HN-100L回路電阻測(cè)試儀青島華能生產(chǎn)接觸電阻測(cè)試儀 生產(chǎn)廠家

公司根據(jù)IEC標(biāo)準(zhǔn)及新電力執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)DL/T845.4- 2004有關(guān)規(guī)定，發(fā)揮自身技術(shù)優(yōu)勢(shì)，精心研制的高精度、數(shù)字化開(kāi)關(guān)檢測(cè)儀器。該儀器采用高頻大功率恒流開(kāi)關(guān)電源技術(shù)，可測(cè)得微歐姆級(jí)接觸電阻。廣泛適用于開(kāi)關(guān)及電器的接觸電阻、回路電阻及電纜電線、焊縫接觸電阻的測(cè)量

二、 技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量范圍： 測(cè)量范圍：0—20000.00μΩ 

分辨率： 0.01μΩ

測(cè)量準(zhǔn)確度： ±（讀數(shù)×0.2%+0.01μΩ）

試驗(yàn)電源： 恒流限壓，約1.5V

試驗(yàn)電流： 直流，50/100A/200A/600A可選

試驗(yàn)電流精度： ±0.2%

測(cè)量時(shí)間： 快速、10~60秒可選

測(cè)量次數(shù)： >500次（充滿電，快速測(cè)量模式備選功能）

WLP(WaferLevelPackaging)：晶圓級(jí)封裝，是一種以BGA為基礎(chǔ)經(jīng)過(guò)改進(jìn)和提高的CSP，直接在晶圓上進(jìn)行大多數(shù)或是的封裝測(cè)試程序，之后再進(jìn)行切割制成單顆組件的方式。上述封裝方式中，系統(tǒng)級(jí)封裝和晶圓級(jí)封裝是當(dāng)前受到熱捧的兩種方式。系統(tǒng)級(jí)封裝因涉及到材料、工藝、電路、器件、半導(dǎo)體、封裝及測(cè)試等技術(shù)，在技術(shù)發(fā)展的過(guò)程中對(duì)以上領(lǐng)域都將起到帶動(dòng)作用促進(jìn)電子制造產(chǎn)業(yè)進(jìn)步。晶圓級(jí)封裝可分為扇入型和扇出型，IC制造領(lǐng)域巨頭臺(tái)積電能夠拿下蘋果A10訂單，其開(kāi)發(fā)的集成扇出型封裝技術(shù)功不可沒(méi)。

工作方式:連續(xù)測(cè)量

工作電源:AC220V±10%  50HZ

三、 儀器操作功能介紹

1、 電源開(kāi)關(guān)：“I”按下儀器開(kāi)始供電，“O”按下關(guān)斷儀器電源

2、 AC220V ：儀器供電源輸入端，本儀器采用交流220V供電

3、 I₊、 I- ：為電流輸出端子，通過(guò)測(cè)試線為試品提供恒定電流

4、 V₊、V-  ：為試品電壓信號(hào)的輸入端子

5、 液   晶 ：采用320X240真彩色液晶，強(qiáng)光下字體也可清晰觀察，顯示操 作設(shè)置，測(cè)試結(jié)果，接觸電阻值和輸出電流值

6、RS232：    串口輸出端

7、復(fù) 位 鍵 ：整機(jī)初始化，儀器處在準(zhǔn)備狀態(tài)

8、選 擇 鍵 ：按下此鍵，選擇儀器各項(xiàng)設(shè)置，測(cè)量結(jié)束可打印數(shù)據(jù)

9、循 環(huán) 鍵 ：主菜單循環(huán)選擇鍵或U盤存儲(chǔ)

9、確 認(rèn) 鍵 ：按下確認(rèn)鍵儀器開(kāi)始啟動(dòng)電流進(jìn)行測(cè)試

低功率的設(shè)備更適合使用低功率的電源。，電流一旦超過(guò)20mA就會(huì)損壞LED陣列樣品。此時(shí)需要電源能夠通過(guò)CV/CC跳變或OCP來(lái)限制電流，從而保護(hù)設(shè)備。CV/CC跳變可將電流保持在限定范圍內(nèi)，防止出現(xiàn)過(guò)流情況。消除了過(guò)流情況，電源就會(huì)回到正常的工作狀態(tài)。圖1是把電流限制在20mA以下的一個(gè)簡(jiǎn)單示例。圖1：表征CC極限值小于20mA的小型LED陣列的電壓和電流OCP是一種閉鎖功能。一旦電流超過(guò)20mA，輸出就會(huì)設(shè)為0伏并保持在零位。

按循環(huán)鍵光標(biāo)可在參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)查詢、時(shí)鐘修改、測(cè)量時(shí)間、選擇電流之間循環(huán)移動(dòng)，光標(biāo)在參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)查詢、時(shí)鐘修改時(shí)按選擇鍵可進(jìn)入選中菜單的下菜單，光標(biāo)在測(cè)量時(shí)間項(xiàng)按選擇鍵時(shí)間可在脈沖、30秒、1分鐘、5分鐘、10分鐘、連續(xù)之間循環(huán)移動(dòng)，任何時(shí)候按啟動(dòng)鍵可進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)，

六、 測(cè)量方法 

注意：測(cè)試鉗的連接面應(yīng)與試品可靠接觸，若發(fā)現(xiàn)接觸面有氧化現(xiàn)象，應(yīng)去除接觸面的氧化層。

1、接線方法：如圖二所示，將測(cè)試線按照顏色紅對(duì)紅，黑對(duì)黑，粗的電流線接到對(duì)應(yīng)的I+、I-接線柱扭緊，細(xì)的電源線插入到V+、V-的插座內(nèi)，兩把夾鉗夾住被測(cè)試品的兩端。

2、測(cè)量：接圖二完成接線后，打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)，選擇好測(cè)試時(shí)間進(jìn)行測(cè)試，儀器會(huì)自動(dòng)完成充電、穩(wěn)流和電阻測(cè)量。

x10檔結(jié)構(gòu)模型此時(shí)示波器輸入信號(hào)衰減為被測(cè)入信號(hào)的1/10。對(duì)于較高頻率的輸入信號(hào),容抗對(duì)于信號(hào)的影響會(huì)大于阻抗。，在x10檔時(shí)，輸入阻抗為10MΩ，輸入電容10pF，輸入信號(hào)的頻率為100MHz，此時(shí)，輸入容抗為Xc(Cp)=1/（2×π×f×C）=159Ω，此時(shí)容抗遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于阻抗，信號(hào)電流更多的會(huì)通過(guò)輸入電容提供的低阻回路，而高阻回路等效為旁路。作為測(cè)試的環(huán)節(jié)，能否將信號(hào)高保真的傳輸至示波器是能否準(zhǔn)確測(cè)試的重點(diǎn)，所以，在測(cè)試較高頻率信號(hào)時(shí)，需注意的帶寬和輸入電容是否合適，下表為ZDS2000系列示波器標(biāo)配參數(shù)。