HN11C高壓開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試儀高壓開(kāi)關(guān)特性測(cè)試儀 HN11C系列 b型剩余電流保護(hù)器測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)
一、功能特點(diǎn) 

測(cè)試指標(biāo)：可測(cè)試國(guó)產(chǎn)（進(jìn)口）真空、六氟化硫、油高壓斷路器，負(fù)荷開(kāi)關(guān)、GIS接地刀閘開(kāi)關(guān)、接觸器、繼電器、空氣開(kāi)關(guān)等。合、分閘時(shí)間、同期、彈跳時(shí)間、次數(shù)、自動(dòng)重合閘、行程、速度、電流、動(dòng)作電壓等各項(xiàng)數(shù)據(jù)、波形。

抗擾通道：可抵御550KV變電所現(xiàn)場(chǎng)靜電干擾！上表所示為使用LabSat輸出上的多種外部衰減器，以UBLOXGPS引擎測(cè)得的C/No值。對(duì)于每項(xiàng)外部衰減器值，LabSatRF水平均按5dB的步階變化。根據(jù)表中所示，信噪比控制的線(xiàn)性度隨著外部衰減的增加而改善。但如果外部衰減遠(yuǎn)高于40dB，內(nèi)部可用的滑塊范圍就會(huì)減少。左側(cè)屏幕截圖所示為UBLOXU-Center軟件的輸出示例。GPGSVNMEA信息會(huì)打開(kāi)，以顯示每顆衛(wèi)星的C/NO水平。UBLOXTIM-LA裝置采用以下設(shè)置進(jìn)行測(cè)試：?LabSat?使用SatGen生成的靜態(tài)場(chǎng)景?2個(gè)20dBm衰減器(MinicircuitsVAT-20W2)針對(duì)TIM-LA，UBLOX數(shù)據(jù)表采用-138dBm用于捕獲靈敏度，-146dBm用于跟蹤靈敏度。

位移通道：1路位移信號(hào)采集，適配耐用的精密電阻線(xiàn)性位移、角位移傳感器。亦可適配用戶(hù)傳統(tǒng)自配的滑線(xiàn)電阻傳感器。

同步觸發(fā)：可響應(yīng)電壓、電流、傳感器、斷口變化多種同步觸發(fā)方式。具有無(wú)電位接點(diǎn)操作控制模塊，無(wú)彈跳接點(diǎn)，接點(diǎn)開(kāi)斷容量： 30A，250V（AC/DC）

操作界面：5.7″黑白液晶屏，菜單式操作，并在面板上增加了快捷設(shè)置按鍵。配備高精度激光傳感器，傳感器安裝迅速、快捷、簡(jiǎn)單；同時(shí)也可配置滑線(xiàn)電阻傳感器和角度傳感器；并配備齊全相關(guān)傳感器、斷路器的測(cè)試支架；，在測(cè)量電阻時(shí)，四線(xiàn)制測(cè)試法往往比兩線(xiàn)制測(cè)試法結(jié)果更。Fluke5系列的測(cè)試表筆就是采用了四線(xiàn)制測(cè)試的設(shè)計(jì)，但僅憑外觀判斷，不少工程師會(huì)誤以為這是兩線(xiàn)制測(cè)試的表筆，今天小福就帶大家來(lái)揭秘Fluke5系列蓄電池內(nèi)阻測(cè)試儀表筆暗藏的~簡(jiǎn)單科普一下兩線(xiàn)制測(cè)試和四線(xiàn)制測(cè)試的區(qū)別：兩線(xiàn)制測(cè)試原理：如下圖所示，此種連接方式即為典型的兩線(xiàn)制測(cè)試。其中被測(cè)電阻為Rb，兩根導(dǎo)線(xiàn)的饋線(xiàn)電阻分別為R1和R2，利用已知的I及V12，即可得到結(jié)果，但結(jié)果R=(R1+R2+Rb)，包含了饋線(xiàn)電阻，阻值比實(shí)際偏大。

速度定義：提供了常用的開(kāi)關(guān)速度定義庫(kù)和可編輯速度定義庫(kù)兩種模式可供用戶(hù)自行選擇。

錄波功能：12路普通金屬觸頭通斷、線(xiàn)圈電流；行程、時(shí)間波形。具有斷路器型號(hào)庫(kù)功能，測(cè)試時(shí)可直接調(diào)用數(shù)據(jù)庫(kù)斷路器型號(hào)，無(wú)需特別設(shè)置

U盤(pán)存儲(chǔ)：可將數(shù)據(jù)及波形文件快速存儲(chǔ)到U盤(pán)，直接用上位機(jī)軟件打開(kāi)。

在線(xiàn)幫助：儀器內(nèi)置豐富的接線(xiàn)、安裝、測(cè)試操作幫助。無(wú)說(shuō)明書(shū)就能簡(jiǎn)單使用。本文說(shuō)明了一種通用的集成電路RF噪聲測(cè)量技術(shù)。RF抗干擾能力測(cè)試將電路板置于可控制的RF信號(hào)電平下，RF電平代表電路工作時(shí)可能受到的干擾強(qiáng)度。從而產(chǎn)生了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化、結(jié)構(gòu)化的測(cè)試方法，使用這種方法能夠得到在質(zhì)量中可重復(fù)的測(cè)試結(jié)果。這樣的測(cè)試結(jié)果有助于IC選型，從而獲得能夠抵抗RF噪聲的電路。可以將被測(cè)器件(DUT)靠近正在工作的蜂窩，以測(cè)試其RF敏感度。為了得到一個(gè)的、具有可重復(fù)性的測(cè)試結(jié)果，需要采用一種固定的測(cè)量方法，在可重復(fù)的RF場(chǎng)內(nèi)測(cè)試DUT。