HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
雷電沖擊電壓發(fā)生裝置 HNCJ系列 充氣式試驗變壓器定制定做產(chǎn)品簡介：

沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗中。

適用范圍：變壓器、電抗器、互感器及其它高壓電器、高壓晶閘管閥SVC(HVDC)、電力電纜、各類高壓絕緣子、套管等試品的標準雷電沖擊，雷電截斷波，操作沖擊及用戶要求的非標準沖擊波的各類沖擊電壓試驗。一套設(shè)備就可產(chǎn)生多種試驗波形（標準的和非標準的波形，用戶提出來的波形）。 適用領(lǐng)域：質(zhì)檢鑒定計量檢測監(jiān)督機構(gòu)，電力設(shè)備制造廠，鐵路通信，航天和航天飛行器,科研單位，大專院校以及氣象等部門的防雷和雷電試驗。以120°為例，它有三個扇區(qū)。八十年代的天線還主要以單極化天線為主，而且已經(jīng)開始引入了陣列概念。雖然全向天線也有陣列，但只是垂直方向的陣列，單極化天線就出現(xiàn)了平面和方向性的天線。從形式來看，現(xiàn)在的天線和代的天線非常相似。1997年，雙極化天線（±45°交叉雙極化天線）開始走上歷史舞臺。這時候的天線性能相比上一代有了很大的提升，不管是3G還是4G，主要潮流都是雙極化天線。到了2.5G和3G時代，出現(xiàn)了很多多頻段的天線。

產(chǎn)品別稱：沖擊電壓發(fā)生器，雷電沖擊電壓發(fā)生器試驗裝置，雷電沖擊電流發(fā)生器，電壓發(fā)生器試驗裝置

我們把積分時間這個術(shù)語定義為熱像儀內(nèi)部熱成像探測器生成一個單幀的曝光時間。以較長的曝光時間來操作熱像儀能夠提高靈敏度，但與此同時，這也限制了熱像儀的測溫范圍：高溫物體如此明亮，以至于它們超出了熱像儀的規(guī)定測溫范圍。如果一個場景或一組連續(xù)鏡頭包含需要同時測量的溫差，熱像儀的曝光時間應(yīng)大大縮短。但由于超出了規(guī)定的測溫范圍，這種縮短本身會造成場景較冷區(qū)域溫差測量的能力下降，導(dǎo)致這些區(qū)域在屏幕上顯示為黑色或噪點，如至4所示。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

1、回路電感小，并采取帶阻濾波措施，在大電容量負載下能產(chǎn)生標準沖擊波，負載能力大。

2、電壓利用系數(shù)高，雷電波和操作波分別不低于85%和80%。

3、調(diào)波方便，操作簡單，同步性能好，動作可靠。使用組合透鏡系統(tǒng)對物體成像，實現(xiàn)加電時液晶透鏡區(qū)域清晰，具有大視場、局部高分辨率的效果。本文通過實驗測量模組光圈與液晶透鏡匹配、液晶透鏡位置等對于成像質(zhì)量的影響。研究方向：液晶透鏡成像系統(tǒng)測試目的：展示成像系統(tǒng)對于局部區(qū)域的清晰成像效果，測量不同位置、不同光圈下成像系統(tǒng)的MTF，其對于成像質(zhì)量的影響。測試設(shè)備:相機、鏡頭、函數(shù)發(fā)生器、功率放大器ATA-24組合透鏡系統(tǒng)放大器型號:AigtekATA-242實驗過程：1.實驗室制備液晶透鏡，并通過干涉法獲取波前信息，得到zernike系數(shù)，得到液晶透鏡的性能參數(shù)，以選擇合適的驅(qū)動電壓；組裝成像系統(tǒng)，對不同區(qū)域的物體進行成像實驗；使用ISO12233板對成像系統(tǒng)進行對焦測試，測試不同光圈、不同液晶透鏡位置的MTF值。雷電沖擊電壓發(fā)生裝置 HNCJ系列 充氣式試驗變壓器定制定做

4、采用恒流充電自動控制技術(shù)，自動化程度高，抗干擾能力強。