HN300電纜故障測試儀 電纜外護套故障測試儀 HN300系列 高壓電橋測距儀30年經驗

 用于35kV及以下不同等級、不同截面、不同介質及材質的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡性故障。可配合高壓設備實現傳統(tǒng)電纜故障測試的低壓脈沖法、沖擊閃絡法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實現人機互動。工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實現人機互動。否則,有可能造成光纜打滾折斷纖芯。分纖將光纖穿過熱縮管。將不同束管，不同顏色的光纖分開，穿過熱縮管。剝去涂覆層的光纖很脆弱，使用熱縮管，可以保護光纖熔接頭。打開古河S176熔接機電源，采用預置的42種程式進行熔接，并在使用中和使用后及時去除熔接機中的灰塵，特別是夾具，各鏡面和V型槽內的粉塵和光纖碎未。CATV使用的光纖有常規(guī)型單模光纖和色散位移單模光纖，工作波長也有1310nm和1550nm兩種。

技術參數

1. 采樣方法：低壓脈沖法、沖擊閃絡法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈沖寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設定

5. 沖擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏

上升和下降時間決定脈沖行為，因此也決定著雕刻速度。混合氣體中的氮會降低脈沖頻率至1kHz左右。這對于過去的很多應用已經足夠，但對于未來的需求來說是不夠的。典型的激光功率和時間關系圖顯示出±5~1%的偏差值。這不適合控制3D雕刻材料。被測試的激光器的激光指向穩(wěn)定性出奇的好，這對于聲光調制器的使用（對入射角非常敏感）將起著直接的影響。在接近聲光調制器的功率極限時，鍺晶體對的激光場模式非常敏感。

 四、工作原理

       本產品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發(fā)射一電脈沖，電脈沖將在電纜中勻速傳輸，當遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點），電脈沖將產生反射。測距主機將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進入屏保節(jié)能狀態(tài)。先測試出可控硅的峰值電壓，將電線正負極連接至K兩極，接地線接至室內主接地上，逐漸升壓，測試其漏電流數值。進行漏電測試后，逐漸升壓，觀測漏電流，當數值超過其額定峰值電壓后，可控硅被擊穿，但采用此方法可能會破壞其PN結，并且只能測試其是否導通，而不能測試其導通是否良好，故不再采用此法進行測試。搖表測試法用搖表對可控硅進行測量，參照之前使用的漏電檢測法。為防止搖表法測試過程中擊穿或損壞可控硅，改變搖表操作方法，即要對搖表電壓和轉速進行控制，兩筆端鏈接K極對其進行測試。

② 充電端口：用于連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用于連接采樣線。超級電容在電動車領域有著廣闊的應用前景，將是未來電動車發(fā)展的重要方向之一。超級電容的機理與特點超級電容是近期發(fā)展起來的一種新型儲能元件，是一種具有超級儲電能力、可提供強大脈動功率的物理二次電源，它與常規(guī)電容器不同，其容量可達數萬法。超級電容按儲能機理主要分為三類：由碳電極和電解液界面上電荷分離產生的雙電層電容;采用金屬氧化物作為電極，在電極表面和體相發(fā)生氧化還原反應而產生可逆化學吸附的法拉第電容;由導電聚合物作為電極而發(fā)生氧化還原反應的電容。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界面介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈沖”、“閃絡方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈沖”，根據測試需要，可選擇相應的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項，分別為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據測試距離選擇合適的脈寬，按對應的子菜單鍵可以對脈沖寬度進行選擇，儀器開機默認0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意：在高壓閃絡法測試中此項不做選擇。

當總線變?yōu)榭臻e時，若RXD引腳輸出低電平，則可能導致MCU接收到錯誤數據或MCU在正常數據后誤接收1個000。RSM485PCHT門限電平數據發(fā)生了什么變化?如所示，1在AB差分電壓處于±200mV門限電平之內時輸出高電平，2在AB差分電壓處于±200mV門限電平之內時輸出低電平，可以看出，2可能導致MCU接收到錯誤的數據，并且在數據后誤接收到1個000數據。數據后多000如所示，若總線上持續(xù)存在數據信號或連續(xù)發(fā)送多個字節(jié)數據，在數據之間存在的空閑狀態(tài)可能會被2識別為1個起始位，從而導致數據連續(xù)錯誤。