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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:沖擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ系列 變頻串聯(lián)諧振定制定做

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。沖擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ系列 變頻串聯(lián)諧振定制定做
詳情介紹:

HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
沖擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ系列 變頻串聯(lián)諧振定制定做沖擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ系列 變頻串聯(lián)諧振定制定做產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn),檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

適用范圍:變壓器、電抗器、互感器及其它高壓電器、高壓晶閘管閥SVC(HVDC)、電力電纜、各類高壓絕緣子、套管等試品的標(biāo)準(zhǔn)雷電沖擊,雷電截?cái)嗖?,操作沖擊及用戶要求的非標(biāo)準(zhǔn)沖擊波的各類沖擊電壓試驗(yàn)。一套設(shè)備就可產(chǎn)生多種試驗(yàn)波形(標(biāo)準(zhǔn)的和非標(biāo)準(zhǔn)的波形,用戶提出來(lái)的波形)。 適用領(lǐng)域:質(zhì)檢鑒定計(jì)量檢測(cè)監(jiān)督機(jī)構(gòu),電力設(shè)備制造廠,鐵路通信,航天和航天飛行器,科研單位,大專院校以及氣象等部門的防雷和雷電試驗(yàn)。其次檢測(cè)接閃器的高度、材料規(guī)格、安裝位置(易遭雷擊部位有無(wú)安裝)、防腐措施、連接形式與質(zhì)量等。另外還要檢查建筑物頂部接閃器、建筑物頂部外露的其他金屬物體、引下線是否電氣貫通;檢查接閃器上有無(wú)附著的其它電氣線路;檢查架空避雷線、網(wǎng)與被保護(hù)物距離是否符合要求等。接地電阻檢測(cè)。在測(cè)定電阻時(shí)須先估計(jì)電流的大小,選出適當(dāng)截面的絕緣導(dǎo)線,在預(yù)備試驗(yàn)時(shí)可利用可變電阻r調(diào)整電流,當(dāng)正式測(cè)定時(shí),則將可變電阻短路,由安培計(jì)和伏特計(jì)所得的數(shù)值可以算出接地電阻。

 

產(chǎn)品別稱:沖擊電壓發(fā)生器,雷電沖擊電壓發(fā)生器試驗(yàn)裝置,雷電沖擊電流發(fā)生器,電壓發(fā)生器試驗(yàn)裝置

波段為.9~1.7微米為短波紅外,本文將羅列一些實(shí)際應(yīng)用案例。識(shí)別人造材料由于人造材料在短波紅外波長(zhǎng)中有特的反射方式,這將有助于區(qū)分在可見光譜中肉眼看起來(lái)類似的材料。使其在影像中呈現(xiàn)更具體的類型區(qū)別。上圖阿爾及利亞某煉油廠,左圖為可見光影像;中圖為短波紅外影像,可通過(guò)顏色可辨別建筑材料成分;右圖顯示廠區(qū)有活躍的火舌?;馂?zāi)撲救很多物質(zhì)在短波紅外波段上具有特定的發(fā)射率和吸收特性,比如雪、冰、多種巖石及人造物質(zhì)等。沖擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ系列 變頻串聯(lián)諧振定制定做
HN
CJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

 

1、回路電感小,并采取帶阻濾波措施,在大電容量負(fù)載下能產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)沖擊波,負(fù)載能力大。

 

2、電壓利用系數(shù)高,雷電波和操作波分別不低于85%80%。

 

3、調(diào)波方便,操作簡(jiǎn)單,同步性能好,動(dòng)作可靠。端接測(cè)試點(diǎn)長(zhǎng)時(shí)間監(jiān)測(cè)異常ZDS4的時(shí)序軟件具備長(zhǎng)時(shí)間統(tǒng)計(jì)功能,下班后設(shè)置好示波器,對(duì)數(shù)據(jù)采集儀的SPI總線時(shí)序連續(xù)監(jiān)測(cè)一個(gè)晚上,天上班的時(shí)候,導(dǎo)出監(jiān)測(cè)結(jié)果,如所示,一個(gè)晚上總共進(jìn)行了72185次測(cè)量,其中有1347次是測(cè)量失敗的,導(dǎo)致異常的原因是SPI的數(shù)據(jù)建立時(shí)間不滿足后級(jí)芯片的時(shí)序要求。示波器自動(dòng)保存了這1347份失敗的測(cè)試報(bào)告,打開第1345份測(cè)試報(bào)告,如所示,顯示了當(dāng)前建立時(shí)間為3.75ns(包含時(shí)序違規(guī)處截圖),不滿足后級(jí)芯片4ns建立時(shí)間的要求,而且歷史出現(xiàn)差的時(shí)序是3.5ns,時(shí)序是8.5ns,問(wèn)題得以。沖擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ系列 變頻串聯(lián)諧振定制定做沖擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ系列 變頻串聯(lián)諧振定制定做沖擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ系列 變頻串聯(lián)諧振定制定做沖擊耐壓試驗(yàn)裝置 HNCJ系列 變頻串聯(lián)諧振定制定做

 

4、采用恒流充電自動(dòng)控制技術(shù),自動(dòng)化程度高,抗干擾能力強(qiáng)。

 


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