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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:直流開關(guān)試驗裝置 直流溫升試驗設(shè)備 JP柜溫升試驗系統(tǒng) 30年經(jīng)驗

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗及溫升試驗。直流開關(guān)試驗裝置 直流溫升試驗設(shè)備 JP柜溫升試驗系統(tǒng) 30年經(jīng)驗
詳情介紹:

HNDL系列全自動大電流發(fā)生器測試系統(tǒng)直流開關(guān)試驗裝置 直流溫升試驗設(shè)備 JP柜溫升試驗系統(tǒng) 30年經(jīng)驗
直流開關(guān)試驗裝置 直流溫升試驗設(shè)備 JP柜溫升試驗系統(tǒng) 30年經(jīng)驗
是青島華能遠(yuǎn)見有限公司自主研制開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用于母線槽、頻率
50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負(fù)載速斷試驗及溫升試驗。
則有效的保證了測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機測試單元包括:高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器(進(jìn)口件)、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控制器等部分。自動調(diào)壓輸出電流。在過去10余年里,車用半導(dǎo)體廠商開發(fā)出了若干個車門執(zhí)行機構(gòu)驅(qū)動器芯片,并隨著汽車電氣負(fù)載數(shù)量不斷增加,給這些產(chǎn)品增加了新功能,對封裝以及芯片制造技術(shù)和IP內(nèi)核進(jìn)行了優(yōu)化。在車門區(qū)電子元器件中,除驅(qū)動芯片()外,還有一個電源管理IC,為電控單元提供更強的系統(tǒng)電源,包括待機模式和通信層(主要是LIN和/或HSCAN)。電源管理芯片通常集成兩個低壓差穩(wěn)壓器,為系統(tǒng)微控制器和外設(shè)負(fù)載(傳感器等外設(shè))供電,還包含增強型系統(tǒng)待機功能,以及可設(shè)置的本地和遠(yuǎn)程喚醒功能。

直流開關(guān)試驗裝置 直流溫升試驗設(shè)備 JP柜溫升試驗系統(tǒng) 30年經(jīng)驗特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作;測試無需外接任何輔助設(shè)備,全自動控制,式操作,簡單方便。

2、 帶有自動穩(wěn)流系統(tǒng),工控機可實現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù),抗干擾能力強,輸出精度高,紋波系數(shù)小于0.2%,準(zhǔn)確度高于0.5%;。

4、 自動試驗只需設(shè)置好目標(biāo)電流即可,無需人工監(jiān)控,僅需設(shè)定測試電流,省去手動調(diào)壓,減小勞動強度,提高工作效率。運行時間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級:B

 直流開關(guān)試驗裝置 直流溫升試驗設(shè)備 JP柜溫升試驗系統(tǒng) 30年經(jīng)驗在很多情況下,引起密閉空間內(nèi)危險氣體存在的源頭也許并不在密閉空間之內(nèi)。比如,在很多煉油廠、化工廠中,設(shè)備中有毒(有毒氣體報警器)和(可燃?xì)怏w報警器)氣體的釋放是經(jīng)常存在的,而由于氣體的可流動性,一個區(qū)域的危險氣體釋放會很快擴散到其它區(qū)域,而在遇到密閉空間的結(jié)構(gòu)時,這些氣體就可能通過擴散、滲透、下沉等方式進(jìn)入密閉空間,因此在決定密閉空間進(jìn)入的有毒有害氣體檢測方法時,要充分考慮到所有可能的發(fā)生情況。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設(shè)定。

3. 輸出開口電壓:0-20V.

4.電流精度 :各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào),精度高于0.5級.電流電壓表顯示為真有效數(shù)值,精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于國標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護(hù)設(shè)置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。并可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判別。測時范圍:0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.直流開關(guān)試驗裝置 直流溫升試驗設(shè)備 JP柜溫升試驗系統(tǒng) 30年經(jīng)驗提供緊湊的體積和模塊化架構(gòu),在單個機箱中支持多達(dá)512個通道。提供寬泛的可編程驅(qū)動/檢測電壓范圍,支持傳統(tǒng)應(yīng)用和當(dāng)前技術(shù)應(yīng)用。靈活的架構(gòu),提供每個引腳的可編程性-化靈活性,適用于應(yīng)用。管理與這些數(shù)字子系統(tǒng)相關(guān)的功率要求和功耗是實現(xiàn)高可靠性的關(guān)鍵?,F(xiàn)代數(shù)字子系統(tǒng)采用兩個主要組件—高性能ASIC或FPGA,提供所有數(shù)字邏輯,定時和序列控制;和單片引腳電子(PE)器件,它們與數(shù)字邏輯接口,并為UUT或被測器件提供可編程電平()。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓,在將儀器后面電流輸出端子與被測品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。面板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側(cè)面空氣開關(guān),等待幾秒進(jìn)入試驗選擇界面如下圖:

電流輸出線與常閉觸點接入后,注急停按鈕不要按下,直接按啟動按鈕,即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗結(jié)束后,都要按下面板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動歸零位)

2) 自動升流就選擇進(jìn)入“自動試驗”界面如下圖:

自動試驗時,每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來設(shè)置輸出電流大小。做長時間運行可自由設(shè)定運行時間。如下圖:無校驗位,8位數(shù)據(jù)位,串口時序圖如所示為STM32串口外設(shè)檢測到起始位的條件,當(dāng)檢測到下降沿(3個高電平+1個低電平)并且采樣序列1和采樣序列2均為0時,STM32檢測到一個起始位。每個位采樣16次,采樣點的間隔時間為tbit/16,tbit為每個位的時間,通信波特率為115.2kbps,則tbit=1/115.2k=8.68us,則采樣點的間隔時間為8.68us/16=0.5425us。STM32串口外設(shè)檢測到起始位的條件下面以RSM485PCHT的門限電平為例進(jìn)行說明,當(dāng)AB差分電壓處于±200mV之內(nèi)時,模塊RXD引腳輸出狀態(tài)不確定。直流開關(guān)試驗裝置 直流溫升試驗設(shè)備 JP柜溫升試驗系統(tǒng) 30年經(jīng)驗

1.在連接儀器測試線前,應(yīng)先檢查各項調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時,電流輸出線一定要緊固。試驗時間300s。以雙路輸出為例,若主路帶滿載,而輔路帶額定負(fù)載10%以下,將導(dǎo)致輔路輸出電壓比起額定值高出較多;若主路帶額定負(fù)載10%以下,而輔路帶滿載,將導(dǎo)致輔路輸出電壓比額定輸出值低較多。另外,值得注意的是,若主路突然由重載變?yōu)楹茌p負(fù)載或相反,將導(dǎo)致輔路電壓出現(xiàn)下沖或上沖。很明顯這意味著,主路的“大動作”將可能導(dǎo)致輔路工作異常。模塊本身可以加更大的假負(fù)載,當(dāng)然這也會增加其損耗。在選擇電源模塊設(shè)計系統(tǒng)時,特別對于多路輸出模塊,應(yīng)考慮輕負(fù)載問題。直流開關(guān)試驗裝置 直流溫升試驗設(shè)備 JP柜溫升試驗系統(tǒng) 30年經(jīng)驗

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