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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP柜溫升測試儀HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。JP柜溫升測試儀HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) JP柜溫升測試儀HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

JP柜溫升測試儀HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。CAN總線應(yīng)用環(huán)境復(fù)雜多樣,可能會(huì)出現(xiàn)異常情況。本文列舉了常見的CAN接口異常情況及解決方法,幫您更加地及解決CAN接口應(yīng)用問題。常見異常及解決方法1.兩個(gè)節(jié)點(diǎn)近距離測試,低波特率通信正常,高波特率無法通信。可能原因:未加終端電阻。由于CAN收發(fā)芯片內(nèi)部CANCANL引腳為開漏驅(qū)動(dòng),如,在顯性狀態(tài)期間,總線的寄生電容會(huì)被充電,而在恢復(fù)到隱性狀態(tài)時(shí),這些電容需要放電。如果CANCANL之間沒有放置任何阻性負(fù)載,電容只能通過內(nèi)部阻值較大的差分電阻放電。

JP柜溫升測試儀HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

其次需要關(guān)注測量儀器的性如何,在不同量程范圍時(shí)測量儀器的準(zhǔn)確性是不同的,主要原因跟一定溫度范圍內(nèi)傳感器(熱敏電阻器)的精度相關(guān)。溫度分辨率即具體在數(shù)顯屏上顯示時(shí)候的分辨率,如.1℃,在一定量程范圍內(nèi),測溫儀的分辨率越小,測得溫度越??赐庥^這些測溫儀是否像他們保證的那樣?用于食品的測量技術(shù)必須符合當(dāng)前的標(biāo)準(zhǔn)和指令(HACCP,EN13485)。要對測量儀進(jìn)行適當(dāng)?shù)姆莱北Wo(hù)。IP65到底代表什么呢?IP是IngressProtection的縮寫,IP是用來認(rèn)定防護(hù)等級的代號,IP等級由兩個(gè)數(shù)字所組成,個(gè)數(shù)字表示防塵;個(gè)數(shù)字表示防水,數(shù)字越大表示其防護(hù)等級越佳。JP柜溫升測試儀HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP柜溫升測試儀HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)城建施工、洪水侵襲、人為破壞、地殼運(yùn)動(dòng)等人為行為或者天災(zāi)的破壞,都很容易造成光纖線路的故障。如何有效地保證光纖通信系統(tǒng)的可靠性,一直是一個(gè)有待解決的技術(shù)難題。本設(shè)計(jì)在光纖通信的基礎(chǔ)之上,通過對光纖通信監(jiān)測系統(tǒng)的可靠性進(jìn)行研究。以FPGA代替?zhèn)鹘y(tǒng)的MCU架構(gòu)完成數(shù)據(jù)的采集和處理,能完成高速的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集,測量誤差小,工作可靠性高。光纖通信系統(tǒng)的測量原理目前的光纖測量中,主要是要測量光纖的損耗和斷點(diǎn)。主要基于瑞利散射和菲涅爾反射兩種光學(xué)現(xiàn)象來進(jìn)行測量。JP柜溫升測試儀HNDL 大電流沖擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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