HN1015A蓄電池充放電，活化測(cè)試儀 整組蓄電池充電放電測(cè)試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)接地故障探測(cè)儀試驗(yàn)方法

本儀器是針對(duì)整組蓄電池系列測(cè)試，不同規(guī)格型號(hào)對(duì)整組要求不同，具體根據(jù)儀表為準(zhǔn)。單體電池電壓為2V\12V（根據(jù)具體指標(biāo)定）的鉛酸蓄電池組進(jìn)行測(cè)試的儀器。

測(cè)試步驟介紹APD的工作模式分為線性模式和蓋革模式兩種。當(dāng)APD的偏置電壓低于其雪崩電壓時(shí)，對(duì)入射光電子起到線性放大作用，這種工作狀態(tài)稱為線性模式。在線性模式下，反向電壓越高，增益就越大。APD對(duì)輸入的光電子進(jìn)行等增益放大后形成連續(xù)電流，獲得帶有時(shí)間信息的激光連續(xù)回波信號(hào)。當(dāng)偏置電壓高于其雪崩電壓時(shí)，APD增益迅速增加，此時(shí)單個(gè)光子吸收即可使探測(cè)器輸出電流達(dá)到飽和，這種工作狀態(tài)稱為蓋革模式。工作在蓋革模式下的APD又被稱作SPAD。

1.4.1在線監(jiān)測(cè)測(cè)試：

步：連接單體電壓采集器。（詳見章節(jié)2.4）

步：把整組電壓測(cè)試線連接到電池組兩端。（詳見章節(jié)2.5）

步：插入電源，主機(jī)開機(jī)。

第四步：進(jìn)入在線監(jiān)測(cè)參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.1）

第五步：“確定”開始測(cè)試。

1.4.2 放電測(cè)試：什么是精密模擬微控制器？精密模擬微控制器（見）將高性能模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）和數(shù)模轉(zhuǎn)換器（DAC）與單芯片處理器和外圍設(shè)備集成在一起，用來增加對(duì)模擬電路的支持。精密模擬微控制器廣泛應(yīng)用于工業(yè)、儀表儀器、汽車和通信基礎(chǔ)設(shè)施等多種應(yīng)用。，電機(jī)控制等的應(yīng)用要求具有支持多個(gè)同步脈寬調(diào)制（PWM）定時(shí)器的特性。這類處理器包括8b（如8051）到32b（如ARM7）內(nèi)核。中精密模擬外圍設(shè)備決定了這種微控制器的類型，但數(shù)字外圍設(shè)備的對(duì)等補(bǔ)充也同樣需要。

步：連接單體電壓采集器（詳見章節(jié)2.4）。純負(fù)載不具此功能

步：放電開關(guān)，撥到分的位置(防止放電電纜反接，損壞儀器；反接告警提示)。

步：把放電線一端連到主機(jī)，另一端連到電池組兩端。（注意紅正黑負(fù)）。接反會(huì)告警提示。（詳見章節(jié)2.5）

第四步：把整組電壓測(cè)試線連接到電池組2端。

第五步：插入電源(電池組供電不用接AC220V電源，直接將放電開關(guān)撥到合的位置)，主機(jī)開機(jī)。

第六步：進(jìn)入放電參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.2）

第七步：將放電開關(guān)撥到合的位置（電池組供電省略此步驟）。

第八步：“確定”開始測(cè)試。

1.4.3容量快測(cè)（選配功能）紅外熱成像儀是一種常用的光學(xué)儀器，在多個(gè)領(lǐng)域中都有一定的應(yīng)用。隨著技術(shù)的不斷提高紅外熱成像儀的功能越來越，紅外熱像儀在治安和消防中的應(yīng)用也愈加廣泛。夜間及惡劣氣候條件下目標(biāo)的監(jiān)控在伸手不見五指的夜晚，基于可見光的監(jiān)視設(shè)備已經(jīng)不能正常工作，如果采用人工照明手段，則容易暴露目標(biāo)。若采用微光夜視設(shè)備，它同樣也工作在可見光波段，依然需要外界微弱光照明。而紅外熱成像儀是被動(dòng)接受目標(biāo)自身的紅外熱輻射，無論白天黑夜均可以正常工作，并且也不會(huì)暴露自己。

步：連接單體電壓采集器（詳見章節(jié)2.4）。

步：放電開關(guān)，撥到分的位置(防止放電電纜反接，損壞儀器；反接告警提示)。

步：把放電線一端連到主機(jī)，另一端連到電池組兩端。（注意紅正黑負(fù)）。接反會(huì)告警提示。（詳見章節(jié)2.5）

第四步：把整組電壓測(cè)試線連接到電池組2端。

第五步：插入電源，主機(jī)開機(jī)。

第六步：進(jìn)入容量快測(cè)參數(shù)設(shè)置。(詳見章節(jié)3.3）

第七步：將放電開關(guān)撥到合的位置。

第八步：“確定”開始測(cè)試。隨著電子技術(shù)的發(fā)展，器件的噪聲系數(shù)越來越低，放大器的動(dòng)態(tài)范圍也越來越大，增益也大有提高，使得電路系統(tǒng)的靈敏度和選擇性以及線性度等主要技術(shù)指標(biāo)都得到較好的解決。同時(shí)，隨著技術(shù)的不斷提高，對(duì)電路系統(tǒng)又提出了更高的要求，這就要求電路系統(tǒng)必須具有較低的相位噪聲，在現(xiàn)代技術(shù)中，相位噪聲已成為限制電路系統(tǒng)的主要因素。低相位噪聲對(duì)于提高電路系統(tǒng)性能起到重要作用。相位噪聲好壞對(duì)通訊系統(tǒng)有很大影響，尤其現(xiàn)代通訊系統(tǒng)中狀態(tài)很多，頻道又很密集，并且不斷的變換，所以對(duì)相位噪聲的要求也愈來愈高。整組蓄電池充電放電測(cè)試儀 HN1016B 直流系統(tǒng)接地故障探測(cè)儀試驗(yàn)方法