安規(guī)測試儀檢定裝置有以下幾種 接地電阻測試儀校驗儀 耐電壓測試儀校驗儀 HN系列 接地導通測試儀校驗儀 生產廠家

HN8061A

依據JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》,用于檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T數字化傳感器的數字化值的是傳感器輸出的信息為數字量，可以實現(xiàn)遠距離、高精度傳輸，同時可無需中間環(huán)節(jié)接入計算機等數字處理設備。傳感器的集成化、智能化、微型化、網絡化和數字化等不是立的，而是相輔相成、相互關聯(lián)的，它們之間并沒有明確的界限。測控系統(tǒng)中的控制技術基本控制理論1.經典的控制理論經典控制論包括線性控制理論、采樣控制理論、非線性控制理論三個部分。經典控制論以拉普拉斯變換和Z變換為數學工具，以單輸入-單輸出的線性定常系統(tǒng)為主要的研究對象。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用于檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產的型號的模擬式、數字式接地電阻表以及進口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調節(jié)范圍寬，使用方便，造型美觀等優(yōu)點。在示波器的日常使用中，小伙伴們使用頻繁的功能應該是參數測量，信號的頻率、脈寬、幅度、均值等信息都可一覽無遺。但這些測量結果是否存在誤差？是否能讓人信服呢？在示波器的日常使用中，小伙伴們使用頻繁的功能應該是參數測量?，F(xiàn)在的示波器參數測量功能很強大，既可以測量頻率、脈寬等時間信息，也可以測量幅度、均值等電壓信息，還可以統(tǒng)計上升沿次數、面積等其他要素。不過對于這些測量結果，準確度是否讓人信服？本文就以上升時間的測量誤差為例，突出示波器在測量中的注意事項。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準度：1級  0.5級  0.2級CAN線短接到地線：l測試在CAN_H對地短路1分鐘，恢復后DUT是否能恢復通訊;l測試CAN_L對地短路1分鐘，恢復后DUT是否能恢復通訊;l測試CAN_H和CAN_L同時對地短路1分鐘，恢復后DUT是否能恢復通訊。CAN線短接到電源線：l測試在CAN_H對電源短路1分鐘，恢復后DUT是否能恢復通訊;l測試CAN_L對電源短路1分鐘，恢復后DUT是否能恢復通訊;l測試CAN_H和CAN_L同時對電源短路1分鐘，恢復后DUT是否能恢復通訊。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量范圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100HzMEMS麥克風結構和封裝示意圖這些優(yōu)勢使MEMS麥克風成為設計的理想選擇。當然，若想設計的聲級計，MEMS麥克風還需彌補一些缺陷。由于MEMS麥克風是在器件級提供數字信號，因此無法從電路中單移出壓力敏感腔，并單測試模擬鏈路。而聲級計的所有相關標準都編寫于2世紀7年代，并假設聲級計設計包括一個單的麥克風振腔，驅動一個模擬處理鏈或者一個模數轉換器（ADC），然后是一個數字處理鏈。這就要求使用電信號代替麥克風來測試聲級計。

HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續(xù)帶電可調。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標準表用。為什么差距會這么大？我們到底改了什么？下面我們詳細。，可以從張圖中看到，PA31的“保持”指示燈亮著，此時打開了保持功能，也就是說儀器上顯示的數據是值，而不是實時數據。其次在排電流顯示窗口，沒有看到電流值，而在排功率顯示窗口中卻有功率數據，由此可知電流量程選擇太大，這樣會給測量帶入更大的量程誤差。除了儀器本身的設置對測試結果會造成影響外，重要的還是接線方式。我們知道測試待機功率時，電流值非常小，所以功率很小。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。

接地電阻測試儀校驗儀 耐電壓測試儀校驗儀 HN系列 接地導通測試儀校驗儀 生產廠家摩爾定律美國人高登摩爾提出摩爾定律，即微處理器的速度每18個月翻一翻。這意味著同等價位的微處理器速度會變得越來越快，同等速度的微處理器會變得越來越便宜。作為迄今為止半導體發(fā)展意義深遠的摩爾定律，集成電路數十年的發(fā)展歷程，令人信服地證實了它的正確性。它并不是嚴格的物理定律，而是基于一種幾乎不可思議的技術進步現(xiàn)象所做出的總結。在過去10年中，摩爾定律所描述的技術進步不斷沖擊著計算機工業(yè)：晶體管越做越小，芯片性能越來越高，計算能力呈指數增長，生產成本和使用費用不斷降低。