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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱(chēng):配電箱溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。配電箱溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

配電箱溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿(mǎn)足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。IoTCloudPlatform:無(wú)聯(lián)網(wǎng)云平臺(tái)DeviceSensors/Actuators:設(shè)備傳感器/執(zhí)行器NetworkGateway:網(wǎng)關(guān)Applications:應(yīng)用各元素有其自身特定的硬件和軟件要求:簡(jiǎn)化的物聯(lián)網(wǎng)視圖當(dāng)今物聯(lián)網(wǎng)的簡(jiǎn)化視圖如所示。左邊是物聯(lián)網(wǎng)中顯而易見(jiàn)的“聯(lián)接的”設(shè)備。

配電箱溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿(mǎn)足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

提高開(kāi)關(guān)密度和可擴(kuò)展性對(duì)開(kāi)發(fā)大型汽車(chē)發(fā)動(dòng)機(jī)和航天HIL測(cè)試系統(tǒng)至關(guān)重要?!盡ikeDewey,directorofmarketingatMarvinTestSolutions:“總體而言,我們看到高密度交換系統(tǒng)正繼續(xù)向像MACPanelSCOUT的無(wú)電纜界面轉(zhuǎn)移。高密度開(kāi)關(guān)切換系統(tǒng)需要高密度的I/O,從電纜接口轉(zhuǎn)移到無(wú)電纜接口以確保足夠的性能并提供可靠的接口??蛻?hù)要求的通道數(shù)越來(lái)越多,也就要求供應(yīng)商尋找更小體積的繼電器,以及識(shí)別更高密度的I/O連接,這對(duì)3U形式的PXI來(lái)說(shuō)是一個(gè)特別的挑戰(zhàn)。配電箱溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶(hù)具體需求配置)

序號(hào)

名稱(chēng)

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

配電箱溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)工程師甚至可以在診斷一個(gè)間歇故障之后,對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行更改,很快再進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試的結(jié)果可以對(duì)設(shè)計(jì)更改的影響進(jìn)行的驗(yàn)證。借助掃描系統(tǒng),電路板設(shè)計(jì)工程師可以預(yù)先測(cè)試和解決電磁兼容問(wèn)題,從而避免產(chǎn)生非預(yù)期的一致性測(cè)試結(jié)果。掃描儀的診斷功能可以幫助設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將輻射測(cè)試時(shí)間縮短兩個(gè)數(shù)量級(jí)以上。EMI近場(chǎng)輻射特性:SSCG示例某一大型半導(dǎo)體廠商在解串器的并行總線上實(shí)現(xiàn)了SSCG功能。SSCG功能能夠通過(guò)將輻射峰值能量擴(kuò)展到更寬的頻帶上來(lái)減少輻射。配電箱溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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