2.5.1接線、拆線原則

l 測(cè)試前接線時(shí)應(yīng)按照“先儀器，后電池”的順序進(jìn)行接線，即：先接儀器端的連線，后接電池端的連線。

l 測(cè)試完畢，用戶拆線時(shí)應(yīng)按“先電池、后儀器”的順序進(jìn)行拆線，即先拆電池端的連線，后拆儀器端的連接。

2.5.2 放電電纜的連接

l 放電電纜線將測(cè)試儀的“放電電流接口”與電池組并接。

l 注：“正”（紅色）接電池組正極，“負(fù)”（黑色）接電池組負(fù)極。 嚴(yán)禁接反！

2.5.3 整組電壓采集線的連接

l 用整組電壓采集線將測(cè)試儀“整組電壓”與電池組正、負(fù)極并接。

l 注：整組電壓線的“正”（紅色夾子）接電池組正極，“負(fù)”（黑色夾接電池組負(fù)極。  嚴(yán)禁接反！

2.5.4 連接測(cè)試儀供電220V電源線。當(dāng)采用直流供電時(shí)不接。

MOSI-主設(shè)備數(shù)據(jù)輸出，從設(shè)備數(shù)據(jù)輸入;MISO–主設(shè)備數(shù)據(jù)輸入，從設(shè)備數(shù)據(jù)輸出;SCLK–時(shí)鐘信號(hào)，由主設(shè)備產(chǎn)生;SS–從設(shè)備使能信號(hào)，有主設(shè)備控制;SPI標(biāo)準(zhǔn)通訊接口SPI通訊接口的優(yōu)點(diǎn)是傳輸數(shù)據(jù)快，能達(dá)到幾兆到幾十兆，并且沒有系統(tǒng)開銷。SPI總線的缺點(diǎn)也比較明顯，主要是沒有的流控制，也沒有應(yīng)答機(jī)制確認(rèn)是否接收到數(shù)據(jù)。單線SPI接口還有一種另類的SPI通訊接口方式。

2.6電量采集（選配）

l 測(cè)試儀工作于在線監(jiān)測(cè)時(shí)，電量采集器用于監(jiān)測(cè)電池組的充放電電流。

l 測(cè)試儀工作于放電測(cè)試時(shí)，電量采集器用于測(cè)戶設(shè)備的放電電流。

l 電量采集器指示方向?yàn)殡姵亟M充電電流方向，請(qǐng)勿接反

2.7并機(jī)接線（選配）

l 必須具備兩臺(tái)儀器。

l 每臺(tái)儀器分別連接好測(cè)試線。

l 將兩臺(tái)儀器通過RS485接口連接一起。

X射線光譜儀的好壞常常是以X射線強(qiáng)度測(cè)量的理論統(tǒng)計(jì)誤差來表示的，BX系列波長(zhǎng)色散X射線熒光儀的穩(wěn)定性和再現(xiàn)性，已足以保證待測(cè)樣品測(cè)量的精度，被樣品的制樣技術(shù)成為影響準(zhǔn)確度的至關(guān)重要的因素，在樣品制備方面所花的工夫?qū)?huì)反映在結(jié)果的質(zhì)量上。X射線熒光儀器誤差的來源主要有以下幾個(gè)方面：1.采樣誤差：非均質(zhì)材料樣品的代表性2.樣品的制備：制樣技術(shù)的穩(wěn)定性產(chǎn)生均勻樣品的技術(shù)3.不適當(dāng)?shù)臉?biāo)樣：待測(cè)樣品是否在標(biāo)樣的組成范圍內(nèi)標(biāo)樣元素測(cè)定值的準(zhǔn)確度標(biāo)樣與樣品的穩(wěn)定性4.儀器誤差：計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現(xiàn)性5.不適當(dāng)?shù)亩繑?shù)學(xué)模型：不正確的算法元素間的干擾效應(yīng)未經(jīng)校正顆粒效應(yīng)純物質(zhì)的熒光強(qiáng)度隨顆粒的減小而增大，在多元素體系中，已經(jīng)證明一些元素的強(qiáng)度與吸收和增應(yīng)有關(guān)，這些效應(yīng)可以引起某些元素的強(qiáng)度增加和另一些元素的強(qiáng)度減小。