少有研究調查車載網絡中可能存在的威脅和對策。Liu等人、McCune等人和Kelberger等人，，提出了車載（控制器局域網（CAN），本地互連網絡（LIN），FlexRay等）的威脅和可能的對策，網絡**問題（基于VANET的問題不是考慮）。我們目前的調查是次在網聯(lián)車輛的背景下審查異常檢測技術。III.調查方法為了確保可重復性，我們的調查遵循Wholin的滾雪球方法如下。范圍定義：繼Chandola等人之后。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量范圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100Hz可由檢測到的脈沖數，計算出流速。使脈沖數與葉輪轉速再與流速建立關系。利用標定曲線V=kn+c計算流速V。其中：k為變換系數：c為預置值，n為葉輪轉速?？蓪⑷~輪的轉速直接換算成流速。光電風速傳感器所示，風帶動風速計旋轉，經齒輪傳動后帶動凸輪成比例旋轉。光纖被徒輪輪番遮斷形成一串光脈沖，經光電管轉換成定信號，經計算可檢測出風速。非接觸式旋轉速度傳感器壽命長，無需增加補償電路。但脈沖當量不是距離（mm）整數倍，因此速度運算相對比較復雜。

HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續(xù)帶電可調。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標準表用。AMRC擔負著研究航天和其他高附加值生產部門的先進制造和材料研究，通過與波音公司合作，在工業(yè)界和學術界之間的強強聯(lián)合，現已成為研究中心的運營模式。AMRC中的內部部門是先進結構試驗中心（AdvancedStructuralTestingCentre簡稱ASTC），是一家擁有高能力和性能并致力于填補總工程過程中的漏洞的測試和認證中心。由于許多AMRC研制的技術和產品都會用于關鍵安件，所以對于產品的認證和評價，是對新制造方法和技術的關鍵參考。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。

接地電阻測試儀校驗儀 模擬交直流標準電阻器 HN系列 絕緣電阻測試儀校驗儀 5年保修半導體生產流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關知識經常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。