HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗系統(tǒng) JP柜溫升試驗設(shè)備HNDL 交流溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修 

用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)柜進行試驗的要求?；谌龢O管架構(gòu)的PCA82C250/251已經(jīng)無法滿足汽車電子用戶要求。所以NXP公司推出了新一代基于JFET的TJA1040/1050T，不但可以與老的PCA82C250/251實現(xiàn)無縫升級，而且增加了待機模式功能與Split共模輸出功能。同時為了防止MCU死機而拉低TXD，在中增加了發(fā)送顯性超時關(guān)斷功能，所以TJA1040/1050的波特率只能到40Kbps，所以這就使得許多低波特率客戶（比如煤礦都是使用5Kbps）無法替換升級。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關(guān)柜及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少于24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

升溫速率的影響和選擇升溫速率不僅影響峰溫的位置，而且影響峰面積的大小，一般來說，在較快的升溫速率下峰面積變大，峰變尖銳。但是快的升溫速率使試樣分解偏離平衡條件的程度也大，因而易使基線漂移。更主要的可能導(dǎo)致相鄰兩個峰重疊，分辨力下降。較慢的升溫速率，基線漂移小，使體系接**衡條件，得到寬而淺的峰，也能使相鄰兩峰更好地分離，因而分辨力高。但測定時間，需要儀器的靈敏度高。一般情況下選擇8度min-1～12度min-1為宜。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）